【正文】 連貯備 采用貯備設計方法 非工作貯備 工作貯備 容差與漂移設計 ?一個系統(tǒng)或設備，由許多元器件和單元部件組成。 六、可靠性試驗 ? 可靠性試驗 1. 環(huán)境應力篩選試驗 2. 可靠性增長試驗 3. 加速壽命試驗 4. 可靠性測定試驗 5. 可靠性鑒定試驗 6. 可靠性驗收試驗 可靠性試驗概述 ? 可靠性試驗是對產品的可靠性進行調查、分析和評價的一種手段。 ?具體參見 GB/T 15174： 1994《 可靠性增長大綱 》 、GJB 1407《 可靠性增長試驗 》 。 ? 可靠性鑒定試驗是一種驗證試驗。 具體參見 《 GJB8991990可靠性鑒定和驗收試驗 》 七、可靠性管理 ? 可靠性管理 1. 可靠性管理的組織 2. 可靠性計劃 3. 可靠性設計評審 4. 元器件的質量控制 5. 信息管理和改進措施 6. 可靠性教育 可靠性管理 ?產品的可靠性管理是企業(yè)建立質量管理體系中實施質量管理和質量控制的一項重要內容。 ?可靠性計劃一般可分為： 產品（或合同）的可靠性計劃； 管理項目的可靠性計劃。 APQP第一階段“ ”建立要求。 信息管理和改進措施 ?不斷改進閉環(huán)管理是可靠性工作的一項基本原則。 可靠性增長管理的目的： 在預定時間內達到預定的產品可靠性水平。 由生產部門根據 《 元器件老煉篩選 》 規(guī)程，以及生產進度要求，對關鍵元器件、外協(xié)件進行老煉化篩選，質檢部門負責最后檢驗和測量。確定所需的資源。 ? GJB450《 裝備研制與生產的可靠性通用大綱 》 。所用的試驗樣品要能代表生產批，同時應定已批量的大小。 一種是試驗中出現的故障數到規(guī)定的 r個故障數時停止試驗，叫定數截尾試驗。 ?規(guī)定的環(huán)境應力可以是產品工作的實際環(huán)境應力、模擬環(huán)境應力或加速變化的環(huán)境應力。田口首先強調參數設計，他認為在諸因素（ X1，X2， …， Xn）已定的條件下，容差分析能起的作用是有限的，而應該在系統(tǒng)設計之后，首先要搞好參數設計，選擇系統(tǒng)中各元器件的參數值，尋求最佳的參數組合，使產品性能及能達到目標值，又能在內、外干擾下波動小，設計出高質量的產品。因此，采用冗余設計并不是最好的設計方法，要視具體情況進行綜合平衡。若是這種性能不能滿足產品的可靠性要求或處于臨界狀態(tài)時，就要采取環(huán)境防護措施；并且選擇耐環(huán)境的元器件和材料等。一個系統(tǒng)的電磁兼容性指標將直接影響產品工作的可靠性。 ?電子設備熱設計要點 ： ； ； ； ； 。 ，對其頻率也要降額。這級降額可靠性增度效果最大，設計上也不會有什么困難。 5. 要綜合應用軟件功能與硬件功能，并盡可能用軟件補償或代替部分硬件功能。它是一項工程技術，要結合工程實際應用多項統(tǒng)計技術，但他絕不是一些數學公式的推導。 ? ②邏輯門符號： ? 或門，表示 B1或 B2任一事件單獨發(fā)生 (輸入 )時， A事件都可以發(fā)生 (輸出 )。其后，波音公司的哈斯爾（ Hasse）、舒勞德（ Schroder）、杰克遜（ Jackson）等人研制出故障樹分析法計算程序 。 將相關的單元進行串聯 /并聯的計算，計算出 λsp。這時產品已有原理圖、詳細工作電路圖、結構圖、詳細的元器件清單，以及產品的使用環(huán)境，元器件的質量等級和工作應力已確定的條件下，才能應用。 ?具體步驟如下： ? 數量。 ? 加權因子分配法公式： 對于指數分布串聯結構模式的系統(tǒng)有： Rs =∏Rj j=1,2,…,N 系統(tǒng)的可靠性預計 ? ，它是在產品研制的方案設計階段和詳細（技術）設計階段中，根據設計方案、設計選用的元器件、電路和組裝工藝以及產品使用的環(huán)境條件來預測產品未來的可靠性 (λs或 MTBFs)的一個過程 . ? ： 在產品研制方案階段，對產品的可靠性要量化，通過可靠性初步預計，估算 λs或 MTBFs，可作為可靠性分配的依據； 通過詳細的可靠性預計，可發(fā)現分系統(tǒng)、單元、元器件的薄弱環(huán)節(jié)和易出故障的問題，以便采取有效的補救措施，提高分系統(tǒng)和系統(tǒng)的可靠性； 從可靠性角度優(yōu)選設計方案，以利提高產品水平。 則 Rs=1∏（ 1Ri） ? 混聯系統(tǒng) 的可靠性計算 系統(tǒng)的可靠性分配 ?可靠性分配 ： 將產品的可靠性指標，按照產品的可靠性結構模式，應用數學方法分配給每一個分系統(tǒng)和每一個零部件的過程。 ? ? 系統(tǒng)是由各分系統(tǒng)組成的，系統(tǒng)的可靠性不僅和分系統(tǒng)的可靠性有關，而且，與系統(tǒng)的結構形式有十分密切的關系。 兩類 錯誤 關系 假設檢驗的步驟 一個完整的假設檢驗過程，通常包括以下四個步驟： 提出原假設（ Null hypothesis） 與備擇假設（ Alternative hypothesis） 確定適當的檢驗統(tǒng)計量， 并計算檢驗統(tǒng)計量的值 規(guī)定顯著性水平 α 作出統(tǒng)計決策 正態(tài)總體參數假設檢驗的步驟 第一步：建立原假設 H0和備擇假設 H1。 樣本的數字特征法：以樣本的數字特征作為相應總體 數字特征的估計量。我們所要做的就是通過對這些具體樣 本的情況的研究，來推知整個總體的情況。因為它們具有相同的分布。 ? 通過總體的分布可以把總體和樣本連接起來。 ? 隨機變量：設試驗的樣本空間為 Ω，在 Ω上定義一個單值實函數 X=X(e),e∈ Ω,對試驗的每個結果 e,Ｘ＝Ｘ (e)有確定的值與之對應。 一、可靠性工程概述 （三）浴盆曲線 對某一類產品而言，產品在不同的時刻有不同的失效率（也就是失效率是時間的函數），對電子產品而言，其失效率符合浴盆曲線分布 （如下圖）： λt t I II III ? 浴盆曲線，分三部份（ I、 II、 III三部份）： ? 第 I部份是早期失效階段。 耗損故障可以通過預防維修，防止故障的發(fā)生，延長產品的使用壽命。 ? 規(guī)定時間： 是可靠性區(qū)別于產品其他質量屬性的重要特征，可靠性是產品功能在時間上的穩(wěn)定程度。 一、可靠性工程概述 ②統(tǒng)計試驗階段（ 1957～ 1962年）：主要研制環(huán)境與可靠性試驗設備；開展產品統(tǒng)計抽樣壽命試驗；制訂電子產品可靠性標準和可靠性組織、管理規(guī)范；建立可靠性數據收集和交換系統(tǒng)。 可靠性技術發(fā)展，大致可分為四個階段： ①調查研究階段 (1950～ 1957年 )：這一階段主要對以電子管為重點的電子元件、器件進行現場數據收集和分析；研究壽命試驗方法并成立專門的可靠性組織。包括溫度、濕度、負荷電壓、連續(xù) /間斷方式等條件。 耗損故障： 是通過事前檢測或監(jiān)測可統(tǒng)計預測到的故障，是由于產品的規(guī)定性能隨時間增加而逐漸衰退引起的。一般記為 λ,它也是時間 t的函數 ,故也記為 λ(t),稱為失效率函數 ,有時也稱為故障率函數或風險函數；它反映 t時刻失效的速率 ,也稱為瞬時失效率。 隨機變量及其分布 ? 獨立重復試驗 在相同條件下，將某試驗重復進行 n 次，且每次試驗中任何一事件的概率不受其它次試驗結果的影響，此種試驗稱為 n次獨立重復試驗。 ? 每一次具體抽樣所得的數據，就是 n元隨機變量的一個觀察值，記為（ X1， ……， Xn）。從而，可以通過對樣本特征的研究達到對總體進行研究的目的。 對觀察者而言，總體是不了解的，了解的只是樣本的具體情況。 12( , )??參數的點估計 點估計的方法 ：數字特征法、矩法、極大似然法。但在假設檢驗中，一般均首先控制犯α 錯誤概率。如小型計算機，大型發(fā)電站等。 則： Rs=∏ Ri ? 并聯系統(tǒng) 的可靠性計算 分系統(tǒng) S1,S2,S3…只要有一個分系統(tǒng)正常工作，系統(tǒng)就能正常工作，或者說，只有當全部分系統(tǒng)失效時，系統(tǒng)才失效。 ? 可靠性指標的分配，不能采取平均分配法，因為一般情況下個分系統(tǒng)的功能不同，復雜程度不同，因而應考慮下面各因素： 重要性因素 復雜性因素 環(huán)境因素 標準化因素 維修性因素 元器件質量因素 在分配時，對于各因子 K的取值方法是這樣的：以某分系統(tǒng)為標準單元，其分配加權因子 Kji=1，其他分系統(tǒng)與標準單元相比較，取其加權因子，一般按照歷史資料和經驗加以分配。此種方法應用在方案設計階段。 ?元器件應力分析法 ： 應用此法是在產品設計的后期（技術設計）階段的可靠性預計。 λsp。 四、失效模式及分析 ? 失效模式及分析 1. 潛在失效模式及后果分析（ FMEA） 2. 故障樹分析（ FTA） 四、失效模式及分析 潛在失效模式及后果分析（ FMEA） 按照 《 GB78261987失效模式和后果分析程序 》 規(guī)定： 定義系統(tǒng)及其功能和要求 擬定功能和工藝流程圖 確定分析的基本原則 找出失效模式、原因及后果 找出失效的監(jiān)測、糾正措施 找出設計和工作中的預防措施 確定事件的危害度 估計失效概率 相關失效分析 建議措施 失效模式參見 《 GJB/Z299B電子設備可靠性預計手冊 》 四、失效模式及分析 潛在失效模式 潛在失效后果 嚴重度S 級