【正文】 t) (平均值圖 )﹕ 對于平均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析 ﹐ 以確定特殊原因的產(chǎn)生的理由 ﹐ 矯正該狀態(tài) ﹐ 并且防止再現(xiàn)。過程管制圖的目的不是完美的而 是合理 ﹑ 經(jīng)濟的管制狀態(tài) 。 σ=R/d2= σR/d2 只要過程的全距和平均值兩者都處于統(tǒng)計管制狀態(tài)。 不論是對未滿足的能力指數(shù)值作出響應(yīng)﹐ 或是為超過最低能力指數(shù)要求對持續(xù)改進成本和品質(zhì)性能作出響應(yīng) ﹐ 所要求的措施是相同的 ﹕Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ?通過減少普通原因引起的變異或?qū)⑦^程均值 調(diào)整到接近目標值 方法來改進過程性能 ﹐ 這通常意味著要采取措施來改進系統(tǒng) ﹔ 對比較緊急的情況 ﹐ 可采用以下臨時措施 ﹕ ?對輸出進行篩選 ﹐ 根據(jù)需要進行報廢或返工 處置 ﹔ ?改變規(guī)范使之與過程性能一致。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) 由于全距容易計算且對樣本容量較小的子組(n≦ 9)較為有效 ﹐ 所以用全距圖來作為過程變異的度量。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二 .平均值標準差管制圖 (Xbarschart) ﹕ (與 XbarRchart相同 )。經(jīng)常發(fā)生問題的特性 ﹔216。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) (p)﹕ p=(np)/p 其中 n被檢項目的數(shù)量 ﹔ np發(fā)現(xiàn)的不良項目的數(shù)量。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) ﹑ 下管制限 (UCL﹑ LCL)﹕ 如果過程受統(tǒng)計管制 ﹐ 子組的樣本容量一定 ﹐ 則管制限為過程平均值加或減期望的變異允許值。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) 在此情況下 ﹐ UCLp﹐ LCLp=p177。 ﹕ 數(shù)據(jù)點中存在超出管制限的點 ﹐ 或存在超出隨機情況下可能出現(xiàn)的明顯趨勢或圖形﹐ 這就表明存在變異的特殊原因。 ?出現(xiàn)高于均值的長鏈或連續(xù)上升的點 ﹐ 說明 ﹕ ?過程性能已惡化 ﹐ 而且可能還在惡化 ﹔ ?量測系統(tǒng)已改變。然后矯正該原因并盡可能防止其再發(fā)。 對于計數(shù)型管制圖能力直接被定義為不良品的平均百分數(shù)或比例。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) ﹕ ?當對過程系統(tǒng)采取了系統(tǒng)的措施后 ﹐ 其效果 應(yīng)在管制圖上明顯地反應(yīng)出來。 量測系統(tǒng)的分析 ﹑ 評價請查閱 MSA及GRR分析。 由于普通和特殊兩種原因所造成的變異 ﹐ 本變異可用樣本標準差 S來估計?；蛱岣哔|(zhì)量要求、質(zhì)量升級等級判定為 ﹕Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析 :這是性能指數(shù) ﹐ 為不考慮過程有無偏移時 ﹐ 公差除以過程性能 ﹐ 一般為 ﹕ Pp = T/6σS Pp僅用來與 Cp 及 Cpk對比 ﹐ 或 /和 Cp 及 Cpk 一起去度量和確定一段時間內(nèi)改進的優(yōu)先順序?；蛱岣咂焚|(zhì)要求、品質(zhì)升級Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析 同時使用 CP與 CPK指標 ,來判定過程是否偏離目標及過程的變異是否太大 ,一般可分為下面四種 : ?若 CP1,而且 CPK1時 ,顯示過程尚符合規(guī)格需求 . ?若 CP1,但是 CPK1時 ,顯示過程的變異尚可 ,要防止變 異 ,可能制程平均值已偏離目標值 . ?若 CP1, 而且 CPK1時 ,顯示過程能力不足有改善必要 , 可栓討規(guī)格及作業(yè)標準 ,包含公差 ,材料 ,設(shè)備 ,人員技 術(shù)等項目檢。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析 ﹕ 將過程分布迭加到客戶要求損失 曲線上 ﹐ 可得 ﹕ ?為減少客戶損失 ﹐ 應(yīng)調(diào)整過程 (過程 中心 )使之與客戶要求一致 ﹔ ?如果不斷減少目標值周圍的變異 ﹐ 可給客戶帶來額外的好處。??Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析 ﹕ :是能力比值 ﹐ 是 Cp的倒數(shù) ,即 ﹕ CR=1/Cp :是性能比值 ﹐ 是 Pp的倒數(shù) ,即 ﹕ PR=1/Pp s與 s的說明 ﹕ s和 s使用同一個用來計算樣本標準差的公式 ﹐即 s和 s= Σ(XiX)2/(n1) i=1nFoxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析 但式中 n代表兩種不同類型的樣本容量 ﹕ ?對于 s﹐ n代表所有抽樣的單值讀數(shù)的總數(shù) 量 ﹔ ?對于 s﹐ n表示任何一個給定的子組內(nèi)的單 值讀數(shù)的總個數(shù) ﹐ 一般 n是一個常數(shù)且對每 個子組來說都一樣 ﹔ ?估計整個過程 (總體 )的標準差用 s﹐ 估計某 個已知 σs固定大小的子組的標準差用 s. ?Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第六章 過程能力分析 ﹕ 下列條件所有能力量度指數(shù)必須滿足的最低條件 ﹕ ?產(chǎn)生數(shù)據(jù)的過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) ﹔ ?過程數(shù)據(jù)的單個測量值基本處于正態(tài)分布 ﹔ ?規(guī)范是以顧客要求為基礎(chǔ)的 ﹔ ?存在一種將計算的指數(shù)看成為 “真實 ”的指數(shù) 的意愿 ﹐ 即不考慮抽樣變異對計算值的影響 。E 50%Ca 應(yīng)采取緊急措施 ﹐ 全面檢討必要時停止生產(chǎn)。 一般來說 ﹐ 如 Cp不良 ﹐ 其對應(yīng)方法為技朮單位為主 ﹐ 制造單位為副 ﹐ 品管單位為輔。 本章將定義和討論的常用指數(shù)和比值 ﹕ ?與規(guī)范有關(guān) ﹑ 僅反映過程變異的指數(shù) ﹕ Cp和 Pp﹔ ?與規(guī)范有關(guān) ﹑ 綜合反映過程變異及其中心的指 數(shù) ﹕ Ca﹑ Cpk 和 Ppk。 ?c 圖 ﹕ 樣本容量必須相同。 ?此平均能力不是波動的單值 ﹐ 必須對照管理 上對于特殊性的期望來評價。分析應(yīng)盡可能在當時條件下進行 ﹐ 以便識別該條件并防止它再發(fā)生。 驗証異常的分布方法如下 ﹕?點到過程均值的距離 ﹕ 當處于統(tǒng)計狀態(tài)下僅存在普通原因變異并且其 np中等較大的過程中 ﹐ 大約2/3的點將在管制限中部 1/3的區(qū)域 ﹔ 大約 1/3的點位于管制限 2/3以內(nèi)的區(qū)域 ﹔ 大約 1/20的點位于與管制限較接近的區(qū)域。 在管制限之內(nèi)出現(xiàn)異常圖形或趨勢 ﹐ 即使所有的點均在管制內(nèi) ﹐ 也說明在出現(xiàn)這個圖形或趨勢的時期內(nèi)過程失控或性能水平變化﹔Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第 1節(jié) 不良率管制圖 (pchart) 當每個子組的 np≧ 9﹐ 子組的 p的分布近似于正態(tài)分布并且可以使用與 Xbar圖所用分析相似的分布方法。 ?在管制圖上描繪受影響的子組新的上 ﹑ 下管制限。 在初始研究階段 ﹐ 這些被認為是試驗管制限 。 當點描繪完后 ﹐ 大致看看是否合理。對于顯示可分析的圖形的管制圖 ﹐ 子組 容量應(yīng)大到每個組內(nèi)包括幾個不合格品。這可以評價一個特性值或是許多特性值 ﹐ 重要的是﹕ ? 把被檢查的每一個元件 ﹐ 零件或項目記 錄成合格或不合格 ﹔ ? 把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ) 條件分組 ﹐ 并且把不合格的項目用占子 組大小的百分比來表示。 ? 數(shù)據(jù)是由電腦按實時時序記錄或掃描 的 ﹐ s較易計算。這是可以采取一些管理層介入的作一些基本的變化 ﹑ 分配資源 ﹐ 并為改進過程的整個性能進行協(xié)調(diào)。 當 Z值為負值時說明過程平均值超過規(guī)范。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) 過程能力的評定 ﹐ 在一般情況下 ﹐ 將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比 ﹐ 看是否始終滿足這些規(guī)范。 確保當與新的管制限相比時 ﹐ 所有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控狀態(tài)。 即約 %的點位于管制限之內(nèi)。 由于 Xbar的管制界限取決于全距圖中變異的 大小 ﹐ 故如果均值處于統(tǒng)計管制狀態(tài) ﹐ 其變 差便與全距圖中的變異 系統(tǒng)的普通原因變 差有關(guān)。 ? 數(shù)據(jù)已經(jīng)編輯。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) ﹕ ﹕ 有點超出管制界限說明存在下列之 情 ﹕ I. 管制限計算錯誤或描點時描錯 ﹔ II. 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增 大 ﹐ 種增大可以發(fā)生在某個時間點上 ﹐ 也可能是整個趨勢的一部分 ﹔ (不同的檢驗人員 ﹑ 量 )﹔Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一 .平均值全距管制圖 (XbarRchart) 。對于 R圖 ﹐ 刻度值應(yīng) 從 0開始到最大值之間的差值為初始階段所 遇到的最大全距 ( R)的 2倍。應(yīng)制訂一個數(shù)據(jù)收集的計劃作為收集 ﹑ 記錄及將數(shù)據(jù)畫在管制圖上的依據(jù)。常用的計量型數(shù)據(jù)管制圖 ﹕?平均值全距管制圖 (XbarRchart)?平均值標準差管制圖 (XbarSchart)?中位數(shù)全距管制圖 (XRchart)?單值移動全距管制圖 (XMrchart) ~Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry為什么使用計量性數(shù)據(jù)管制圖 ? ﹐ 其潛在應(yīng)用很廣 ﹔ /否陳述包含更多的信息 ﹔ ﹔ ﹐ 可以縮短零件生產(chǎn)和采取矯 正措施之間的時間間隔 ﹔ ﹐ 可以分析一個過程的性能 ﹐ 可以量 化所做的改進。本過程正在做什么 ?216。?一個過程在被証明處于統(tǒng)計管制狀態(tài)后才計算其過程能力。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry四 .局部措施和對系統(tǒng)采取措施﹕ 252。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry三 .變異的普通及特殊原因 ﹕ 沒有兩件產(chǎn)品或特性是完全相同的 ﹐ 因為任何過程都存在許多引起變異的原因。檢測 容忍浪費252。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC實施作業(yè)流程明確目的選定管制項目4M的標準化標準作業(yè)實施數(shù)據(jù)收集分析12Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC實施作業(yè)流程 (續(xù) )計算制程能力制程是否在管制狀態(tài)下 ?是 否Cpk1?是繼續(xù)管制確認制程能力是否適當定期統(tǒng)計制程異常連絡(luò)單 ﹐ 再設(shè)定減少的目標 ﹐ 推展改善活動否追究原因 (先掌握機械的能力及量測能力是否足夠 )原因不明且無法采取經(jīng)濟 ﹑ 技朮性措施調(diào)節(jié)制程管制再次檢討規(guī)格 ﹑ 修正檢驗等。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC主要內(nèi)容? 管制圖的基本技術(shù) ? 抽樣計劃 ? 品質(zhì)計劃與設(shè)計Foxconn ProprietariesHon Hai Precisio