【正文】 制限 88 ?C過程控制解釋 ?(同 XR圖解釋 ) 管制圖RX ?~89 管制圖RX ?~? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 2?dR??90 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 5 67 75 75 73 76 72 70 73 72 74 75 74 75 75 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 5 75 75 68 65 72 75 76 75 73 60 73 71 70 70 91 Case study ? 請(qǐng)計(jì)算出上表的 XR控制圖的控制限？ ? 請(qǐng)判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ ? 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時(shí)，那麼其新控制限為何？ 92 管制圖mRX ?? 單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 XR圖敏感。記住連續(xù)的移動(dòng)極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。然糾正該原因並盡可能防止其再發(fā)生。 ? 對(duì)於過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。但是如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常儘可能地追溯變差的可疑原因，並借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利於問題的解決 121 繪制並分析修改後的過程控制圖 ? 當(dāng)對(duì)過程採(cǎi)取了系統(tǒng)的措施後，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來； 控制圖成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。 p圖和 np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖 ? 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。 ? 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格 (例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格 )。 139 nunuuLCLnuuUCLnCuCLnnncccuuuuukk?????????????????33..... ........ ...2121B計(jì)算控制限 140 過程控制解釋、過程能力解釋 ? 過程控制解釋 ? 同 p圖解釋 ? 過程能力解釋 ? 過程能力為 u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適於診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。 ? 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗(yàn)的控制限內(nèi)，則可將控制限延伸到將來的時(shí)期。 106 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3畫線並標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B 107 npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線計(jì)算平均不合格率及控制限 108 畫線並標(biāo)註 ? 均值用水平實(shí)線線：一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。 2?dR?? 管制圖mRX ?97 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 數(shù)值 96 98 98 92 94 95 97 96 96 90 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 數(shù)值 92 90 88 89 94 99 92 94 97 97 組 21 22 23 24 25 26 數(shù)值 94 98 90 84 88 96 98 Case study ? 請(qǐng)計(jì)算出上表的 XRm控制圖的控制限？ ? 請(qǐng)判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ 99 不良和缺陷的說明 結(jié)果舉例 控制圖 車輛不泄漏／泄漏 P圖 NP圖 燈亮／不亮 孔的直徑尺寸太小或太大 給銷售商發(fā)的貨正確／不正確 風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖 U圖 門上油漆缺陷 發(fā)票上的錯(cuò)誤 100 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 101 建立 p圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控製圖的坐標(biāo)刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 102 A1子組容量、頻率、數(shù)量 ? 子組容量：用於計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太利也會(huì)有不利之處。 93 ? A收集數(shù)據(jù) ? 收集各組數(shù)據(jù) ? 計(jì)算單值間的移動(dòng)極差。5，試計(jì)算其 Cmk？ 77 LSL u USL 6σ 6σ WHAT IS MOTOROLA’S 6σ 78 WHAT IS MOTOROLA’S 6σ ? 最佳狀況，製程中心等於規(guī)格中心，此時(shí)Cpk=2。 ? 連續(xù)的 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。 UCL CL LCL 55 控制圖的判讀 ? 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分佈來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落於中間 1/3的區(qū)域 。 使用平均值時(shí)，其分佈 比較近似正態(tài)分佈，且 其檢出力較佳。σ 32% 177。1σ % % μ177。 ? 就控制圖在工廠中實(shí)施來說，英國(guó)比美國(guó)為早。 ? 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本。 % % μ177。2σ % 177。 平均值和個(gè)別值檢出力的說明 29 CASE STUDY ? 今有一製程，如今已知其製程中心已偏了2σ， 請(qǐng)問如果用單值時(shí)其檢出力為多少 ? ? 請(qǐng)問如果用 n=4時(shí)其檢出力為多少 ? ? 註：檢出力 =1β 30 普通原因、特殊原因 ? 普通原因指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處?kù)督y(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計(jì)控制”，或有時(shí)簡(jiǎn)稱“受控”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 UCL CL LCL 56 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“ 控制狀態(tài) ” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時(shí)間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點(diǎn)不超過控制界限 。 ? 連續(xù)的 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) . 59 控制圖的觀察分析 ? 傾向 : 若干點(diǎn)連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 : ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點(diǎn)不斷上升或下降趨向時(shí) , 要注意該工序的操作方法 。 ? 最差情形，可以允許製程中心，偏差177。通常最好是記錄每對(duì)連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。 ? 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。 ? 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了後，就對(duì)照它來評(píng)價(jià)。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接採(cǎi)取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。 ? 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。“ u”圖和“ c”圖適用於相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多於一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“ u”圖，並且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“ u”圖。 ? 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n ? 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 ? D過程能力解釋：過程能力如下： p :chart np of capability the128 1 09876543210543210S a m p l e N u m b e rSample CountN P C h a r t f o r C 2N P = 1 . 2 0 0