【正文】 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標值線 隨著時間的推移，過程的輸 出形成一個穩(wěn)定的分布并可 預測。 名稱 解釋 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。 單值（ Individual） 一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的 一次測量 ，通常用符號 X 表示。 ? 1924年，美國的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對過程變量進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎。 ? 為制程分析提供依據(jù)。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點 。 制程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 人 設備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計方法 顧客 識別不斷變化的需求量和期望 變差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重 復的分布過程的變差的原因。 達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？ 確定能力 計劃 實施 計劃 實施 措施 研究 措施 研究 計劃 實施 改進過程 措施 研究 改進過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 管制圖類型 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標準差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點數(shù)管制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點數(shù)管制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關心的是不合格品率？ 否 關心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓 定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 —例如：化學槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 計算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 的特殊原因。 注 2： 標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間 。 注： 如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一 種或更多進行調(diào)查： d1 控制限或描點計算錯描錯 。方法如下： b 1 估計過程的標準偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計超出規(guī)范的百分比 ：（ PZ ） a 對于單邊容差，直接使用 Z值查標準正態(tài)分布表，換算成 百分比。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 c 刻度應與量具一致。 53 描點 操作者將每個單值的點標在中位數(shù)圖上。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 分組頻率： 根據(jù)實際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 在實際運用中 ， 當各組容量不超過其平均容量 25%時 ， 可用平均樣本容量 n 代替 n 來計算控制限 USL； LSL。 ） 813 過程控制用控制圖解釋： 8131 分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個受控的 P管制圖 中，落在均值兩側的點的數(shù)量將幾乎相等） 。 81313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關系等 。 822 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 8221 受檢驗的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個子組 內(nèi)都有幾個不良品并在。 3 C 834 過程控制解釋（同 P管制圖） 835 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. 84 單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 841 使用的時機 u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . 842 數(shù)據(jù)的收集 8421 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平 均值的正負擔過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算 . 8422 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 824 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 83 不合格（缺陷）數(shù)的 c 圖 831 采用時機 C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩 類檢驗： 8311 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 8312 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。并在備 注欄中詳細記錄。 b 低于控制限之下的點，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。 C、 按上式分別計算樣本容量為 n 和 n 時的點的控制限 . UCL,LCL = P 177。 選擇控制圖的坐標刻度 8113 選擇控制圖的坐標刻度 一般不良品率為縱坐標 ， 子組別 （ 小時 /天 ） 作為橫坐標 ,縱坐標的刻度應從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 到 2倍 。 式中： R 為移動極