spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制圖說(shuō)明(存儲(chǔ)版)
【正文】 容量 (零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長(zhǎng)度等 )要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外觀的變化 (樣本容量 n)， 在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；n 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù) (c)131B計(jì)算控制限132過(guò)程控制解釋、過(guò)程能力解釋n 過(guò)程控制解釋n 同 p圖解釋n 過(guò)程能力解釋n 過(guò)程能力為 c平均值，即固定容量 n的樣本的缺陷數(shù)平均值。137B計(jì)算控制限138過(guò)程控制解釋、過(guò)程能力解釋n 過(guò)程控制解釋n 同 p圖解釋n 過(guò)程能力解釋n 過(guò)程能力為 u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。n D過(guò)程能力解釋：過(guò)程能力如下：126100 100 100 100 100 100 100 100 100 1001 2 1 0 1 2 1 2 0 2不合格品數(shù) np圖127Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 150 150 150 150 150“d” 0 1 2 0 1128Case studyn 請(qǐng)計(jì)算出上表的 np控制圖的控制限？n 請(qǐng)判定過(guò)程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？129不合格數(shù) c圖n “c”圖內(nèi)來(lái)測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恆定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：n 不合格分佈在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) )，以及可以用不合格的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維尼龍上暇疵 )。120Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 100 150 100 200 150 100 100 200 150 100“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 200 100 150 100 100 150 200 200 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 100 150 200 150 100“d” 0 1 2 0 1121Case studyn 請(qǐng)計(jì)算出上表的 p控制圖的控制限？n 請(qǐng)判定過(guò)程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？122不合格品數(shù) np圖n “np”圖是肉來(lái)度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。n 可以使用諸如排列圖分析法及因果分析圖等解決問(wèn)題技術(shù)。如需要，還可以用符合規(guī)範(fàn)的比例 (1p)來(lái)表示。110尋找並糾正特殊原因n 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了失控的情況時(shí)，則必須研究操作過(guò)程以便確定其原因。101A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率n 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值n 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 ─nn 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─npn 通過(guò)這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率102A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度n 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)。92nB計(jì)算控制限93n C過(guò)程控制解釋n 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。n 連續(xù)的 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) .60控制圖的觀察分析n 傾向 : 若干點(diǎn)連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 :n 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點(diǎn)不斷上升或下降趨向時(shí) , 要注意該工序的操作方法 。UCLCLLCL57控制圖的觀察分析n 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過(guò)程或工作過(guò)程處于 “控制狀態(tài) ”. 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過(guò)程或工作過(guò)程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時(shí)間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) .n 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 :n 第一條 , 控制圖上點(diǎn)不超過(guò)控制界限 。平均值和個(gè)別值檢出力的說(shuō)明31CASE STUDYn 今有一製程，如今已知其製程中心已偏了2σ， 請(qǐng)問(wèn)如果用單值時(shí)其檢出力為多少 ?n 請(qǐng)問(wèn)如果用 n=4時(shí)其檢出力為多少 ?n 註：檢出力 =1β32普通原因、特殊原因n 普通原因指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過(guò)程中的許多變差的原因，我們稱之為： “處?kù)督y(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ”、 “受統(tǒng)計(jì)控制 ”，或有時(shí)簡(jiǎn)稱 “受控 ”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。2σ %177。 % %μ177。n 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本。n 就控制圖在工廠中實(shí)施來(lái)說(shuō)，英國(guó)比美國(guó)為早。1σ % %μ177。σ %177。使用平均值時(shí)，其分佈比較近似正態(tài)分佈，且其檢出力較佳。UCLCLLCL56控制圖的判讀n 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分佈來(lái)判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落於中間 1/3的區(qū)域 。n 連續(xù)的 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。5，試計(jì)算其 Cmk？78n A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：79n B計(jì)算控制限80n C過(guò)程控制解釋n (同 XR圖解釋 )81n D過(guò)程能力解釋82Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 7683Case studyn 請(qǐng)計(jì)算出上表的 Xs控制圖的控制限？n 請(qǐng)判定過(guò)程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？n 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時(shí)，那麼其新控制限為何？84n A收集數(shù)據(jù)n 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小於 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù)少一個(gè) (25個(gè)讀值可得 24個(gè)移動(dòng)極差 )，在很少的情況下，可在較大的移動(dòng)組 (例如 3或 4個(gè) )或固定的子組 (例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取 )的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾n 子組數(shù)量：要大於等於 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。n 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會(huì)如下圖：100 20
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