第六章納米材料檢測及表征技術(shù)(存儲版)
【正文】 ? 電子顯微鏡 ? 小于 ， 1nm5μm范圍內(nèi)的顆粒 ? 圖像分析技術(shù)因其測量的隨機性、統(tǒng)計性和直觀性被公認為是測量結(jié)果與實際粒度分布吻合最好的測試技術(shù)。 規(guī)則球形顆粒 用球的直徑或投影圓的直徑表示 。 團聚體內(nèi)含有相互連接的氣孔網(wǎng)絡(luò) 。 團聚體可分為硬團聚體和軟團聚體兩種 ， 團聚體的形成過程使體系能量下降 。 形狀不規(guī)則或不對稱的顆粒用長 、 寬 、 高的某種平均值來表示 ， 稱為 幾何粒徑 。 ? 優(yōu)點：直接觀察顆粒形狀，可以直接觀察顆粒是否團聚。 ? 掃描電鏡 和 透射電鏡 ? 主要原理：通過溶液分散制樣的方式把納米材料樣品分散在樣品臺上，然后通過電鏡放大觀察和照相。 ? 區(qū)別：兩者的主要區(qū)別是所采用的激光源不同， X射線光電子能譜 用 X射線作為激發(fā)源 ，而 俄歇電子能譜 則采用 電子束作為激發(fā)源 。 . 表面與界面效應(yīng) 納米粒子由于尺寸小、表面積大、表面能高、位于表面的原子處于嚴重的缺位狀態(tài)，因此其活性極高，很不穩(wěn)定，遇到其它原子時很快結(jié)合，這種活性就是表面效應(yīng)。 ? 5. 2 XPS(Xray Photoelectron Spectroscopy)的分析方法 ? 用途： 表面元素定性分析： 表面元素的半定量分析： 表面元素的化學價態(tài)分析 俄歇電子能譜分析 ? 優(yōu)點：在靠近表面 nm范圍內(nèi)化學分析的靈敏度高 。改進的 x射線 Fourier解析法分析 XRD單峰，都得到較準確的晶粒尺寸。其橫向分辨率可達 2nm，縱向分辨率為 1nm。 :39:1017:39Aug2415Aug24 ? 1故人江海別，幾度隔山川。 , August 15, 2024 ? 很多事情努力了未必有結(jié)果，但是不努力卻什么改變也沒有。 2024年 8月 15日星期四 5時 39分 10秒 17:39:1015 August 2024 ? 1空山新雨后，天氣晚來秋。 2024年 8月 15日星期四 下午 5時 39分 10秒 17:39: ? 1最具挑戰(zhàn)性的挑戰(zhàn)莫過于提升自我。勝人者有力，自勝者強。 。 2024年 8月 15日星期四 5時 39分 10秒 17:39:1015 August 2024 ? 1做前，能夠環(huán)視四周；做時，你只能或者最好沿著以腳為起點的射線向前。 , August 15, 2024 ? 雨中黃葉樹，燈下白頭人。用 TEM可以得到原子級的形貌圖像。此外，依據(jù) XRD衍射圖．利用 scherrer 公式，用衍射峰的半高寬和位置 (2θ )可以計算納米粒子的粒徑。 分析的目的還在于測定納米材料的結(jié)構(gòu)特性，為解釋材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系提供實驗依據(jù)。 零維原子簇或簇組裝 (如粒徑不大于 2nm的納米粒子 ) 納米材料包括晶體、膺晶體、無定形金屬、陶瓷和化合物等 納米材料有以下性質(zhì)。 形貌分析的主要方法 ? 掃描電子顯微鏡 (SEM) ? 透射電子顯微鏡 (TEM) ? 掃描隧道顯微鏡 (STM) ? 原子力顯微鏡 (AFM) 3. 成分分析 成分分析方法與范圍 類型（對象） : 微量樣品分析和痕量成分分析 取樣量 待測成分的含量 （分析目的）： 體相元素成分分析 表面成分分析 微區(qū)成分分析等方法 ? 體相元素組成 分析方法： 原子吸收、原子發(fā)射、 ICP質(zhì)譜（破壞性）
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