亞科德電子公司外殼檢驗規(guī)范書-文庫吧在線文庫
【正文】 ⑴表面可輕易擦凈的污漬。 （重缺陷） 8．瑕庇（沙點、麻點、氣泡、料花、水紋、模印、縮水） (mm) 缺陷位置 重缺陷 輕缺陷 接受 前面 /頂面 ≥ ≥ R≥ ≤ 側(cè)面 ≥ ≥ R≥ ≤ 底面 ≥ ≥ R≥ ≤ 兩點間最小距離 50 9．劃痕（刮花、橫印、刀削印） ⑴輕劃痕：不明顯的，沒傷及材料本體之劃痕。 2．將外殼上小配件（按鍵、飾片等）按要求裝配到外殼上。 （重缺陷） 3．絲印不良。 （輕缺陷） ⑵批鋒 /利邊大于或等于 。 AEC 深圳市亞科德電子有限公 司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料檢驗規(guī)范手冊 外殼檢驗規(guī)范書 文件編號 版本號 修改號
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