[工學(xué)]核輻射探測第五章-展示頁
2025-02-25 11:52本頁面
【正文】 相繼發(fā)生在符合分辨時(shí)間以內(nèi)的兩個(gè)事件，均可能使符合裝置產(chǎn)生一次符合計(jì)數(shù)。 另外也存在不相關(guān)的獨(dú)立事件相互符合，例如，有兩個(gè)原子核 同時(shí)衰變 ，其中一個(gè)原子核放出的β 粒子與另一個(gè)原子核放出的 γ 粒子 同時(shí) 分別被兩個(gè)探測器所記錄，這樣的事件就不是真符合事件。 反之，就沒有符合脈沖輸出。 實(shí)際上 任何符合電路 都有 確定 的 ?s ，它的大小與 輸入脈沖的寬度 有關(guān)。h?e?COINANTIBGOHPGe多道分析器 Gate 反符合： 消除符合事件的信號 。h?e? 記錄 入射 ?射線在探測器中能量全吸收的事件； 而 去除 發(fā)生康普頓散射、并且散射光子又發(fā)生逃逸的事件。只有分析道由脈沖輸入時(shí)反符合電路才有輸出。 反符合電路 中兩個(gè)輸入端分別為分析道和反符合道。 ?? ?An ? ?? ?An ?符合計(jì)數(shù)： conA ?????可得放射源的活度為： nnA ??? 由于本底同時(shí)進(jìn)入兩個(gè)探測器的幾率很?。欢壜?lián) ???是相關(guān)事件 ， 它們分別進(jìn)入兩個(gè)探測器的時(shí)刻一定是同時(shí)的 ， 則有： (2) 反符合 —— 用 反符合電路 來 符合事件脈沖的方法 反符合康普頓譜儀 為反符合電路的典型應(yīng)用。h?e?e?h?h?符合事件 ： 兩個(gè)或兩個(gè)以上在時(shí)間上相互關(guān)聯(lián)的事件。 如能獲得 ?能譜 ，可利用 ?譜的 全能峰面積 來 確定源活度 ， 對于 ? 射線同位素放射源絕對測量常用源峰效率 sp?得到源活度： spbs nnA??? 符合測量方法 符合方法 ： 用不同的探測器來判斷 兩個(gè) 或 兩個(gè)以上 事件的 時(shí)間上 的 同時(shí)性 或 相關(guān)性 的方法 。 ?射線強(qiáng)度的測量 ?射線 強(qiáng)度的測量 包括 ?輻射場 測量和 ?射線放射源活度 的測量。 為了減少本底 ,探測器和樣品都放在 鉛室 內(nèi) . 鉛壁厚度一般要大于 5mm 為了減少散射 ,鉛室內(nèi)腔要 足夠空曠 . 注意： 為了減少 β 在鉛中的韌致輻射 (χ), 鉛室內(nèi)壁有 一薄層鉛皮或塑料 (厚度約為 25mm) 為了減少源的支架及托板的散射和韌致輻射 ,它們都采用 低 Z材料作成 . 準(zhǔn)直器用來確定立體角 ,并可防止立體角以外的射線進(jìn)入探測器 . 探測器 采用 薄云母窗 的 鐘罩型 GM計(jì)數(shù)管 .也可以用 薄窗正比管、塑料閃爍探測器 (加 避光鋁鉑 ). 2) 4?計(jì)數(shù)法 流氣式 4?正比計(jì)數(shù)器 ； (適用于固態(tài)放射源 ) 內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)器 和 液體閃爍計(jì)數(shù)器 ；(適用于 14C、 3H等低能 ?放射性測量，將14C、 3H混于工作介質(zhì)中 ) 將 源 移到計(jì)數(shù)管 內(nèi)部 ，使計(jì)數(shù)管對源所張立體角為 4?，減小了 散射 、 吸收 和 幾何位置 的影響。 6) 本底計(jì)數(shù)率 （ nb） 0 sbn n n?? 對 ?、 ?放射性樣品活度的測量方法 1) 小立體角法 Tbs nnA???其中： ??? ffff bagT ?????對于 薄 ?放射性樣品， %1 0 0??1?af 1?bf對于 厚 ?放射性樣品和 ?放射性樣品的測量需考慮各種修正因子。有機(jī)膜的 Z較低 ,又很薄 ,散射可以忽略。 nnfd 計(jì)數(shù)率源沒有支承膜時(shí)測得的數(shù)率源有支承膜時(shí)測得的計(jì) 39。 使原本不射向探測器的射線 經(jīng)散射后進(jìn)入 靈敏區(qū)，使計(jì)數(shù)率增加 。 例如 β 射線： e xII mm?_0??mxm—— 物質(zhì)對這種 β 的質(zhì)量吸收系數(shù) —— β 穿過物質(zhì)的厚度 β 射線服從指數(shù)吸收規(guī)律 : ffff aaaa 窗空氣自?自吸收吸收因子 ： e xIIf mma ?_0??4) 散射因子 (fb) 放射性樣品發(fā)射的射線可被其 周圍介質(zhì) 所 散射 ，對測量造成影響。 幾何因子 fg還可以表示成： 因?yàn)?,放射性發(fā)射的是各向同性的實(shí)際進(jìn)入探測器僅是小立體角 Ω 內(nèi)的射線 .幾何因子為 ?4?)1(214 22 rhf hg??????2) 探測器的本征探測效率或靈敏度 (1) 對脈沖工作狀態(tài) ：本征探測效率 ? (2) 對電流工作狀態(tài) ：靈敏度 ? ％積的粒子數(shù)單位時(shí)間內(nèi)進(jìn)入靈敏體測到的脈沖計(jì)數(shù)率 100???入射粒子流強(qiáng)度值或電壓信號電流 )(?? ? ?單位照射量率/)( VA 有關(guān)因素：入射粒子的 種類 與 能量 ；探測器的種類、運(yùn)行狀況、幾何尺寸；電子儀器的狀態(tài)（如 甄別閾的大小 ）等。 相對法測量 ：需要一個(gè)已知活度 A0標(biāo)準(zhǔn)源 ， 在同樣條件下測量標(biāo)準(zhǔn)源和被測樣品的計(jì)數(shù)率 n0、 n， 根據(jù) 計(jì)數(shù)率與活度成正比 ， 可求出樣品的活度： A＝ A0n/n0。第五章 輻射測量方法 輻射測量對象： 放射性樣品 活度 測量； 輻射場量 的測量； 輻射能量或 能譜 的測量； 輻射 劑量 的測量； 位置 的測量 (輻射成像 )； 時(shí)間 的測量； 粒子鑒別等。 放射性樣品的活度測量 相對法測量和
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