【正文】 。 顯示電路選擇 方案 1：采用數(shù)碼管。637AD 無疑是理想的真有效值理想器件，但其價格較貴，會大大提高系變化的正弦信號，也能準確的輸出有效值，這樣以來，通過 AD 轉(zhuǎn)換就能準確的檢測最大 值。此方案實現(xiàn)簡單，頻率穩(wěn)定度高。 信號源方案選擇 方案 1： 選用單片壓控函數(shù)發(fā)生器 038MAX 。 手動開關(guān)是我們在生活中常見的一種開關(guān)，簡單實用。 LOLOLO VVV ?? (3 22)? 其中2 OXFi iLOLO AARR RVV ??? 239。 OVV?? (3 13)? 圖 為 OV 單獨作用 時的 等效 電路 圖 。 則有被測運放反向端輸入電壓為 IOVVV ?? ?? 39。 按定義設(shè)計的電路測量差模開環(huán)增益時，因為開環(huán)電壓增益通常很高，故要求輸入電壓很小 (幾百微伏 )才能保證對輸入信號線性放大。得到改頻率值，并顯示出來。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能 。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能。 1986年中國科學院計算技術(shù)研究所研制成功了 ICT2 LSI/VISI綜合測試系統(tǒng)，功能測試速率 10MHz/20MHz，通道數(shù) 48。用導線連接、撥動開關(guān)、二極管矩陣等方法，編制自動測試 序列，僅僅測量 IC 外部管腳的直流參數(shù)。而參數(shù)測試是對集成電路的各項參數(shù)進行測試，看測試讀取的參數(shù)是否符合集成電路的設(shè)計要求。 IOV ； IOI ； VDA ； CMRK ； GBW ； Parameters。 本人簽名： 日期： 集成運放參數(shù)測試儀 目 錄 摘 要 ............................................................................... 8 Abstract ............................................................................. 9 1 緒論 .............................................................................. 10 集成運放參數(shù)測試概述 ........................................................ 10 集成運放參數(shù)測試儀的發(fā)展趨勢 ................................................ 10 ......................................................... 11 2 系統(tǒng)設(shè)計思想 ...................................................................... 11 系統(tǒng)總體設(shè)計方案 ............................................................ 11 系統(tǒng)框圖 .................................................................... 12 系統(tǒng)軟件流程圖 .............................................................. 12 ........................................... 12 系統(tǒng)主程序流程圖 ...................................................... 13 3 系統(tǒng)各模塊電路分析與論證 .......................................................... 14 測量電路方案選擇 ............................................................ 14 IOV 、 IOI 電參數(shù)測試原理與測試原理圖 .................................... 14 VDA 電參數(shù)的測試原理與測試原理圖 ....................................... 16 CMRK 電參數(shù)的測試原理與測試原理 ....................................... 17 GBW 電參數(shù)的測試原理與測試原理圖 ...................................... 18 開關(guān)電路方案選擇 ............................................................ 18 ............................................................... 19 交直流轉(zhuǎn)換電路選擇 .......................................................... 19 AD轉(zhuǎn)換電路選擇 .............................................................. 19 ................................................................ 20 4系統(tǒng)硬件實現(xiàn) ...................................................................... 20 .................................................................. 20 .................................................................. 22 AD轉(zhuǎn)換電路 ...................................................... 25 、鍵盤和單片機接口電路。 2．基本內(nèi)容和技術(shù)方案： 該系統(tǒng)意以 AVR系列單片機 ATMEGA128為控制核心，適當?shù)馗淖儑鴺?823442?GB 運放測試電路連接而成，利用繼電器切換的方式，實現(xiàn)了自動測量的功能。隨著數(shù)字技術(shù)的不斷進步和集成電路市場的發(fā)展．兼有模擬和數(shù)字集成電路的 SOC 或混合集成電路將越來越受重視。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能（具體技術(shù)指標詳見 畢業(yè)設(shè)計（論文）選題審 核表） 。 2. 運算放大器應用電路設(shè)計 （日）馬場清太郎著 何希才譯 科學出版社 2020 3. LC 濾波器設(shè)計與制作 森榮二 、 薛培鼎譯 科學出版社 4. 模擬電子技術(shù)基礎(chǔ) 童詩白 、 華成英 高等教育出版社 2020 5. 運算放大器應用技術(shù)手冊 張樂峰 、 張鼎等譯 人民郵電出版社 指導教師簽名： 鐘學斌 教研室主任簽名： 集成運放參數(shù)測試儀 畢業(yè)設(shè)計 (論文 )開題報告 題目 集成運放參數(shù)測量儀設(shè)計 1．目的及意義（含國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀分析）： 運算放大器是具有高開環(huán)放大倍數(shù)并有深度負反饋的多級直接耦合放大電路。 而 國標 823442?GB 運放測試電路，由于其電路結(jié)構(gòu)簡單，測量精確，被廣泛的采用。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能 。該系統(tǒng)通過 ADC 采集得到一系列運放的輸出電壓，通過軟件計算，可以得到運放的 IOV （輸入失調(diào)電壓）、 IOI （輸入失調(diào)電流）、 VDA （交流差模開環(huán)電壓增益）、 CMRK （ 交流共模抑制比）和 GBW （單位增益帶寬）等參數(shù)并且使用液晶顯示屏 1602LCD 顯示。 與此同時，集成運放參數(shù)的測定也將對研發(fā)人員和技術(shù)儀器提出更高的要求，傳統(tǒng)的運放測試儀校準方案已不能滿足市場特別是國防軍工的要求．運放測試儀的校準面臨嚴峻挑戰(zhàn)。集成電路測試技術(shù)也是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一。從 1975 年開始，測試對象為大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路（ LSI/VLSI），不但能有效地測量 CMOS 電路，也能有效地測量 TTL、 ECL 電路。繼而北京科力公司研制和生產(chǎn)測試速率 、 64通道大規(guī)模數(shù)字集成電 路測試系統(tǒng)。 AD轉(zhuǎn)換電路采用 AD轉(zhuǎn)換芯片 LTC2400與真有效值轉(zhuǎn)換芯片 AD637共同搭建，正弦信號首先經(jīng)過 AD637，轉(zhuǎn)換成真有效值的直流信號后 ，經(jīng) AD轉(zhuǎn)換芯片 LTC2400，被單片機讀取，這樣比直接對正弦信號進行 AD 轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的誤差小得多。 集成運放參數(shù)測試儀 第 12 頁 共 38 頁 系統(tǒng)框圖 被 測 運 放 測 試 電 路 信 號 處 理 A / D 轉(zhuǎn) 換單 片 機D D S 信 號 發(fā)生 器控 制 電 路L C D 顯 示鍵 盤 模 塊 圖 內(nèi)容要寫 如圖 ，整個系統(tǒng)以單片機為核心協(xié)調(diào)工作。測試完成后，返回等待，下一個鍵按下。 以下對國家 823442?GB 標準各參數(shù)測試原理圖進行分析。(21 2 IOOXOLO VVRR RAAVAV ????? ?? 3 4)?由輔助運放反饋到被測運放的反相端的電壓為 LOFi i VRR RV ???39。 則 SL VRRR RV ???? 21 2 在設(shè)計中取 LRRR ??? 21 ，此時有 2 SVV ?? (3 14)? 則輔助運放同向輸入端電壓為 圖 R LR 1R 2OV V??R 1R 2R LV???集成運放參數(shù)測試儀 第 17 頁 共 38 頁 2239。? (3 29)? 測得此時信號源的頻率為 Cf ，則被測運放的單位增益帶寬為：CiFG fRRBW ? (3 30)? 這種測試框架結(jié)構(gòu)簡單，且 成功系數(shù)高，調(diào)試方便，成本低。 方案 2： 使用模擬開關(guān)來進行功能切換。 要求產(chǎn)生 MHzKHz 10~1 的信號，用鎖相環(huán)直接產(chǎn)生這么寬的范圍很困難，所以先產(chǎn)生 MHzMHz 60~50 的可調(diào)信號，然后把此信號與一個 MHz50 的本振混頻，得到需要的頻率。 交直流轉(zhuǎn)換電路選擇 方案 1： 采用峰值檢波電路 。 現(xiàn)在很多單片機都集成了內(nèi)部 AD C，利用單片機內(nèi)部 AD 可以簡化電路，節(jié)約成本，集成運放參數(shù)測試儀 第 20 頁 共 38 頁 充分的利用單片的片內(nèi)資源。 1602LCD 液晶顯示器能夠顯示兩行十六 個字符，使用較為方便，但是無法顯示漢字。 信號源電路 圖 9851AD 引腳圖，引腳說明如下 7~0 DD ： 數(shù)據(jù)輸入口，給內(nèi)部寄存器裝入 40位控制數(shù)據(jù)。 IOUTIOUTB/ ：互補 /內(nèi)部 DAC 輸出。 2RP 控制 9851AD 的 DAC 輸出電流大小，并滿足下式 SETOUT RI? (3 31)? OUTI 的 DAC 的輸出基準電流。 PH ：模式設(shè)置端口，不同模式輸出頻率不同。 3U 、 4U 采用 TI公司的高速運放 4631THS ，其單位增益帶寬為 MHz325 ， 這保證了在輸出信號源頻率在 MHzKHz ~40 范圍內(nèi)變化時 4631THS 輸出信號的穩(wěn)定性，更好的共后級電路使用。 OFFSET ：輸出補償端口。 NC ：空引腳。 0F ：數(shù)字輸入腳，用于選擇需要抑制的頻率和 AD 轉(zhuǎn)換時間。此后將 2400LTC 自動開始新的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和重