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正文內(nèi)容

步步高電子公司ic檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)-文庫吧在線文庫

2025-08-26 19:12上一頁面

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【正文】 序 號 檢驗(yàn)項(xiàng)目 缺 陷 內(nèi) 容 判 定 1 外觀 封裝形式錯誤,表面破損,型號、批號標(biāo)識錯、標(biāo)識模糊,(無法認(rèn)出型號)引線腳嚴(yán)重氧化或斷腳,混裝其他型號的 IC B 表面臟污,標(biāo)識不清晰,引線腳輕微氧化 C 2 結(jié)構(gòu)尺寸 主體尺寸、引線腳尺寸及引線腳間距尺寸超差影響裝配 B 主體尺寸、引線腳尺寸及引線腳間距 尺寸超差但不影響裝配 C 3 電氣性能 無功能或性能不良 B 4 可焊性 經(jīng)上錫后,上錫面 80% B 經(jīng)上錫后,上錫面 80%~98% C 擬制 審核 批
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