【正文】 請計(jì)算出上表的 XR控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？n 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時(shí)，那麼其新控制限為何？92n 單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 XR圖敏感。記住連續(xù)的移動極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。然糾正該原因並盡可能防止其再發(fā)生。n 對於過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。但是如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常儘可能地追溯變差的可疑原因，並借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利於問題的解決121繪制並分析修改後的過程控制圖n 當(dāng)對過程採取了系統(tǒng)的措施後，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來； 控制圖成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。 p圖和 np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖n 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。n 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格 (例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格 )。139B計(jì)算控制限140過程控制解釋、過程能力解釋n 過程控制解釋n 同 p圖解釋n 過程能力解釋n 過程能力為 u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適於診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。n 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗(yàn)的控制限內(nèi)，則可將控制限延伸到將來的時(shí)期。106Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì)算上、下控制限B3畫線並標(biāo)注建立 p控制圖的步驟 B107計(jì)算平均不合格率及控制限108畫線並標(biāo)註n 均值用水平實(shí)線線：一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。97Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10數(shù)值 96 98 98 92 94 95 97 96 96 90組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20數(shù)值 92 90 88 89 94 99 92 94 97 97組 21 22 23 24 25 26數(shù)值 94 98 90 84 88 9698Case studyn 請計(jì)算出上表的 XRm控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？99不良和缺陷的說明結(jié)果舉例 控制圖車輛不泄漏／泄漏 P圖NP圖燈亮／不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確／不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖U圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯(cuò)誤100P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋101建立 p圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控製圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖102A1子組容量、頻率、數(shù)量n 子組容量：用於計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太利也會有不利之處。93n A收集數(shù)據(jù)n 收集各組數(shù)據(jù)n 計(jì)算單值間的移動極差。5，試計(jì)算其 Cmk？77LSL u USL6σ6σWHAT IS MOTOROLA’S 6σ78WHAT IS MOTOROLA’S 6σn 最佳狀況，製程中心等於規(guī)格中心，此時(shí)Cpk=2。n 連續(xù)的 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。UCLCLLCL55控制圖的判讀n 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分佈來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落於中間 1/3的區(qū)域 。使用平均值時(shí)，其分佈比較近似正態(tài)分佈，且其檢出力較佳。σ 32%177。1σ % %μ177。n 就控制圖在工廠中實(shí)施來說，英國比美國為早。n 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本。 % %μ177。2σ %177。平均值和個(gè)別值檢出力的說明29CASE STUDYn 今有一製程，如今已知其製程中心已偏了2σ， 請問如果用單值時(shí)其檢出力為多少 ?n 請問如果用 n=4時(shí)其檢出力為多少 ?n 註：檢出力 =1β30普通原因、特殊原因n 普通原因指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為： “處於統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ”、 “受統(tǒng)計(jì)控制 ”，或有時(shí)簡稱 “受控 ”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。UCLCLLCL56控制圖的觀察分析n 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于 “控制狀態(tài) ”. 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時(shí)間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) .n 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 :n 第一條 , 控制圖上點(diǎn)不超過控制界限 。n 連續(xù)的 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) .59控制圖的觀察分析n 傾向 : 若干點(diǎn)連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 :n 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點(diǎn)不斷上升或下降趨向時(shí) , 要注意該工序的操作方法 。n 最差情形，可以允許製程中心，偏差 177。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。n 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。n 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了後，就對照它來評價(jià)。必須對系統(tǒng)本身直接採取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。n 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。 “u”圖和 “c”圖適用於相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多於一個(gè) “單位產(chǎn)品 ”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用 “u”圖，並且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用 “u”圖。n 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/nn 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。n D過程能力解釋：過程能力如下：128100 100 100 100 100 100 100 100 100 1001 2 1 0 1 2 1 2 0 2不合格品數(shù) np圖129Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 150 150 150 150 150“d” 0 1 2 0 1130Case studyn 請計(jì)算出上表的 np控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？131缺陷數(shù) c圖n “c”圖內(nèi)來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， c圖