【正文】 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標值線 隨著時間的推移，過程的輸 出形成一個穩(wěn)定的分布并可 預測。當過程僅受隨機因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱受控狀態(tài)）；當過程中存在系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）。波動分為兩種：正常波動和異常波動。 – 一個過程的輸入通常是其他過程的輸出 – 組織為了增值通常對過程進行策劃并時期在受控條件下進行 活動 輸入 輸出 支持活動，如：培訓、設備維護等 管理活動或資源提供 過程單元 流程 ,活動 誰主導？、 誰配合？ 輸出 產(chǎn)品、服務 ? 等 效率績效測量 時間 成本 ? 等指標 硬件 軟件 環(huán)境 ? 等 輸入 材料、需求、 顧客及法規(guī)要求 ? 等 過程名稱 怎么 做 方法、程序 過程分析 龜形圖分析法 WHO OUTPUT MEASUREMENT WHAT INPUT HOW 使用什么？（材料 /設備） 檢測設備、量具、標準塊； 車間隔離區(qū)； 控制點。 使用的關(guān)鍵準則是什么？（測量 /評估） 反應速度、時間； 內(nèi)外顧客反饋； PPm下降程度； 質(zhì)量成本； 退貨分析。過程控制的目的就是消除、避免異常波動，使過程處于正常波動狀態(tài)。 一組重要的統(tǒng)計概念 ? 平均值、中位數(shù) ? 極差、標準差 ? 計量型數(shù)值與計數(shù)型數(shù)值 計數(shù)型數(shù)值和計量型數(shù)值 平均值（ Xbar或 X） 河水平均深度 , 士兵平均身高 平均溫度 20度 平均主義害死人 ! 中位數(shù)（ ） = X(n+1)/2 [n為奇數(shù) ] Xn/2 + Xn/2 +1 [n為偶數(shù) ] 2 極差（ R)，組距 作用 : 表明數(shù)據(jù)之間的離散程度 標準差 σ （ Sigma) ? 標準差 總體標準差 = 樣本標準差 = 通常用樣本標準差近似的估計為總體標準差 ? 標準差的意義：一組數(shù)中各單個值與總體平均數(shù)之間的平均離差，說明改組數(shù)的離散程度 標準偏差與極差的關(guān)系（對于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標準偏差 σ? 越大） X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 特殊原因 一種間斷性的，不可預計的，不穩(wěn)定的變差來源。 達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？ 確定能力 計劃 實施 計劃 實施 措施 研究 措施 研究 計劃 實施 改進過程 措施 研究 改進過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LSL 規(guī)范上限 USL 范圍 LSL USL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LSL LSL USL USL 范圍 范圍 過程能力指數(shù)（ Cp) ? 過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化 Cpk=(T2ε)/6 σ 其中， ε=|Xbar(T/2)| Cp=T/6σ –T=（ USLLSL) –USL:公差上限 –LSL:公差下限 無偏情況下： 存在偏移時： Cpk值的判定原則 Cpk值 處理原則 ≦ Cpk 無缺點考慮降低成本 ≦ Cpk≦ 維持現(xiàn)狀 1≦ Cpk≦ 有缺點發(fā)生 Cpk≦ 采取緊急措施，進行品質(zhì) 改善，并研討規(guī)格 過程控制的工具 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 ? 控制圖是 1924年休哈特博士在貝爾實驗室發(fā)明的。 控制圖的控制線 ? 中心線（ CL): X ? 上控制線 /限（ UCL): X+ 3 σ ? 下控制線 /限（ LCL): X 3 σ ? 右轉(zhuǎn) 90度 3 σ 3 σ x+ 3 σ x 3 σ x x % 公差界限與控制界限的區(qū)別 ? 公差界限： 區(qū)分合格品與不合格品 ? 控制界限： 區(qū)分正常波動與異常波動 α β UCL LCL ?第 Ⅰ 類錯誤（ α）：虛發(fā)警報 ?第 Ⅱ 類錯誤（ β）：漏發(fā)警報 兩類錯誤 ?兩類錯誤都會造成損失 ?上下控制限間距變大： α減小， β增大 ?上下控制限間距變?。? α增大， β減小 ?間距的設定尋求二者的均衡點（ 3 σ） 兩類錯誤 控制圖設計思想 ●先確定 α ，再看 β 按照 3σ方式確定 UCL、 CL、 LCL， α0 =% 通常采用 α =1%， 5%， 10%三級，為了增加使用者的信心，取 α =%。 使不必要的變差最小 確保過程按預定的方式運行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設定值 注： 應在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 2 計算控制限 3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限， X 177。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 注： s 圖的刻度尺寸應與相應的 X圖的相同。 8 13 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 9 并連接起來。 14 54 找出超過極差控制限的點 15 操作者與每個子組的最大標記點和最小標記點進行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 24 移動極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 81311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 C和 n都應 記錄在數(shù)據(jù)表中。 8231 計算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應對下列 情況的一種或更多進行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當有任何變差時，應立即進行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 過程惡化。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。 8112 計算每個子組內(nèi)的不合格品率 （ P） P=np /n n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計量型管制圖） 5 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 7 8