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vlsi系統(tǒng)設(shè)計(jì)ppt課件(2)(完整版)

2025-06-10 18:31上一頁面

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【正文】 +cjswn = +cjswp = +cgon = +cgop = +cjgaten = +cjgatep = .lib 39。 VTH0 = 39。 λ是最小溝道長(zhǎng)度 L的一半,是具體的數(shù)值。 VLSI系統(tǒng)設(shè)計(jì) 2 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院 ( 34) PCM .5 VLSI系統(tǒng)設(shè)計(jì) 2 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院 ( 35) .5 ? 互連線的參數(shù)( INTERCONNECT PARAMETERS): ? 薄層電阻( Sheet Resistance )(金屬、多晶硅、有源區(qū)等) ? 接觸電阻( Contact Resistance) ? 線寬偏差( Delta Line Width)(金屬和多晶硅) ? 臺(tái)階覆蓋( STEP COVERAGE): ? 梳齒結(jié)構(gòu)( Comb Isolation)(金屬和多晶硅) ? 折彎結(jié)構(gòu)( Serpentine Continuity) ? 晶體管特性( TRANSISTOR CHARACTERISTICS): ? 晶體管閾值電壓( Transistor Threshold Voltage) ? 本征導(dǎo)電因子,導(dǎo)電因子( Process Gain, Kp (beta/2)) ? Gamma( γ)系數(shù) (body effect coefficient) ? 飽和電流( Saturation Current) ? 溝道穿通電壓( Channel Punchthrough Voltage) ? PN結(jié)擊穿( Junction Breakdown) ? 厚柵氧(場(chǎng)區(qū)氧化層)晶體管( FIELD OXIDE TRANSISTORS): ? 閾值電壓( Threshold) ? 倒相器( INVERTERS): ? 輸出高電平( Vout, high) ? 輸出低電平( Vout, low) ? 倒相器閾值( Inverter Threshold (Vinv)) ? 倒相器閾值處的增益( Gain at Inverter Threshold) ? 電容( CAPACITORS): ? 平板電容( Area Capacitance) ? 邊緣電容( Fringe Capacitance) ? 環(huán)行振蕩器( RING OSCILLATOR): ? 頻率( Frequency) PCM部分測(cè)試參量 VLSI系統(tǒng)設(shè)計(jì) 2 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院 ( 36) 測(cè)試圖形及參數(shù)測(cè)量 .5 示例 1: 接觸電阻測(cè)量 金屬 /多晶硅接觸電阻 的 Kelvin測(cè)試結(jié)構(gòu) 測(cè)量步驟: ? 3點(diǎn)上注入電流,測(cè)量 4點(diǎn)間的電壓 ? 1點(diǎn)上注入電流,測(cè)量 4點(diǎn)間的電壓 ? 計(jì)算: 2/)(314213241IVIVR ??? 4點(diǎn)上注入電流,測(cè)量 3點(diǎn)間的電壓 ? 2點(diǎn)上注入電流,測(cè)量 3點(diǎn)間的電壓 ? 計(jì)算: 2/)(423124132 IVIVR ??接觸電阻 =( R1+R2) /2 VLSI系統(tǒng)設(shè)計(jì) 2 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院 ( 37) 測(cè)試圖形及參數(shù)測(cè)量 .5 示例 1: 接觸電阻測(cè)量 VLSI系統(tǒng)設(shè)計(jì) 2 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院 ( 38) 測(cè)試圖形及參數(shù)測(cè)量 .5 示例 2: 薄層電阻測(cè)量 基于范德堡 ( Van der Pauw) 原理 。 ])(2[ DSTNGSNDS VVVKI ??DSN VLWKS ???????? 2VLSI系統(tǒng)設(shè)計(jì) 2 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院 ( 42) 測(cè)試圖形及參數(shù)測(cè)量 .5 示例 5: 環(huán)行振蕩器測(cè)量 由基數(shù)個(gè)門電路環(huán)接而成 環(huán)行振蕩器的測(cè)量結(jié)果真實(shí)地反映了工藝質(zhì)量,它也可以作為一個(gè)檢驗(yàn)基于 SPICE模型的模擬是否精確的工具。 在較線性的部分做直線擬合,外推到與 VGS坐標(biāo)軸相交處。 驗(yàn)證設(shè)計(jì)正確性的測(cè)試技術(shù)將在第 7章介紹。 CGSO = 39。 MOS .ENDL FS TOX = toxn XL = 39。 MOS .ENDL TT .LIB SS .param toxp = +toxn = +dxl = dxw = 3e8 +dvthn = dvthp = +cjn = +cjp = +cjswn = +cjswp = +cgon = +cgop = +cjgaten = +cjgatep = .lib 39。 FSSox FAsioxoxT C)(NqCQV ???? 222 ??????閾值電壓包括了柵區(qū)閾值電壓和場(chǎng)區(qū)閾值電壓。 ? 工藝線提供工藝加工質(zhì)量的監(jiān)測(cè)方法,形成 PCM(
點(diǎn)擊復(fù)制文檔內(nèi)容
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