【正文】 325目之間；D. 任意大小。和 186。（ ）。兩點；D. 0186。8. 第一類應力導致X射線衍射線 ；第二類應力導致衍射線 ；第三類應力導致衍射線 。A. 第二聚光鏡光欄；B. 物鏡光欄；C. 選區(qū)光欄；D. 其它光欄。14. TEM的主要組成部分是 照明系統 、 成像系統 和 觀察記錄系統 ；輔助部分由 真空系統 、 循環(huán)冷卻系統 和、控制系統 組成。4. 能幫助消除180186。十、 填空題16. 電子衍射和X射線衍射的不同之處在于 不同、 不同，以及 不同。=0；B. Ig0；C. Ig0；D. Ig=Imax。24. 一般情況下，孿晶與層錯的襯度像都是平行 ，但孿晶的平行線 ，而層錯的平行線是 的。的表面。27. 掃描電子顯微鏡的放大倍數是 的掃描寬度與 的掃描寬度的比值?；蚨螣晒狻? 對食鹽進行化學分析，只可得出組成物質的元素種類（Na,Cl等）及其含量，卻不能說明其存在狀態(tài)，亦即不能說明其是何種晶體結構，同種元素雖然成分不發(fā)生變化，但可以不同晶體狀態(tài)存在，對化合物更是如此。電子束在軸對稱的非均勻電場或磁場的作用下，而發(fā)生折射，從而產生電子束的會聚與發(fā)散，以達到成像的目的！透鏡的放大倍數一般最高在1000～1500之間遠遠高于光學顯微鏡的放大倍數，其分辨本領高至納米量級。答:當電子束穿過較厚的完整單晶體樣品時，衍射圖上除斑點花樣外，又出現一些平行的亮暗線對，這就是菊池線。的那些入射電子，其能量基本上沒有變化。由于它發(fā)自試樣表面層，入射電子還沒有較多次散射，因此產生二次電子的面積與入射電子的照射面積沒多大區(qū)別。樣品下方檢測到的透射電子信號中，除了有能量與入射電子相當的彈性散射電子外，還有各種不同能量損失的非彈性散射電子。俄歇電子是由試樣表面極有限的幾個原于層中發(fā)出的，這說明俄歇電子信號適用于表層化學成分分析。能譜儀的能量分辨率(130eV)比波譜儀的能量分辨率(5eV)低。 最后線 是指當樣品中某元素的含量逐漸減少時，最后仍能觀察到的幾條譜線。(2)積分吸收：在吸收線輪廓內，以吸收系數對頻率積分稱為積分吸收。定性分析的過程：（1）試樣純化；（2）了解試樣的來源及性質和其他實驗資料；（3）制樣，記錄紅外吸收光譜；（4）譜圖解析；如下例：（5）和標準譜圖對照。但是，X射線衍射方法并非可有可無，這是因為：X射線的透射能力比較強，輻射厚度也比較深，約為幾um到幾十um，并且它的衍射角比較大，這些特點都使X射線衍射適宜于固態(tài)晶體的深層度分析。4. X射線物相分析方法分： 定性 分析和 定量 分析兩種；測鋼中殘余奧氏體的直接比較法就屬于其中的 定量 分析方法。a．哈氏無機數值索引 ；b. 芬克無機數值索引；c. 戴維無機字母索引。a．以物鏡光欄套住透射斑；b．以物鏡光欄套住衍射斑；c．將衍射斑移至中心并以物鏡光欄套住透射斑。 a．第二聚光鏡光闌 ；b. 物鏡光闌 ；c. 選區(qū)光闌。6. 今天復型技術主要應用于 萃取復型 來揭取第二相微小顆粒進行分析。，其晶面指數滿足什么條件時出現衍射強度答：面心立方晶胞內四個同種原子，分別位于0 0 0，1/2 1/2 0, 1/2 0 1/2, 0 1/2 1/2, 則F= ? e2π(0)+ ? e2πi(h/2+ k/2)+ ? e2πi(k/2+ l/2)+ ? e2πi(l/2+ h/2)= ?[1+ eπi(h+ k)+ eπi(k+ l)+ eπi(l+ h)]如果h，k，l為全奇、全偶，（h+ k），（k+ l），（l+ h）必然為偶數，所以F2=16 ?2 F=4 ?如果h，k，l為有奇有偶，三個指數函數的和為－1。只要在化學結構上存在微小的差異（如同系物、同分異構體和空間異構體），在指紋區(qū)的吸收都有明顯的不同，所以，“指紋區(qū)”對化合物的鑒別很有用。(4)銳線光源：能發(fā)射譜線半寬度很窄的發(fā)射線的光源。答：(2)在分析元素的譜線中選一根譜線，稱為分析線；再在基體元素（或加入定量的其它元素）的譜線中選一根譜線，作為內標線。21. 原子發(fā)射光譜是怎么產生的？其特點是什么?答：原子的外層電子由高能級向低能級躍遷，能量以電磁輻射的形式發(fā)射出去，這樣就得到發(fā)射光譜。Si(Li)能譜儀的優(yōu)點：(1)