【正文】 2134 00 ACD E NB U L K ??)1(? ???? ii SWR L E VP O RHF? ?? RLEVPO RPF i EZLog 用戶手冊 22 4. SANDA程序處理 SANDA 程序是一種被改進的泥質(zhì)砂巖分析程序，采用多種方法計算泥質(zhì)含量，并根據(jù)具體情況選用適當?shù)臄?shù)值作為采用值；在考慮泥質(zhì)油氣影響的情況下，用中子密度交會圖計算地層孔隙度和泥質(zhì)含量，還采用一種經(jīng)驗方法計算粉砂指數(shù)；當有井徑曲線時，可對井眼擴大的井段進行自動處理。 該公式適用于低礦化度（小于 30kppm） 條件下的泥質(zhì)砂巖地層。 式中： N、 A為 輸入?yún)?shù) 。 EZLog 用戶手冊 19 ? 用中子和密度加權平均 Φ D= (DENDMA)/(DFDMA)VSH*(DSHDMA)/(DFDMA) Φ N=(NEUNMA)/(NFNMA)VSH*(NSHNMA)/(NFNMA) Φ =(（Φ D2+Φ N2） /2)1/2 計算含水孔隙度 PORW、 PORF ? 地層含水孔隙度 PORW=POR*SW ? 沖洗帶含水孔隙度 PORF=POR*SXO 如果 PORF＜ PORW 或 PORF＞ ，則取 PORF=PORW。 其他章節(jié)和此內(nèi)容相同的將不再重復 ，請查閱本章節(jié) 。 設置輸入曲線附加校正參數(shù)，需要進行多種交會圖綜合分析，以便確定輸入曲線的附加校正值。 ACTS： 能譜測井 附加校正值， 隱含值為 0，單位： API。 SIRR： 束縛水飽和度 , 隱含值為 40%。 RWTEMP： 選擇 RW處的參考溫度 ， 隱含值為 25℃ 。 RW： 地層水電阻率，隱含值為 .m。 ACP: 計算壓實 校正 系數(shù)公式參數(shù) ,隱含值分別為 。 DSH：泥巖地層 地層密度 , 隱含值分別為 。 RTSH: 純泥巖 RT測井值 , 隱含值 。 SPSD： 純砂巖自然電位測井值 , 隱含值為 0。 中 文 參 數(shù) 配 置 文 件 *.ptf 存 放 在LogVision\System\2052\method 目 錄 下 ， 英 文 參 數(shù) 配 置 文 件 *.ptf 存放在LogVision\System\1033\method 目錄下。如果對計算結果不滿意，再調(diào)出 分析 程序的處理參數(shù)對話框，調(diào)整對應的解釋參數(shù)重新計算，繪圖區(qū)顯示結果自動刷新。 當按下 “ GR 自動分層”按鈕時，程序根據(jù) GR值進行分層，形式如下： 當按下 “導入分層數(shù)據(jù)”按鈕時，程序根據(jù)導入的數(shù)據(jù)進行分層，其形式如下： EZLog 用戶手冊 12 輸 入輸出曲線重定向 在第一個處理井段可以設置輸入、輸出曲線重新定向。 劃 分解釋井段 當處理一口新井時，處理井段隱含全井段。 ? 對測井數(shù)據(jù)進行預處理 ： 利用“預處理”菜單中提供的測井資料預處理工具，對測井數(shù)據(jù)進行深度校正、曲線數(shù)據(jù)編輯等工作。 EZLog 用戶手冊 8 EZLog 的處理流程 EZLog的處理流程 圖 DEMO 井操作 當 EZLog 啟動后，本小節(jié) 從 Demo 井開始帶您從測井數(shù)據(jù)加載、解編、測井曲線回放、測井數(shù)據(jù)預處理、成果處理到成果圖、成果表生成；希望您能夠很快掌握 EZLog 的使用方法。 LogVision 平臺為不同軟件系列產(chǎn)品提供統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理工具、統(tǒng)一的繪圖模板和統(tǒng)一的繪圖文檔。 LogVision 不僅支持多文檔水平或垂直顯示；而且支持多井視圖，利用自由對象可以進行簡單地層對比工作。 有關測井曲線編輯、測井曲線校深、環(huán)境校正、井斜校正等詳見《 LogVision 平臺用戶手冊》第 6章測井資料預處理；測井成果表生成詳見《 LogVision 平臺用戶手冊》第 9 章。 EZLog 用戶手冊 7 EZLog 最大的優(yōu)點就是以人為本，軟件操作人性化，簡單實用。有關 EZLog 處理 框架具體使用方法請在《 LogVision 用戶手冊》中查閱。 從 “ 文件 ” 下拉菜單中選擇 “ 新建 ” 選項，程序彈出選擇繪圖模板對話框 EZLog 用戶手冊 10 ? 對測井數(shù)據(jù)進行分析處 理 ： 利用“分析”菜單中提供的常規(guī)分析程序，對測井數(shù)據(jù)進行成果處理。在進行數(shù)字處理時，用以下方法可將全井段劃分為若干井段： 1） 在處理井段列表欄，先選中全井段，然后擊 “編輯層”按鈕彈出劃分解釋井段對話框，其形式如下，在“底深”處輸入第一個處理井段底部深 度，然后點擊“確定”即可。 在“輸入”標簽欄，在輸入曲線名對應的“值”處指定當前曲線名；如果需要曲線重定向，擊 按鈕彈出選擇曲線對話框，選擇需要的 曲線名 在“輸出”標簽欄，在輸出曲線值處指定當前輸出曲線名，如果需要輸出曲線換名，可在輸出曲線處輸入輸出曲線名。 下圖為 PORA 程序處理成果圖 ， 可保存為繪圖模板。 輸入 曲線 表 單孔隙度分析模塊 PORA 可輸入 11條曲線，其輸入曲線名稱為 ： 曲線名 描述 單位 GR 自然伽瑪 API SP 自然電位 MV DEN 體積密度 g/cm3 NEU 中子測井 % AC 聲波時差 us/m NLL 中子壽命 CTS 能譜測井 API RT 深探測電阻率 Ω .m RXO 淺探測電阻率 Ω .m COND 感應測井 KHZ CAL 井徑 cm 說明 PORA 程序至少輸入一種孔隙度測井曲線（ AC、 NEU 或DEN），至少要有 GR 和 RT 曲線。 SPSH: 純泥巖自然電位測井值 , 隱含值為 100。 CTSSD: 純砂 巖能譜測井值 , 隱含值為 0。 NF： 巖石流體中子孔隙度 , 隱含值分別為 100%。 BCP： 計算壓實 校正 系數(shù)公式參數(shù) ,隱含值分別為 。 RMF： 泥漿濾液電阻率，隱含值為 .m。 RMFTEMP： 選擇 RMF 處的參考溫度 ， 隱含值為 21℃ 。 PERMX： 滲透率最大值， 隱含值為 。 ART： 深探測電阻率 附加校正值， 隱含值為 0，單位：Ω .m。 其他常規(guī)分析模塊的附加校正參數(shù)同 PORA，將不再重復。 解釋 的 方法原理 計算地層泥質(zhì)含量 VSH PORA 程序最多可用 六 種測井方法 (GR、 CNL、 SP、 NLL、 RT 和 CTS)計算地層的泥質(zhì)含量 VSH。 計算含水飽和度 SW、 SXO 單孔隙度分析 PORA 用戶通過選擇 SWFG，用以下 六 個公式之一計算 SW、 SXO。 ? SWFG = 2時，用西門杜公式： 式中： M= A=1，為輸入?yún)?shù)。 ? 溫度校正： RWC=RW*(RWTEMP+)/（ TEMP+） RMFC=RMF*（ RMFTEMP+） /（ TEMP+） TEMP=BHTGRAD（ BDEPdepth） /100 RWTEMP=BHTGRAD*(BDEPRDEP)/100 當 GRAD=0 時， TEMP=RWTEMP 則 RWC=RW； RMFC=RMF 不做溫度校正，否則做溫度校正，SW用 RWC、 SX0 用 RMFC 計算。還可進行煤層判斷。 =0 不用 SHLG，只用 SHFG =1 用 GR =2 用 SP =3 用 CNL, SWN, NEU, RAT 之一 EZLog 用戶手冊 24 =4 用 NLL =5 用 RT =6 用 CTS 能譜測井 SHFG：泥質(zhì)指示的附加選擇標志 , 隱含值為 0。 NEUSD：純砂巖中子測井值 , 隱含值為 4。 GCUR： 泥質(zhì)含量公式中的地層年代系數(shù)， 隱含值為 。 DFC： 流體密度校正因子 ,隱含值為 。 BCP： 計算壓實 校正 系數(shù)公式參數(shù) ,隱含值分別為 。 如果 PORA COCT，則 CI=0， CARB=0。 ? 計算 最大 視流體密度 DFMX EZLog 用戶手冊 27 限制條件： ≤ DFMX≤ 1 ? 計算視粘土體積 CLA 最大視粘土體積 CLMX CLMX=(SH*CLM)/100 最小視粘土體積 ? 中子測井的兩次視粘土校正 YNEU=NEU （ YNEU 為未經(jīng)校正的中子測井） XNEU=NEUCLMX NCL（第一次視粘土校正后的中子測井） 限制條件： 如果 XNEU， 令 XNEU= 。 DFMN = (DMA XNEU)/T ? 計算視流體密度 DFA DFA = (CL*DFMX) + (1CL)*DFMN 限制條件： 如果 DFA1，則令 DFA=1。先設法求準粘土含量和孔隙度，而不是采用中子、密度交會；⑵ 全面分析粘土性質(zhì)；⑶ 將 WS模型和雙水模 型結合計算總含水飽和度。 定量分析地層中粘土礦物分布類型及其分布形式，用雙水模型和 WS方程計算地層和沖洗帶含水飽和度，用經(jīng)驗法分別計算儲層油、氣、水 的相對滲透率，從而更全面評價泥質(zhì)砂巖儲層，加深對油田地質(zhì)情況和油氣產(chǎn)能的認識。 當 DF=1時，用密度計算 POR 限制條件： ≤ POR≤ 1 當 DF1時，計算 POR如下 計算殘余氣飽和度： SRG=（ 1DF） / 限制條件： ≤ SRG≤ 1 計算中子校正系數(shù)： PN=（ ） /() 計算密度校正系數(shù)： PD=（ ） /() 用中子和密度校正系數(shù)重新計算流體密度： 限制條件： ≤ DF≤ 1 重復上述步驟，直到 |DFi+1DFi|小于 或迭代 10次為止。 XCP=CNT/PMAX 限制條件： 如果 XCP 令 CLA=(PMAXCNT)/PMAX 。 計算 飽和度 參數(shù) (同 PORA 程序 ) 計算 滲透率 參數(shù) PERMFG：選擇滲透率的公式標志符 , 隱含值為 1。 NCL： 粘土的中子值 ,隱含值為 36%。 NF： 流體的中子值 , 隱含值為 100%。 DSH： 交會圖法確定泥質(zhì)體積時需提供的泥巖密度值 , 隱含值為 。 NLLSD: 純砂巖中子壽命測井值 , 隱含值為 0。如 SHLG=134，SHFG=0 時，則取 SHLG 為 4 三種算法求得的最小值作為 VSH； SHLG=134， SHFG=12時，則取 SHLG 為 4和 SHFG= 2共五種算法求得的最小泥質(zhì)含量作為 VSH。本章主要介紹 SANDA 程序解釋方法原理及數(shù)據(jù)處理方法。 計算出砂指數(shù) 出砂指數(shù)用來表示砂巖的強度和穩(wěn)定性，計算公式如下： 2* SIR RPORCPERM ???????????????? ?RWAP ORR S HV S HRTSWMV S HN2/2/12/ /1 EZLog 用戶手冊 21 式中： DEN —— 密度， g/cm3。 ? SWFG= 3時 , 用 費特公式 式中： A=，為輸入?yún)?shù)。 在求 SW的公式中，用 RXO 代替 RT、 RMF 代替 RW 即可求取 SXO。 ? 當 SHLG=5 時，用 RT 計算泥質(zhì)含量，其 SH計算公式為： BKSH 1? 其中： K=（ RTSDRT） *RTSH/RT*（ RTSDRTSH） 當 RTSH/RT= 時， B=1；否則 B=2（ 1RTSH/RT） 計算孔隙度 POR PORA 程序采用一種孔隙度測井方法，按含水泥質(zhì)砂巖體積模型公式計算 POR，進行了泥質(zhì)校正，未作油氣校正。 =0 不識別 =1 識別 DGCO： 煤層密度截止值 ， 隱含值為 ，單位 g/cc。 ARXO： 淺 探測電阻率 附加校正值， 隱含值為 0，單位：Ω .m。 ASP： 自然電位 附加校正值， 隱含值為 0，單位： MV