質(zhì)子x射線熒光分析(完整版)
【正文】 隨原子序數(shù)平滑變化； ? 非破壞性快速分析，且可以定量和絕對(duì)定標(biāo)； ? 可采用微束。 K L M Xray (Auger e) 粒子束 Electron 靶原子 . PIXE分析原理 : M L K 1S1/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 3d5/2 3d3/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 L線系 K線系 特征 X射線能級(jí)圖解 躍遷定則 : △ l =177。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research， 84（ 1970） P141 ： 3. PIXE分析具有靈敏、快速、取樣少和無(wú)損 分析等特點(diǎn)。.)...e x p().(.... ??????xC為待測(cè)元素的相對(duì)含量 為待測(cè)樣品的密度 為樣品對(duì) X射線的質(zhì)量吸收系數(shù) ???39。 在分析中采用的電子束能量在 3050keV量級(jí)，由于電子束存在較強(qiáng)的韌致輻射的本底干擾，使得特征 X射線疊加在一個(gè)平滑的本底之上，因而 EIX的靈敏度受到極大的限制。 化學(xué)提取法：主要針對(duì)有些特殊樣品，如 Au、 Pt等， 用硝酸 Fe、 Cu、 Zn等，在用王水溶解它們，滴在靶 襯底
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