基于51單片機(jī)的lcr測量儀含程序電路(完整版)
【正文】 (time)。 EA=1。 RCAP2H=0x3C。testL=0。 stateL=1。testR=0。 if (keyT==0) Tstate=~Tstate。//(clockH*256)+clockL。 dismem[3]=freq/10。switch (inittime){case 1:ledbitA=0。ledbitC=0。ledseg=disdata[dismem[2]]。 case 5:ledbitA=0。ledbitC=1。ledseg=disdata[dismem//timer=2ms [6]]。break。 =TH0。 }附錄3 總體電路圖附錄4 印制板圖附錄5 系統(tǒng)使用說明在測試系統(tǒng)時(shí)，用標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感調(diào)節(jié)電位器的值，校準(zhǔn)各參數(shù)的值。 TR2=1。 }void timer2timer(void) interrupt 5 { EA=0。ledbitC=1。case 7:ledbitA=0。ledseg=disdata[dismem[4]]。ledbitC=0。 case 3:ledbitA=0。ledseg=disdata[dismem[0]]。 }//動(dòng)態(tài)顯示void tim1timer(void) interrupt 3//占用定時(shí)器1{static unsigned char inittime=1。 dismem[1]=freq/1000。 init()。testC=0。 Tstate=1。 } while(keyR==0)。 }按鍵處理void keyprocess(void){ if (keyR==0){delay2us(20)。 ///timer 2 T2CON=0x04。C/T 1 為定時(shí)器。 largeR=1。 //定義頻率字unsigned char code disdata[16]={0xc0,0xf9,0xa4,0xb0,0x99,0x92,0x82,0xf8,0x80,0x90,0x88,0x83,0xc6,0xa1,0x86,0x8e}。運(yùn)用單片機(jī)作為中央控制器和計(jì)算核心，使儀表有性能可靠、體積小、電路簡單的特點(diǎn)。如果量程不夠大，按下量程轉(zhuǎn)換鍵轉(zhuǎn)換為大量程，進(jìn)行測量。三點(diǎn)式電路是指：LC回路中與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件必須是同性質(zhì)的，另外一個(gè)電抗元件必須為異性質(zhì)的，而與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件同為電容時(shí)的三點(diǎn)式電路，成為電容三點(diǎn)式電路。第一個(gè)量程選擇，第二個(gè)量程選擇。此時(shí)，放電管飽和導(dǎo)通，上的電荷經(jīng)至放電管放電。從芯片的等效功能方框圖得出各功能端的真值表。2．1．2 芯片的等效功能方框圖及工作原理，由于556雙時(shí)基集成塊內(nèi)含兩個(gè)相同的555時(shí)基電路，它的等效功能方框圖與一個(gè)555時(shí)基電路的等效功能方框圖相同，在下面的分析中，可就個(gè)556芯片單獨(dú)分析?；诖怂枷耄覀儼央娮釉募袇?shù)R、L、C轉(zhuǎn)換成頻率信號f,然后用單片機(jī)計(jì)數(shù)后在運(yùn)算求出R、L、C的值，并送顯示，轉(zhuǎn)換的原理分別是RC振蕩和LC三點(diǎn)式振蕩。這樣，電橋法不易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測量。這種方法要測出兩個(gè)模擬量，不易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。單片機(jī)計(jì)數(shù)得出被測頻率，由該頻率計(jì)算出各個(gè)參數(shù)值，數(shù)據(jù)處理后，送顯示。電阻R的測試方法最多。電橋的平衡條件為通過調(diào)節(jié)阻抗、使電橋平衡，這時(shí)電表讀數(shù)為零。圖 用阻抗法測R、L、C有兩種實(shí)現(xiàn)方法：用恒流源供電，然后測元件電壓；用恒壓源供電，然后測元件電流。 設(shè)計(jì)的總體方框圖第二章 主要電路設(shè)計(jì)與說明2．1 TS556芯片簡介方案選擇中，利用555時(shí)基電路構(gòu)成多諧振蕩器來測量電阻R、電容C，為了測量兩個(gè)物理量需要兩塊555時(shí)基電路，為節(jié)省一部分硬件空間，以一片556時(shí)基電路來代替。即當(dāng)VS≤Vcc時(shí)，Vo為 “1”電平，處于置位狀態(tài)。（a）所示，將556與三個(gè)阻、容元件如圖連接，便構(gòu)成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩模式。2．3．2 測量電阻的電路模塊，由該電路可以測出量程在100Ω～1MΩ的電阻。（TR1）、（TR2）口通過軟件編程的方法來控制CD4066的改變，實(shí)現(xiàn)量程的轉(zhuǎn)換 測量電阻的電路2．4 測的RC振蕩電路測量電容的振蕩電路與測量電阻的振蕩電路完全一樣。受所用儀器，元期間的限制，測量精度并沒有做的很高。}clockTwo。testC=0。}void delay2us(unsigned char time) { while(time)。 TR1=1。 RCAP2L=0xB0。 s
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