【正文】 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標(biāo)值線 隨著時(shí)間的推移，過程的輸 出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可 預(yù)測(cè)。當(dāng)過程僅受隨機(jī)因素影響時(shí)，過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（簡(jiǎn)稱受控狀態(tài)）；當(dāng)過程中存在系統(tǒng)因素的影響時(shí)，過程處于統(tǒng)計(jì)失控狀態(tài)（簡(jiǎn)稱失控狀態(tài)）。波動(dòng)分為兩種：正常波動(dòng)和異常波動(dòng)。 – 一個(gè)過程的輸入通常是其他過程的輸出 – 組織為了增值通常對(duì)過程進(jìn)行策劃并時(shí)期在受控條件下進(jìn)行 活動(dòng) 輸入 輸出 支持活動(dòng)，如：培訓(xùn)、設(shè)備維護(hù)等 管理活動(dòng)或資源提供 過程單元 流程 ,活動(dòng) 誰主導(dǎo)？、 誰配合？ 輸出 產(chǎn)品、服務(wù) ? 等 效率績(jī)效測(cè)量 時(shí)間 成本 ? 等指標(biāo) 硬件 軟件 環(huán)境 ? 等 輸入 材料、需求、 顧客及法規(guī)要求 ? 等 過程名稱 怎么 做 方法、程序 過程分析 龜形圖分析法 WHO OUTPUT MEASUREMENT WHAT INPUT HOW 使用什么？（材料 /設(shè)備） 檢測(cè)設(shè)備、量具、標(biāo)準(zhǔn)塊； 車間隔離區(qū)； 控制點(diǎn)。 使用的關(guān)鍵準(zhǔn)則是什么？（測(cè)量 /評(píng)估） 反應(yīng)速度、時(shí)間； 內(nèi)外顧客反饋； PPm下降程度； 質(zhì)量成本； 退貨分析。過程控制的目的就是消除、避免異常波動(dòng)，使過程處于正常波動(dòng)狀態(tài)。 一組重要的統(tǒng)計(jì)概念 ? 平均值、中位數(shù) ? 極差、標(biāo)準(zhǔn)差 ? 計(jì)量型數(shù)值與計(jì)數(shù)型數(shù)值 計(jì)數(shù)型數(shù)值和計(jì)量型數(shù)值 平均值（ Xbar或 X） 河水平均深度 , 士兵平均身高 平均溫度 20度 平均主義害死人 ! 中位數(shù)（ ） = X(n+1)/2 [n為奇數(shù) ] Xn/2 + Xn/2 +1 [n為偶數(shù) ] 2 極差（ R)，組距 作用 : 表明數(shù)據(jù)之間的離散程度 標(biāo)準(zhǔn)差 σ （ Sigma) ? 標(biāo)準(zhǔn)差 總體標(biāo)準(zhǔn)差 = 樣本標(biāo)準(zhǔn)差 = 通常用樣本標(biāo)準(zhǔn)差近似的估計(jì)為總體標(biāo)準(zhǔn)差 ? 標(biāo)準(zhǔn)差的意義：一組數(shù)中各單個(gè)值與總體平均數(shù)之間的平均離差，說明改組數(shù)的離散程度 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系（對(duì)于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大） X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 特殊原因 一種間斷性的，不可預(yù)計(jì)的，不穩(wěn)定的變差來源。 達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)？ 確定能力 計(jì)劃 實(shí)施 計(jì)劃 實(shí)施 措施 研究 措施 研究 計(jì)劃 實(shí)施 改進(jìn)過程 措施 研究 改進(jìn)過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LSL 規(guī)范上限 USL 范圍 LSL USL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LSL LSL USL USL 范圍 范圍 過程能力指數(shù)（ Cp) ? 過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化 Cpk=(T2ε)/6 σ 其中， ε=|Xbar(T/2)| Cp=T/6σ –T=（ USLLSL) –USL:公差上限 –LSL:公差下限 無偏情況下： 存在偏移時(shí)： Cpk值的判定原則 Cpk值 處理原則 ≦ Cpk 無缺點(diǎn)考慮降低成本 ≦ Cpk≦ 維持現(xiàn)狀 1≦ Cpk≦ 有缺點(diǎn)發(fā)生 Cpk≦ 采取緊急措施，進(jìn)行品質(zhì) 改善，并研討規(guī)格 過程控制的工具 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 ? 控制圖是 1924年休哈特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明的。 控制圖的控制線 ? 中心線（ CL): X ? 上控制線 /限（ UCL): X+ 3 σ ? 下控制線 /限（ LCL): X 3 σ ? 右轉(zhuǎn) 90度 3 σ 3 σ x+ 3 σ x 3 σ x x % 公差界限與控制界限的區(qū)別 ? 公差界限： 區(qū)分合格品與不合格品 ? 控制界限： 區(qū)分正常波動(dòng)與異常波動(dòng) α β UCL LCL ?第 Ⅰ 類錯(cuò)誤（ α）：虛發(fā)警報(bào) ?第 Ⅱ 類錯(cuò)誤（ β）：漏發(fā)警報(bào) 兩類錯(cuò)誤 ?兩類錯(cuò)誤都會(huì)造成損失 ?上下控制限間距變大： α減小， β增大 ?上下控制限間距變?。? α增大， β減小 ?間距的設(shè)定尋求二者的均衡點(diǎn)（ 3 σ） 兩類錯(cuò)誤 控制圖設(shè)計(jì)思想 ●先確定 α ，再看 β 按照 3σ方式確定 UCL、 CL、 LCL， α0 =% 通常采用 α =1%， 5%， 10%三級(jí)，為了增加使用者的信心，取 α =%。 使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 2 計(jì)算控制限 3 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 ? 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）。 修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限， X 177。 不受控制的過程的均值（長(zhǎng)的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè) 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 36 重新計(jì)算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。 8 13 將每個(gè)子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 9 并連接起來。 14 54 找出超過極差控制限的點(diǎn) 15 操作者與每個(gè)子組的最大標(biāo)記點(diǎn)和最小標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 24 移動(dòng)極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 子組數(shù)量： 收集的時(shí)間足夠長(zhǎng) ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 81311 超出控制限的點(diǎn) a 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。 b 一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 C和 n都應(yīng) 記錄在數(shù)據(jù)表中。 8231 計(jì)算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于 25 子組，如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對(duì)下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè) 不同平均性能的過程流的測(cè)量 8132 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時(shí)，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識(shí)別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 過程惡化。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。 8112 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 （ P） P=np /n n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計(jì)量型管制圖） 5 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 7 8