【正文】 ket損壞 壓 2顆 IC 測太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不當(dāng) 線貨有問題 包裝有問題 膠體太厚 膠體太薄 POGO pin有問題 凹陷 線貨 yield不佳 太厚 太薄 測太久 壓 2顆 IC Contact壓力太大 L/Board有問題 L/B上焊點不佳 L/B斷線 豐田原則 像話原則 特性要因圖 為何 FT測試會有兩頭差異 Test head mount機不佳 Head與 handler mount機位置不佳 Tester位置不佳 head沒水平 Head水平位置不正 支撐架支撐不當(dāng) 太緊 太鬆 Contact不良 Contact壓力不當(dāng) 太大 太小 Socket不良 Socket阻 值太大 測太久 氧化 沾有異物 Socket損壞 壓 2顆IC 測太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不當(dāng) 太厚 太薄 測太久 壓 2顆 IC Contact壓力太大 豐田原則 像話原則 要因分析 Testing I / R340 小 要 因 控制力 技術(shù)力 因子( 母數(shù) )*1 ( 強 )*2 代號Supporter √ + ATest Head 水平角度 √ + BSocket 測試次數(shù) √ Δ CDrop In Test √ Δ DMachine Speed √ Δ FContact Pressure √ + G實驗因子篩選表 因子選擇 步驟一 : 控制力篩選 步驟二 : 技術(shù)性篩選 母數(shù) 1. 水 準(zhǔn)可被指定 2. 指定之水準(zhǔn)有自主權(quán) ? 策略一 : 第一階段實驗 – 篩選主要因子 ? 策略二 : 第二階段實驗 – 找出最佳生產(chǎn)條件 ? 策略三 : 再現(xiàn)性實驗 實驗策略 有清楚的實驗策略 比急著去做實驗更重要 第一階段實驗 R340 直交配置 Testing I / R340 因子 代號 交互作用1 2Supporter A A1 A2Test Head 水平角度 B B1 B2Socket 測試次數(shù) C C1 C2Drop In Test D D1 D2Machine speed F F1 F2Contact Pressure G G1 G2水準(zhǔn)實驗因子篩選表 實驗策略 :篩選主要因子 第一階段實驗 目的 : 篩選因子 因子 : 多 水準(zhǔn) : 少 ANOVA 結(jié)果 : 顯著 建議配置 : 2N 型 (L16) 直交配列表 配 置 C D C F B A因 子 G C G D G D e e e F G B G G A1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 51 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 12 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2 2 2 2 23 1 1 1 2 2 2 2 1 1 1 1 2 2 2 24 1 1 1 2 2 2 2 2 2 2 2 1 1 1 15 1 2 2 1 1 2 2 1 1 2 2 1 1 2 26 1 2 2 1 1 2 2 2 2 1 1 2 2 1 17 1 2 2 2 2 1 1 1 1 2 2 2 2 1 18 1 2 2 2 2 1 1 2 2 1 1 1 1 2 29 2 1 2 1 2 1 2 1 2 1 2 1 2 1 21 0 2 1 2 1 2 1 2 2 1 2 1 2 1 2 11 1 2 1 2 2 1 2 1 1 2 1 2 2 1 2 11 2 2 1 2 2 1 2 1 2 1 2 1 1 2 1 21 3 2 2 1 1 2 2 1 1 2 2 1 1 2 2 11 4 2 2 1 1 2 2 1 2 1 1 2 2 1 1 21 5 2 2 1 2 1 1 2 1 2 2 1 2 1 1 21 6 2 2 1 2 1 1 2 2 1 1 2 1 2 2 1Testing I / R340 1 2 13 15 10 4 12 14 11 3 5 6 G B A F D C e 7 9 8 L16 2 點線圖 15 Experiment Plan 實驗隨機編號 實驗配置順序 ASupporter BTester 水平角度 CSocket測試次數(shù) DDrop In 測試 FMachine 速度 GContact 壓力 1 4 A1 B1 C1 D2 F2 G1 2 5 A2 B1 C2 D1 F2 G1 3 11 A1 B2 C1 D2 F1 G2 4 12 A2 B1 C1 D2 F2 G2 5 14 A2 B2 C2 D1 F1 G2 6 2 A2 B2 C1 D1 F2 G1 7 1 A1 B1 C1 D1 F1 G1 8 8 A2 B1 C2 D2 F1 G1 9 9 A2 B1 C1 D1 F1 G2 10 3 A2 B2 C1 D2 F1 G1 11 16 A1 B1 C2 D2 F1 G2 12 6 A1 B2 C2 D1 F1 G1 13 7 A1 B2 C2 D2 F2 G1 14 10 A1 B2 C1 D1 F2 G2 15 13 A1 B1 C2 D1 F2 G2 16 15 A2 B2 C2 D2 F2 G2 Testing I / R340 Testing Result Testing I / R340 順序site_1 bin_2 bin_3 bin_4 site_2 bin_2 bin_3 bin_4 兩頭差異 BIN_1 YIELD1 290 3 0 7 279 16 0 5 11 569 %2 292 4 0 4 285 11 1 3 7 577 %3 287 4 0 9 284 7 1 8 3 571 %4 287 5 1 7 245 18 2 35 42 532 %5 289 4 1 6 277 14 0 9 12 566 %6 292 4 1 3 256 10 4 30 36 548 %7 287 5 1 7 241 43 0 16 46 528 %8 291 6 0 3 269 20 0 14 22 560 %9 295 1 0 4 290 7 1 2 5 585 %10 290 6 0 4 282 12 1 5 8 572 %11 284 7 3 6 288 6 0 6 4 572 %12 288 4 1 7 284 10 1 5 4 572 %13 288 6 2 4 280 7 0 13 8 568 %14 288 6 1 5 287 5 5 3 1 575 %15 261 6 2 31 269 8 0 23 8 530 %16 277 4 4 15 278 13 1 8 1 555 %ANOVA analysis (1) Testing I / R340 F A C T O R Si DF V F 貢獻度 39