【正文】 下料工具與下料要求氣割多用于碳鋼下料，等離子切割多用于合金鋼、不銹鋼下料剪扳機(jī)多用于＆≤8㎜20㎜(3) 直線度要求： 時(shí)直線度≤L/1000㎜ ，L﹥6000㎜對(duì)于要求焊后熱處理的容器，一般應(yīng)在熱處理前進(jìn)行返修。 b.900℃～950℃35CrMoVA 用亞溫淬火。 液壓實(shí)驗(yàn)一般采用水，需要時(shí)也可采用不會(huì)導(dǎo)致發(fā)生危險(xiǎn)的其他液體。液壓試驗(yàn)完畢后，應(yīng)將液體排盡并用壓縮空氣將內(nèi)部吹干。 (2) 氣密性試驗(yàn) 容器需經(jīng)液壓試驗(yàn)合格后方可進(jìn)行氣密性試驗(yàn)。(1) 裂紋裂紋是一種具有尖銳端頭且其開(kāi)口位移長(zhǎng)、長(zhǎng)寬比極高的斷裂型非連續(xù)性、鋸齒形缺陷，它是焊縫中最危險(xiǎn)的缺陷，其形成原因是由于焊接中熔融金屬凝固時(shí)的收縮，以及母材在焊接工程中加熱不均勻，使熔融金屬與母材都處于張力狀態(tài)所致，所以在焊縫內(nèi)或熱影響區(qū)容易產(chǎn)生裂紋。此外，還發(fā)生與焊道平行的縱向裂紋和與焊道垂直的橫向裂紋。多數(shù)情況是連續(xù)產(chǎn)生一定長(zhǎng)度的未焊透。一般來(lái)說(shuō)前者較小且分布均勻，反之，后者在多數(shù)情況下較大且形狀不規(guī)則。在初層焊接中常產(chǎn)生直線狀氣孔。射線探傷的主要特點(diǎn)如下： 1）圖片上有完好部位與缺陷部位的黑度差形成的缺陷平面投影影象，一般 無(wú)法測(cè)量缺 陷的深度； 2)基本不受焊縫厚度限制； 3)要求焊縫雙面靠近，檢驗(yàn)成本高，時(shí)間長(zhǎng)； 4)對(duì)操作人員有射線損傷 射線探傷有利于檢驗(yàn)出夾渣、氣孔等體積形缺陷。滲透檢測(cè)適用于各種金屬工件，不要電源，缺陷性質(zhì)容易辨認(rèn)，滲透操作到顯示缺陷約半小時(shí)。綜合分析各種檢測(cè)方法的特點(diǎn)。探傷結(jié)果用示波器顯示。第二類(lèi)指示頻率可變的超聲連續(xù)波在工件中形成駐波的情況，可用于共振測(cè)厚，但由于只適宜檢查與檢測(cè)面平行的缺陷，目前已很少使用。由反射波的位置可以確定缺陷位置，由反射波的幅度可以估算缺陷大小。下面介紹探頭的工作原理、主要性能及其及結(jié)構(gòu)。斜探頭可分為縱波斜探頭、橫波斜探頭和表面波斜探頭，常用的是橫波斜探頭。晶片材料：用化學(xué)元素縮寫(xiě)符號(hào)表示。耦合劑還有減少磨擦的作用。試塊和儀器、探頭一樣，是超聲波探傷中的重要工具。2）試塊的分類(lèi)：標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊。圖31 ⅡW試塊圖32 RB2試塊 橫波斜探頭探傷技術(shù)目前檢查焊縫內(nèi)部質(zhì)量最常用的是射線和超聲波探傷法。圖34鋸齒形掃查示意圖探頭作原地轉(zhuǎn)動(dòng)的掃查方法。當(dāng)在鋸齒形掃描中發(fā)現(xiàn)缺陷波時(shí)，可以使用左右掃查來(lái)確定缺陷的長(zhǎng)度；使用前后掃查來(lái)估計(jì)缺陷的自身深度。從發(fā)現(xiàn)橫向缺陷的能力來(lái)講，它比平行掃查的效果好。 焊縫超聲波探傷焊縫探傷主要采用斜探頭橫波探傷，斜探頭使聲束斜向入射，斜探頭的傾斜角有多種，使用斜探頭發(fā)現(xiàn)焊縫中的缺陷與用直探頭探傷一樣，都是根據(jù)在始脈沖與底脈沖之間是否存在傷脈沖來(lái)判斷。(2) 檢測(cè)前的準(zhǔn)備(3)探測(cè)面的修整探測(cè)面上的焊接飛濺、氧化皮、銹蝕和油垢等應(yīng)清除掉，探頭移動(dòng)區(qū)的深坑應(yīng)補(bǔ)焊后用砂輪打磨。斜探頭的標(biāo)稱K值為斜探頭聲束在鋼中折射角的正切值。這時(shí)，由于R100圓弧面的回波被R100圓心處的反射槽反射，在熒光屏上會(huì)出現(xiàn)R100圓弧面的多次回波。由于深度h與聲程s的關(guān)系是：, (β=arctanK)故可利用CSK2B試塊上R50和R100兩個(gè)圓弧面的反射進(jìn)行調(diào)整，此時(shí)：將斜探頭對(duì)準(zhǔn)R50、R100，調(diào)整儀器使其回波BB2分別對(duì)準(zhǔn)基線刻度hh2即可。4)將各標(biāo)記點(diǎn)連成圓滑曲線，并延伸到整個(gè)探測(cè)范圍，該曲線即為φ3mm橫孔DAC曲線基準(zhǔn)線(如圖43)。為探測(cè)縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線放置在探傷面上，作鋸齒形掃查(見(jiàn)圖45)。奇次波h=l/K－(n－1)t,n=3...偶次波h=nt－1/K,n=4…式中n—波次；t—試件厚度；l—缺陷水平距離；h—缺陷深度；K—探頭斜率。最大反射波幅位于Ⅱ區(qū)的缺陷，根據(jù)缺陷指示長(zhǎng)度按表42的要求進(jìn)行評(píng)定。缺陷定量可分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。另一種方法是將界面一側(cè)介質(zhì)I中縱波聲源的面積或直徑轉(zhuǎn)換成與介質(zhì)I的橫波聲場(chǎng)處于同一聲束輻線上的假想的橫波聲源的面積或直徑。的變化與界面兩側(cè)不同介質(zhì)中的波型和聲速比有關(guān)，其變化規(guī)律可用系數(shù)表示。斜探頭探傷，我國(guó)多用橫孔作為標(biāo)準(zhǔn)幾何反射體。圖49半波高測(cè)長(zhǎng)法使用此法時(shí)，超聲波探傷儀的垂直線性一定要良好，否則將會(huì)產(chǎn)生較大的偏差。用直尺測(cè)出探頭到R50圓弧的水平距離為33mm，輸入儀器并按確定鍵，按y存儲(chǔ)。 現(xiàn)場(chǎng)探傷1. 探頭掃查（）1）缺陷I反射波如圖58所示圖 58 缺陷I反射波缺陷I定位：由探傷儀可讀取缺陷水平位置距探頭發(fā)射點(diǎn)距離=。圖 510 缺陷III反射波 (a) (b) (c)圖511 6dB法測(cè)長(zhǎng)表51 缺陷長(zhǎng)度記錄表缺陷水平距離mm深度mm指示長(zhǎng)度mmI4211II13512245221III3422 根據(jù)JB/T 4730—2005中關(guān)于指示長(zhǎng)度計(jì)量的規(guī)定： 1）缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)，按5mm計(jì)。并且在實(shí)際的超聲波探傷過(guò)程中，仍在不斷涌現(xiàn)許多新問(wèn)題。參考文獻(xiàn)[1]鄒廣華，劉強(qiáng)．過(guò)程裝備制造與檢測(cè)．北京：化學(xué)工業(yè)出版社，2003，～52[2]鄧輝，：中國(guó)勞動(dòng)社會(huì)保障出版社，~5[3]鄭津洋，董其伍，：化學(xué)工業(yè)出版社，2005，~95[4]曹玉華. ，2008，4：73~75 [5]單寶華,喻言,，2004，26（5）：235~238[6]：新疆農(nóng)業(yè)大學(xué)，2005致謝本畢業(yè)設(shè)計(jì)是在胡效東老師的精心指導(dǎo)和下完成的。they are time of flight or the amountof time for the sound to travel through the sample and amplitude of received on velocity and round trip time of flight through the material the material thickness can be calculated as follows: T=Material Thicknessc=Material Sound Velocity=Time of FlightMeasurements of the relative change in signal amplitude can be used in sizing flaws or measuring the attenuation of a relative change in signal amplitude is monly measured in values are the logarithmic value of the ratio of two signal can be calculated using the following useful relationships are also displayed in the table below。衷心感謝實(shí)驗(yàn)室劉梅老師給予我的指導(dǎo)和幫助。本課題著重做了以下工作：1. 論述了過(guò)程設(shè)備制造工藝流程，并詳細(xì)介紹了焊接過(guò)程中常見(jiàn)的缺陷和產(chǎn)生缺陷的原因。 由探傷儀回波，II處相鄰兩缺陷在一直線上，其間距為11mm，小于12mm，作為一條缺陷處理。3）缺陷III反射波如圖510所示。示意圖如圖51所示，波形圖如圖52所示。本章內(nèi)容主要包括超聲波探傷實(shí)驗(yàn)儀器調(diào)校、現(xiàn)場(chǎng)探傷、相應(yīng)的探傷缺陷評(píng)定、缺陷產(chǎn)生原因分析和相應(yīng)的缺陷處理方法。用于斜探頭橫波聲場(chǎng)條件下的各種標(biāo)準(zhǔn)幾何反射體的反射率，應(yīng)當(dāng)加以修正?？捎上率浇o出：由上述可知，在進(jìn)行斜探頭的AVG曲線計(jì)算時(shí)，應(yīng)取4(S+L39。對(duì)圓形晶片，常用下述基本公式修正。后者包括相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法、絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法、極坐標(biāo)作圖法、包絡(luò)線作圖法和標(biāo)準(zhǔn)圖形參照比較法等。不合格的缺陷應(yīng)返修。當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用降低6dB相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)(見(jiàn)圖47)；當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，則以缺陷兩端反射波降至1/2最大反射波波高之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度作為缺陷長(zhǎng)度(見(jiàn)圖48)。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。圖44距離一波幅曲線(DAC)示意圖表41 距離波幅曲線的靈敏度檢驗(yàn)級(jí)別板厚/mm靈敏度DACA8~50B8~300C8~300判廢線DACDAC4dBDAC2dB定量線DAC10dBDAC10dBDAC8dB評(píng)定線DAC16dBDAC16dBDAC14dB備注一般采用B級(jí)檢驗(yàn)，原則上在焊縫單面雙側(cè)進(jìn)行6)在作上述測(cè)試的同時(shí)，可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜式試塊上的某一參考反射體作同樣測(cè)量，并將其反射波位置和峰值標(biāo)記在曲線板上，以便現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行靈敏度驗(yàn)。超聲波檢測(cè)時(shí)要根據(jù)缺陷回波波幅高度判定缺陷是否有害，必須按不同聲程的回波波幅進(jìn)行修正。滿刻度相當(dāng)于聲程250mm。K值的測(cè)定方法如下：用CSK2B或II W試塊測(cè)定，將被測(cè)探頭置于試塊上，探頭沿試塊側(cè)面前后移動(dòng)，當(dāng)對(duì)應(yīng)于φ50圓弧面所獲得最高反射回波時(shí)，斜探頭的入射點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的試塊上的角度刻度或K值刻度指示即為該探頭的折射角或K值(見(jiàn)圖42)。(4)斜探頭入射點(diǎn)和斜率的測(cè)定1) 斜探頭的入射點(diǎn)測(cè)定。這是因?yàn)樵谔絺鞍匆欢ǖ谋壤诔晝x熒光屏上作有距離—波幅曲線。兩個(gè)探頭置于焊縫的同一側(cè)，并分別置于工件的兩面，以便探測(cè)類(lèi)似中部未焊透這類(lèi)缺陷。探頭多次平行于焊縫移動(dòng)，此法多用于自動(dòng)化、半自動(dòng)或在無(wú)法辨認(rèn)真假反射波時(shí)，采用固定位置的一種掃查方式。探頭以缺陷為中心作環(huán)繞運(yùn)動(dòng)。在焊縫探傷中，由于焊縫加強(qiáng)高的影響及焊縫中存在的缺陷往往是與探測(cè)面近于垂直或形成一定角度，所以在一定情況下采用超聲波傾斜入射到工件內(nèi)部的探傷方法，即橫波斜探頭法進(jìn)行。3）焊縫探傷常用試塊舉例a.ⅡW試塊 ⅡW試塊是標(biāo)準(zhǔn)試塊其結(jié)構(gòu)尺寸如圖31所示。因此在超聲波探傷前，常用試塊上某一特定的人工反射體來(lái)調(diào)整探傷靈敏度。水的優(yōu)點(diǎn)是來(lái)源方便，缺點(diǎn)是容易流失，容易使工件生銹，有時(shí)不易潤(rùn)濕工件。探頭種類(lèi)：用漢語(yǔ)拼音縮寫(xiě)字母表示。當(dāng)斜探頭的入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在工件中產(chǎn)生表面波，表面波探頭用于探測(cè)表面或近表面缺陷。反之當(dāng)晶體材料在交變電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為逆壓電效應(yīng)。C型：C型顯示也是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)都代表探頭在工件表面的位置，探頭接收信號(hào)幅度以光點(diǎn)輝度表示，因而當(dāng)探頭在工件表面移動(dòng)時(shí)，屏上顯示出被探工件內(nèi)部缺陷的平面圖象，但不能顯示缺陷的深度。這類(lèi)儀器通過(guò)探頭向工件周期性地發(fā)射一持續(xù)時(shí)間很短的電脈沖，激勵(lì)探頭發(fā)射脈沖超聲波，并接收從工件中反射回來(lái)的脈沖波信號(hào)，通過(guò)檢測(cè)信號(hào)的返回時(shí)間和幅度判斷是否存在缺陷和缺陷大小等情況，稱為脈沖反射式超聲檢測(cè)儀。 超聲探傷的設(shè)備與器材超聲檢測(cè)設(shè)備與器材包括超聲檢測(cè)儀、探頭、試塊、耦合劑等，其中儀器和探頭對(duì)超聲檢測(cè)系統(tǒng)的能力起關(guān)鍵性作用。目前，從儀器品種、探頭種類(lèi)、探傷方法、自動(dòng)化水平等各方面都在不斷的革新和發(fā)展中。（5）渦流探傷 渦流探傷是利用探頭線圈內(nèi)流動(dòng)的高頻電流可在焊縫表面感應(yīng)出渦流的效應(yīng)，有缺陷會(huì)改變渦流磁場(chǎng)引起線圈輸出(如電壓或相位)變化來(lái)反映缺陷。超聲探傷的主要特點(diǎn)如下： 1)顯示器屏幕上缺陷波的幅度與位置代表缺陷的尺寸與深度，一般較難測(cè)量缺 陷真實(shí)尺寸，只有采用衍射波法可測(cè)缺陷高度； 2)厚度小于8mm時(shí)，要求特殊檢驗(yàn)方法； 3)焊縫只須單面靠近，檢驗(yàn)時(shí)間短，成本低； 4)對(duì)操作人員無(wú)損害。見(jiàn)表21。焊縫中的夾渣主要是氧化物、硫化物等夾雜物。也有沿焊接線全長(zhǎng)產(chǎn)生未焊透的極端情況。低溫裂紋是由于焊縫的形狀和約束狀態(tài)以及氫氣對(duì)焊縫金屬和熱影響區(qū)硬化現(xiàn)象的影響而產(chǎn)生的。另外，根據(jù)發(fā)生溫度可區(qū)分為高溫裂紋和低溫裂紋。試驗(yàn)時(shí)壓力應(yīng)緩慢上升，達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)壓力后保壓10min，然后降至設(shè)計(jì)壓力，對(duì)所有焊接接頭和連接部位進(jìn)行泄漏檢查。該安全措施需經(jīng)試驗(yàn)單位技術(shù)總負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，并經(jīng)本單位安全部門(mén)監(jiān)督檢查。奧氏體不銹鋼制壓力容器用水進(jìn)行液壓試驗(yàn)后應(yīng)將水漬清楚干凈。T＞50mm保溫時(shí)間=（150+T）/100 ：400℃以上，6500/T ：將零件加熱使碳化物溶到奧氏體中，再以足夠快的冷卻速度將碳化物固定在奧氏體中。水冷+空冷。得到索氏體。目的：細(xì)化晶粒，提高母材及常化處理焊縫的綜合機(jī)械性能，消除冷作硬化，便于切削加工。 焊接(1) 焊前準(zhǔn)備與焊接環(huán)境 +8㎜ 。L﹥15000㎜㎜時(shí)直線度≤L/1000㎜ ，橢圓度≤%DN且≤5㎜ ，DN﹥1200㎜時(shí)要求橢圓度≤%DN且≤7㎜塔器橢圓度要求如表2—1所示。L≤2500㎜板材下料其切邊為直邊，鋸管機(jī)多用于接管下料。本章主要介紹過(guò)程設(shè)備制造過(guò)程、產(chǎn)生的常見(jiàn)的焊接缺陷，以及產(chǎn)生這些缺陷的原因。由于經(jīng)驗(yàn)豐富的老一輩檢測(cè)工作者缺乏把實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)轉(zhuǎn)化為理論總結(jié)，而年輕的檢測(cè)人員缺乏切實(shí)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，這有可能導(dǎo)致現(xiàn)有的超聲檢測(cè)軟件系統(tǒng)不同程度的缺陷，降低了檢測(cè)的可靠性。超聲無(wú)損檢測(cè)已經(jīng)應(yīng)用到了幾乎所有工業(yè)部門(mén)，其用途正日趨擴(kuò)大。超聲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)(UT)作為四大常規(guī)檢測(cè)技術(shù)之一，由于其與其