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gbm-6工程能力分析(完整版)

2025-03-22 16:46上一頁面

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【正文】 TA做工程能力分析。脫離規(guī)格的程度。 ZLT = 216。?累積不良率 CHART(Cumulative%Defective)是 確認(rèn)數(shù)據(jù)是否具備對不良率提供穩(wěn)定推定值, 在圖中樣品 10開始累積不良率沒有大的變動 而連接,并越來越接近于平均,因此可以 判斷對不良率的推定確保了充分的數(shù)據(jù)。指定對每單位缺陷數(shù)的目標(biāo)值知道對母集團(tuán)缺陷數(shù)平均時,輸入其值。 ZST = + = 程度Capability Analysis(Poisson) 結(jié)果解釋Step 2Measure工程能力分析 30Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 工程能力分析實(shí)習(xí)1. 實(shí)習(xí)時間 : 30分2. 目的3. 1) Data收集方法4. 2) 理解 Minitab 分析方法 5. 3) 算出 ? 水準(zhǔn) 3. 準(zhǔn)備物4. 1) 部品 : 螺絲 100個 (相同規(guī)格 20個箱子 20 Lot的意思 )5. 2) 儀器 : Digital Vernier Callipers4. 主要內(nèi)容5. 1) CTQ : 螺絲的長度6. 2) 輸出物 : Cp, Ppk, ?水準(zhǔn)Measure工程能力分析 31Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 5. 基本要領(lǐng)及步驟 1) 從 20個箱子里抽出相同規(guī)格的螺絲各 5個 ? 區(qū)分各 5個 2) Minitab輸入 Data 作成 Sheet 3) 測定方法 ? 一名測定者把各個部品測定一次,其 Data輸入到 Sheet : 按 5個捆后測定 4) Minitab data 分析 ? Capability Analysis(Normal) Subgroup size : 5 Lower spec 及 Upper spec是講師指定 5) 組別分析結(jié)果發(fā)表Measure工程能力分析 32Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 演講完畢,謝謝觀看!。? 在累積計 DPU CHART(Cumulative DPU)中可以 確認(rèn) DATA是否具備對 DPU提供穩(wěn)定推定值。 115,000 DPMO相應(yīng)的 ZLT = 216。Measure工程能力分析 24Proprietary to Samsung Electronics Company Rev Capability Analysis(Binomial) 下列數(shù)據(jù)表示某二次電池生產(chǎn)業(yè)體焊接后因 Leakage所發(fā)生的不良品數(shù), 并計算了工程能力。Capability Analysis(Normal)Measure工程能力分析 21Proprietary to Samsung Electronics Company Rev ?? 算出算出 Z值值 觀察利用觀察利用 Minitab 輸出輸出 Z值的過程。分析。工程能力指數(shù)? ,Measure工程能力分析 8Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 合理的部分群 (Rational Subgroup)合理的部分群意味著根據(jù)部分群構(gòu)成原則而構(gòu)成的部分群,形成合理的部分群因此能準(zhǔn)確地確認(rèn)工程的固有能力。工程能力分析Proprietary to Samsung Electronics Company Rev MeasureDefine Analyze Improve Control方法
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