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掃描電子顯微鏡與電子探針分析資料(存儲版)

2025-01-22 05:38上一頁面

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【正文】 字化形式存儲于計算機中。 日立 s570: 34(2)放大倍數(shù) 掃描電鏡的放大倍數(shù)可用表達式 M=AC/AS式中 AC是熒光屏上圖像的邊長, AS是電子束在樣品上的掃描振幅。3839 掃描電鏡的像襯度及其應(yīng)用掃描電鏡的像襯度主要是利用樣品表面微區(qū)特征 (如形貌、原子序數(shù)或化學成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等 )的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強度的物理信號,導(dǎo)致陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域不同的亮度差異,從而獲得具有一定襯度的圖像。 44( 2)表面形貌襯度像的應(yīng)用A 斷口分析  材料斷口的微觀形貌往往與其化學成分、顯微組織、制造工藝及服役條件存在密切聯(lián)系,所以斷口形貌的確定對分析斷裂原因常常具有決定性作用。 53謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。2)平面上的 SE產(chǎn)額較小,亮度較低。對于導(dǎo)電性較差或絕緣的樣品若采用常規(guī)掃描電鏡來觀察,則必須通過噴鍍金、銀等重金屬或碳真空蒸鍍等手段進行導(dǎo)電性處理。32SEM的分辨率高低與 檢測 信號種 類 有關(guān)。 信號電子進入閃爍體即引起電離,當離子和自由電子復(fù)合后產(chǎn)生可見光。 23③ 掃描系統(tǒng) ?? 掃描系統(tǒng)是掃描電鏡的特殊部件,它由掃描發(fā)生器和掃描線圈組成。 ◆ 放大倍數(shù)連續(xù)調(diào)節(jié)范圍大 。9 供給電子光學系統(tǒng)使電子束偏向的掃描線圈的電源也是供給陰極射線顯像管的掃描線圈的電源,此電源發(fā)出的鋸齒波信號同時控制兩束電子束作同步掃描。第五章 掃描電子顯微鏡和電子探針分析? 掃描電子顯微鏡( Scanning electron microscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。它們分別被相應(yīng)的收集器接受,經(jīng)放大器按順序、成比例地放大后,送到顯像管。 ◆ 景深大 。 ? 第三個是弱透鏡,具有較長的焦距,習慣于
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