統(tǒng)計(jì)過程控制管理程序(完整版)
【正文】 2為估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差，σs為過程總變差。1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處（位于外1/3的區(qū)域）。應(yīng)立即對(duì)操作進(jìn)行分析。一般情況下大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的三分之二的區(qū)域。超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種：1） 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；2） 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大（即變壞），這種增大可以發(fā)生在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)上，也可能是整個(gè)趨勢(shì)的一部分；3） 測(cè)量系統(tǒng)變壞（例如，不同的檢驗(yàn)員或量具）4） 測(cè)量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪?。?duì)于R圖，刻度值應(yīng)從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。b） 計(jì)量型數(shù)據(jù)；采用X—R控制圖，計(jì)算Ppk和Cpk。術(shù)語(yǔ) 引用SPC手冊(cè)中附錄G的術(shù)語(yǔ)及符號(hào)。c． 子組數(shù)的大?。阂话闱闆r下，包含100或更多單值讀數(shù)的25或更多個(gè)子組數(shù)可以很好的用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性。對(duì)于每個(gè)子組，計(jì)算： X1+X2+…+Xn X= n R=X最大值—X最小值式中：X1+X2+…+Xn為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。C．過程控制解釋C．1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)a．超出界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全部：1） 輸出值分布寬度減小，這常常是一個(gè)好狀態(tài)，應(yīng)研究以便推廣應(yīng)用和改進(jìn)過程；2） 測(cè)量系統(tǒng)改變，這樣會(huì)掩蓋過程真實(shí)性能的變化。由于特殊原因而從極差圖中去掉的子組，也應(yīng)從均值圖中去掉。c．明顯的非隨機(jī)圖形：如明顯的趨勢(shì)（盡管它們不屬于鏈的情況），周期性，數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。C．6重新計(jì)算控制限（均值圖）排除所有已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因影響的任何失控的點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫過程均值和控制限。必須將注意力直接集中在系統(tǒng)中，即造成過程變異性的根本因素上，例如：機(jī)器性能、輸入材料的一致性、過程操作的基本方法、培訓(xùn)方法或工作環(huán)境。在變化時(shí)期的所有不穩(wěn)定的因素都能解決后，應(yīng)評(píng)定新的過程能力并將他作為將來操作新控制限的基礎(chǔ)，通常情況下，變化后用25個(gè)子組的數(shù)據(jù)足以建立新的控制限。當(dāng)最近的過程數(shù)據(jù)適用時(shí)，它們可以用來加速這一階段的研究。B．2計(jì)算上、下控制限（UCL，LCL）如果過程受統(tǒng)計(jì)控制，子組的樣本容量一定，則控制限為過程平均值加或減期望的變差允許值。確定可能超過其平均值177。超出上控制限的點(diǎn)（不合格品率更高）通常表明存在下列的一個(gè)或多個(gè)情況：1） 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤2） 過程性能惡化，在當(dāng)時(shí)那點(diǎn)或作為一種趨勢(shì)的一部分；3） 評(píng)價(jià)系統(tǒng)已改變（例如：檢驗(yàn)員、量規(guī)）；低于控制限下的點(diǎn)（不合格品率更低）通常表明存在下列一個(gè)或多個(gè)情況：1） 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤；2） 過程性能已改進(jìn)（為了改進(jìn)，應(yīng)當(dāng)研究這種情況且長(zhǎng)期保持）；3） 測(cè)量系統(tǒng)已改進(jìn)。c．明顯的非隨機(jī)圖形：點(diǎn)到過程均值的距離：通常在一個(gè)統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，僅存在普通原因變差并且其np中等較大的過程中，大約2/3的點(diǎn)將在位于控制限中部1/3的區(qū)域內(nèi)；大約1/3的點(diǎn)將位于控制限2/3以內(nèi)的區(qū)域，大約1/20的點(diǎn)將位于與控制限較接近的區(qū)域（外部三分之一區(qū)域）。D．過程能力解釋D．1計(jì)算過程能力1） 對(duì)于p圖，過程能力是通過過程平均不合格品率p 來表示。D．3改進(jìn)過程能力過程一旦表現(xiàn)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反映了該系統(tǒng)的變差原因——過程能力。但是還應(yīng)繼續(xù)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。如需要，還可以用符合規(guī)范的比率（1－p）來表示；2） 對(duì)于過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。如果大大少于2/3的點(diǎn)位于過程均值較近的區(qū)域，則意味著存在下列情況之一或全部：1） 發(fā)生了計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤；2） 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個(gè)或多個(gè)具有不同均值性能
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