品翔電通spc控制圖工具原理及原則培訓教材(完整版)
【正文】 休哈特建議： 把正態(tài)分布圖及其控制限 μ177。 2 n=30時 x=(X1+X2+???X30)/30的分布與正態(tài)分布已無什麼差別。 ◆ SPC由 Ⅲ 狀態(tài)達到 Ⅰ 狀態(tài)，要使特殊原因引起的變異盡量減少，也就是減少特殊原因引起的變異，使過程受控。第二類錯誤又稱漏發(fā)警報，這時由於未檢測出不合格品而造成損失。連續(xù) 25個點中，沒有一個點超出控制規(guī)格，則該過程是穩(wěn)定的。在控制圖中心一側連續(xù)出現(xiàn)的點稱為鏈。如輪流使用兩臺設備或由兩位操作人員輪流進行操作而引起的系統(tǒng)效應。出現(xiàn)這種情況實際上是點子過多地集中在中心線附近。 計算各組數(shù)據(jù)的平均值 x x= （精確到比觀測測量值多一位小數(shù)） PIN SHINE X1+X2+X3+???+Xn n 36 計算總平均值或中心值 X= （精確到比原始數(shù)據(jù)多二位小數(shù)） 計算各組極差 R?=Xmax Xmin 計算極差的平均值。 PIN SHINE 38 。 －－－－ x圖的中心線上下控制限的計算公式： CL=X, UCL=X+A2R , LCL=X A2R －－－－ R圖的中心線上下控制限的計算公式： CL=R, UCL=D4R , LCL=D3R PIN SHINE 37 畫控制線 X圖在上， R圖在下，橫坐標表示樣本號，組號或時間。 34 PIN SHINE 原則八： 連續(xù) 8點落在中心線兩側且無一點在 C區(qū)內(nèi)。 31 PIN SHINE 原則五： 連續(xù) 3點中有 2點落在中心線同一側的 B區(qū)外。 1 3 5 7 9 2 4 6 8 X 29 PIN SHINE 原則三： 連續(xù) 6點遞增或遞減（趨勢）。 連續(xù) 100個點，界外點數(shù) d ≦ 2。另外， β的計算與失控狀態(tài)時的總體分布有關，此時總體分布多種多樣，很難對 β作出確切的估計。 21 PIN SHINE 我們 選取 μ177。主要分為統(tǒng)計狀態(tài)和技術狀態(tài)兩種形態(tài)，它們組合起來有四種狀態(tài)，如表： 統(tǒng)計狀態(tài) 技術狀態(tài) 四種組合 技術滿足 (In Spec) （符合規(guī)格） 技術不滿足 (Out Spec) （不符合規(guī)格） 過程受控 (IN Control) （穩(wěn)定） Ⅰ Ⅱ 過程不受控 (Out Control) （不穩(wěn)定） Ⅲ Ⅳ 18 PIN SHINE 統(tǒng)計狀態(tài)的形態(tài) 統(tǒng)計狀態(tài)的形態(tài) 過程受控 過程不受控 只有共同原因引起的變異，不存在特殊原因的影響，過程處於受控狀態(tài) （即過程處於穩(wěn)定狀態(tài)） 過程存在特殊原因的影響，過程波動較大，過程不受控制（即過程處於不穩(wěn)定狀態(tài)） 過程受控 （穩(wěn)定） t1 t2 t3 LCL CL UCL 過程不受控 （不穩(wěn)定） t1 t2 t3 LCL CL UCL 19 PIN SHINE 技術狀態(tài)的形態(tài) 技術狀態(tài)的形態(tài) 技術滿足規(guī)格要求 技術不滿足規(guī)格要求 過程符合規(guī)定要求 超出技術規(guī)格要求 技術滿足 （符合規(guī)格） LSL T USL 技術不滿足 （超規(guī)格） LSL T USL 20 PIN SHINE 四種組合的狀態(tài) 根據(jù)上面的過程狀態(tài)和技術狀態(tài)，可組成四種狀態(tài)： 狀態(tài) Ⅰ ：過程和技術都同時滿足要求，最理想的狀態(tài)。 並以橫為時間或編號，以縱為過程參數(shù)（均值 \標準差），並在處引出兩條水平線（用虛線表示），這樣就形成一張 SPC控制圖。3σ ％ ％ μ177。其總和所呈現(xiàn)的分布是隨時間而變的。 8 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍
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