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集成運放參數(shù)測量儀設計-全文預覽

2025-09-28 09:05 上一頁面

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【正文】 (3 8)? ( 2)、在已測出輸入失調電壓 IOV 的后,斷開 1K 、 2K ,測得輔助運放的輸出電壓為 1LV 由式(3 8)可知,LOFi iIO VRR RV ???,取 LOFi iLOFi iIO VRR RVRR RV ????? || (3 9)? 則此時輔助運放的輸出電壓為 iFiIOIOL R RRRIVV ??? )(1 iFiIOLOFii R RRRIVRR R ???? )( (3 10)? 則測得被測運放的輸入失調電流為:RVVRR RI LOLFi iIO ???? 1 ( 11) 集成運放參數(shù)測試儀 第 16 頁 共 38 頁 VDA 電參數(shù)的測試原理與測試原理圖 R iR iR 1R FR FR 2數(shù) 字 示 波 器被 測 運 放 輔 助 運 放R L信 號 源SVV OV +VBV L0V 圖 VDA 電參數(shù)測試原理圖 設信號源的輸出電壓峰峰值為 SV ,被測運放和輔助運放的開環(huán)放大倍數(shù)分別為 XA 、 OA ,被測運放反向輸入端電壓為 ?V ,被測運放的輸出電壓為OV ,輔助運放同向輸入端電壓為 ?V 。 則有被測運放反向端輸入電壓為 IOVVV ?? ?? 39。 IOV 、 IOI 電參數(shù)測試原理與測試原理圖 RR iR iRR 1R FK 1K 2R 2V V ? OV L0V+V數(shù) 字 電 壓 表( 4 位 半 以 上 )被 測 運 放 輔 助 運 放 圖 IOV、I電參數(shù)測試原理圖 (1)在 1K 、閉 2K 合時測得輔助運放的輸出電壓為 LOV 。 按定義設計的電路測量差模開環(huán)增益時,因為開環(huán)電壓增益通常很高,故要求輸入電壓很小 (幾百微伏 )才能保證對輸入信號線性放大。 流程要用文字描述 3 系統(tǒng)各模塊電路分析與論證 測量電路方 案選擇 方案 1: 采用集成運放參數(shù)的定義設計測試電路。得到改頻率值,并顯示出來。通過按鍵選擇測量參數(shù),通過 ADC采集 一系列運放的輸出電壓,通過軟件計算,可以得到運放的各種參數(shù)。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能 。 LTC2400 與 AD637都是高精度器件,保證了測量精度。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能。此后不久,光華無線電儀器廠又研制成功功能測試速率為 10MHz的 16M位 RAM存儲器測試儀,大規(guī)模測試系統(tǒng)獲得長足的發(fā)展。 1986年中國科學院計算技術研究所研制成功了 ICT2 LSI/VISI綜合測試系統(tǒng),功能測試速率 10MHz/20MHz,通道數(shù) 48。此時作為獨立發(fā)展的半導體自動測試設備,無論其軟件、硬件都相 當成熟。用導線連接、撥動開關、二極管矩陣等方法,編制自動測試 序列,僅僅測量 IC 外部管腳的直流參數(shù)。因此,集成電路測試儀作為一個測試門類受到很多國家的高度重視。而參數(shù)測試是對集成電路的各項參數(shù)進行測試,看測試讀取的參數(shù)是否符合集成電路的設計要求。因此,提高運放測試儀的測試精度,保證運放器件的準確性是目前應解決的關鍵問題。 IOV ; IOI ; VDA ; CMRK ; GBW ; Parameters。為 2400LTC 了保證測量的精度,該系統(tǒng)采用外接 凌力爾特公司的 24 位高精度 AD 轉換芯片。 本人簽名: 日期: 集成運放參數(shù)測試儀 目 錄 摘 要 ............................................................................... 8 Abstract ............................................................................. 9 1 緒論 .............................................................................. 10 集成運放參數(shù)測試概述 ........................................................ 10 集成運放參數(shù)測試儀的發(fā)展趨勢 ................................................ 10 ......................................................... 11 2 系統(tǒng)設計思想 ...................................................................... 11 系統(tǒng)總體設計方案 ............................................................ 11 系統(tǒng)框圖 .................................................................... 12 系統(tǒng)軟件流程圖 .............................................................. 12 ........................................... 12 系統(tǒng)主程序流程圖 ...................................................... 13 3 系統(tǒng)各模塊電路分析與論證 .......................................................... 14 測量電路方案選擇 ............................................................ 14 IOV 、 IOI 電參數(shù)測試原理與測試原理圖 .................................... 14 VDA 電參數(shù)的測試原理與測試原理圖 ....................................... 16 CMRK 電參數(shù)的測試原理與測試原理 ....................................... 17 GBW 電參數(shù)的測試原理與測試原理圖 ...................................... 18 開關電路方案選擇 ............................................................ 18 ............................................................... 19 交直流轉換電路選擇 .......................................................... 19 AD轉換電路選擇 .............................................................. 19 ................................................................ 20 4系統(tǒng)硬件實現(xiàn) ...................................................................... 20 .................................................................. 20 .................................................................. 22 AD轉換電路 ...................................................... 25 、鍵盤和單片機接口電路。測量電路采用 國標823442?GB 運放 測試電路, AD 轉換電路采用 AD 轉換芯片 2400LTC 與真有效值轉換芯片637AD 共同搭建,信號源電路采用 DDS 芯片 9851AD 搭建,整個系統(tǒng)的核心控制器采用 AVR系列單片機 ATMEGA128。 2.基本內容和技術方案: 該系統(tǒng)意以 AVR系列單片機 ATMEGA128為控制核心,適當?shù)馗淖儑鴺?823442?GB 運放測試電路連接而成,利用繼電器切換的方式,實現(xiàn)了自動測量的功能。本設計所采用的也是國標 823442?GB 運放測試電路。隨著數(shù)字技術的不斷進步和集成電路市場的發(fā)展.兼有模擬和數(shù)字集成電路的 SOC 或混合集成電路將越來越受重視。它首先應用于電子模擬計算機上,作為基本運算單元,可以完成加減、乘除、積分和微分等數(shù)學運算。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能(具體技術指標詳見 畢業(yè)設計(論文)選題審 核表) 。該系統(tǒng)主要由參數(shù)測試電路、繼電器開關切換電路、 AD 轉換電路、液晶顯示電路、單片機控制器電路組成。 2. 運算放大器應用電路設計 (日)馬場清太郎著 何希才譯 科學出版社 2020 3. LC 濾波器設計與制作 森榮二 、 薛培鼎譯 科學出版社 4. 模擬電子技術基礎 童詩白 、 華成英 高等教育出版社 2020 5. 運算放大器應用技術手冊 張樂峰 、 張鼎等譯 人民郵電出版社 指導教師簽名: 鐘學斌 教研室主任簽名: 集成運放參數(shù)測試儀 畢業(yè)設計 (論文 )開題報告 題目 集成運放參數(shù)測量儀設計 1.目的及意義(含國內外的研究現(xiàn)狀分析): 運算放大器是具有高開環(huán)放大倍數(shù)并有深度負反饋的多級直接耦合放大電路。 集成運放以其價格低廉、性能優(yōu)越等特點在個人數(shù)據(jù)助理、通信、汽車電子、音響產品、儀器儀表、傳感器等領域得到廣泛應用。 而 國標 823442?GB 運放測試電路,由于其電路結構簡單,測量精確,被廣泛的采用。本設計采用凌利而特公司生產的 24 位高精度 AD 轉換芯片 2400LTC ,實現(xiàn)了對輸出電壓信號的精確測量,進而保證了測量精度。實現(xiàn)了自動切換、精確測量以及顯示的功能 。本人 完全意識到本聲明的法律后果由本人承擔。該系統(tǒng)通過 ADC 采集得到一系列運放的輸出電壓,通過軟件計算,可以得到運放的 IOV (輸入失調電壓)、 IOI (輸入失調電流)、 VDA (交流差模開環(huán)電壓增益)、 CMRK ( 交流共模抑制比)和 GBW (單位增益帶寬)等參數(shù)并且使用液晶顯示屏 1602LCD 顯示。 關鍵詞 :運放; IOV ; IOI ; VDA ; CMRK ; GBW ;參數(shù); 集成運放參數(shù)測試儀 第 9 頁 共 38 頁 Abstract Integrated operational amplifier bandwidth and disorders are important performance indicators to measure the performance of an opamp. This design under MCU control, properly change the opamp test circuit connection, is obtained by collecting a series of operational parameters of physical quantities. Through calculation, we can get the opamp parameters such asIOV 、 IOI 、 VDA 、 CMRK and GBW and record parameters such as live right IOV 、 IOI 、 VDA 、 CMRK and GBW and has the function of automatic measurement. System builtin signal source, can output high stability of the sinusoidal signal. System consists of control module and system framework.
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