【正文】 的LED平均壽命。本標(biāo)準(zhǔn)給出了一種縮短試驗(yàn)時(shí)間求取LED平均壽命的方法，利用LED光功率緩慢退化公式，由退化系數(shù)外推不同應(yīng)力溫度下LED的失效時(shí)間（加速壽命），再用數(shù)值解析法得到正常環(huán)境溫度應(yīng)力下的LED平均壽命。本實(shí)驗(yàn)首先通過將LED放在熱電阻下加溫，改變了其所處的環(huán)境，加速了LED 的老化，縮短了實(shí)驗(yàn)周期。正常工作環(huán)境溫度(Ta＝25℃)下的平均壽命Lc,0通過公式（68）求得 （68）Lc,0為工作環(huán)境溫度（25℃）下的平均工作壽命；Tj,0 為某一工作環(huán)境溫度下的結(jié)溫。 光功率的初始值一直處于下降時(shí)的加速壽命示意圖若光功率出現(xiàn)先上升再下降的情況，如圖所示，則加速壽命為Lc,i＝ T1＋（T2－T1） (63)其中 光功率下降到初始值P0的試驗(yàn)時(shí)間為T1，用退化系數(shù)外推法求得的壽命為T2－T1 。每個(gè)加速應(yīng)力水平下的壽命試驗(yàn)的測試數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)m不應(yīng)少于5個(gè)（m≥5）。測量計(jì)算出來的壽命是LED平均壽命，即失效前的平均工作時(shí)間。主、輔ADC都采用高頻“斬波”技術(shù)來提供優(yōu)良的直流（DC）失調(diào)和失調(diào)漂移指標(biāo)，因而非常適合用于低溫漂且對噪聲抑制和抗電磁干擾能力要求較高的應(yīng)用場合。 采用常見78系列電源電路IC構(gòu)成的LED恒流驅(qū)動線路，其特點(diǎn)是成本低、結(jié)構(gòu)簡單、可靠性高；通過調(diào)整電位器阻值，即可方便調(diào)整恒流電流；適用電源電壓范圍大，驅(qū)動電流較精確穩(wěn)定，電源電壓變化影響較小。建議配置：CPU－PentiumII300以上內(nèi)存－128M，硬盤－6G以上顯示器－SVGA,17〃以上顯示分辯率－256色，1280768。99采用全新的管理方式，即數(shù)據(jù)庫的管理方式。TTL型產(chǎn)品型號的最后三位都是555，CMOS型產(chǎn)品的最后四位都是7555，它們的邏輯功能和外部引線排列完全相同。正常工作時(shí)，=1。555定時(shí)器的電路如圖所示。主、輔ADC都采用高頻“斬波”技術(shù)來提供優(yōu)良的直流（DC）失調(diào)和失調(diào)漂移指標(biāo)，因而非常適合用于低溫漂且對噪聲抑制和抗電磁干擾能力要求較高的應(yīng)用場合。ADuC848是ADI公司新推出的高性能24位數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)，它內(nèi)部集成有兩個(gè)高分辨率的Δ∑ADC、10/8通道輸入多路復(fù)用器、一個(gè)8位MCU和程序/數(shù)據(jù)閃速/電擦除存儲器。所以，在性能、功耗、體積等各方面都有傳統(tǒng)光電隔離器件（光耦）無法比擬的優(yōu)勢。LED電參數(shù)的測量，與一般二極管的測量方法相同，在規(guī)定測試條件下，采用電壓表一電流表的方法即可。 LED的CU特性曲線允許功耗P：假設(shè)流過LED的電流為IF，管壓降為UF，則功率消耗為P=UFIF。若LED電流失控，則LED長期工作在大電流下將影響其可靠性和壽命，甚至造成LED失效。在U0，且UUF的正向工作區(qū)，IF近似隨UF指數(shù)上升： (32)是指LED正常發(fā)光時(shí)的正向電流值， (為最大正向工作電流)以下。當(dāng)LED在脈沖電流驅(qū)動下工作時(shí)，在脈沖的上升沿從受激輻射開始達(dá)到發(fā)光強(qiáng)度穩(wěn)定值的90％為止所需要的時(shí)間。UF隨IF的變化而稍有變化，并且隨溫度的上升UF有所下降。而且入射光之入射角度、空間分布、以及極性都不會對輸出的光束強(qiáng)度和均勻度造成影響。所以可以通過測量正向電壓確定結(jié)溫:Tj = T0 +（Vt V0）/K其中T0 是作為參考的環(huán)境溫度, V0 是在T0 下的初始電壓。Rθ = ℃/W。在外殼中串聯(lián)有5個(gè)芯片。且結(jié)溫 Tj 通過Rθ (在pn結(jié)與銅板之間) 進(jìn)行計(jì)算。主要是引用“亞瑪卡西”（yamakoshi）的發(fā)光管光功率緩慢退化公式，通過退化系數(shù)得到不同加速應(yīng)力溫度下LED的壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)，再用“阿倫尼斯”（Arrhenius）方程的數(shù)值解析法得到正常應(yīng)力（室溫）下的LED 的平均壽命，簡稱“退化系數(shù)解析法”,該方法采用三個(gè)不同應(yīng)力溫度即165℃、175℃和185℃下，測量的數(shù)據(jù)計(jì)算出室溫下平均壽命的一致性。LED燈的使用壽命還取決于每天工作多少小時(shí)如圖表 。LED 芯片對溫度異常敏感，這也是半導(dǎo)體的共性。隨著LED生產(chǎn)技術(shù)水平的提高，產(chǎn)品的壽命和可靠性大為改觀，LED的理論壽命為10萬小時(shí)，如果仍采用常規(guī)的正常額定應(yīng)力下的壽命試驗(yàn)，很難對產(chǎn)品的壽命和可靠性做出較為客觀的評價(jià)，而我們試驗(yàn)的主要目的是，通過壽命試驗(yàn)掌握LED芯片光輸出衰減狀況，進(jìn)而推斷其壽命。LED具有高可靠性和長壽命的優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗(yàn)對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量，為此我司在實(shí)現(xiàn)全色系LED產(chǎn)業(yè)化的同時(shí)，開發(fā)了LED芯片壽命試驗(yàn)的條件、方法、手段和裝置等，以提高壽命試驗(yàn)的科學(xué)性和結(jié)果的準(zhǔn)確性。至今，人們?nèi)栽趯Ω吡炼人{(lán)光 LED 進(jìn)行不斷地完善。在其光效有所提高后，LED 被應(yīng)用于顯示器中。2 總體方案設(shè)計(jì) LED 的發(fā)光過程包括三個(gè)部分：正向偏壓下的載流子注入、復(fù)合輻射和光能傳輸。 LED的半衰期與 PN 結(jié)結(jié)點(diǎn)的溫度的關(guān)系LED 的半衰期與 PN 結(jié)（Tj 點(diǎn)），其關(guān)系為 式中， Bt 為使用t后的光通量， Bo 為初始使用的光通量； e為對數(shù)常數(shù)；c為常數(shù)；t 為使用時(shí)間；k 為溫度。燈具壽命和光源壽命不能混為一談：長期壽命測試方案一敘述：為了確認(rèn)LED燈具壽命是否達(dá)到5 10萬小時(shí)，需要進(jìn)行長期壽命試驗(yàn)，目前的做法基本上形成如下共識：因 GaN基的LED器件開始的輸出光功率不穩(wěn)定，所以按美國 ASSIST聯(lián)盟規(guī)定，需要電老化1000小時(shí)后，測得的光功率或光通量為初始值。采用此方法將會大大地縮短LED壽命的測試時(shí)間，有利于及時(shí)改進(jìn)、提高LED可靠性。LED 模塊安裝在銅基電路板上。因此我們用平均值作為最終測量結(jié)果。因此, 我們證實(shí)用兩種方法測得的數(shù)據(jù)可靠、準(zhǔn)確。熱電阻被焊接在LED的陽極管腳上, 它的電阻值由萬用 ( 4 ) ( VC 9802 A )來測量。系數(shù)K可以通過測量兩組不同的參考溫度和電壓得到K = (V1 V0 ) / ( T1 T0 ) ,也可以通過測量多組參考溫度和電壓作線性擬合得到。由于正向工作電壓的變化不大，所以正向工作電流變化時(shí)，一方面會引起耗散功率的變化，另一方面會引起我們最關(guān)心的發(fā)光強(qiáng)度的變化。反向漏電流是處于反偏置時(shí)的漏電流。1．IU特性是表征LED芯片PN結(jié)性能的主要參數(shù)。在環(huán)境溫度升高時(shí)，將下降。當(dāng)反向偏壓增加到使UUR時(shí)IR將突然增加而出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象。響應(yīng)時(shí)間是指輸入正向電流后LED開始發(fā)光(上升)和熄滅(下降)的時(shí)間。 ADM3251EADM3251E是ADI（Analogdevice,inc）公司推出基于其專利iCoupler和isoPower磁隔離技術(shù)的RS232隔離器。ADM3251E完全符合EIA/，并且數(shù)據(jù)傳輸速度達(dá)到460Kbps。，以使之運(yùn)行于32kHz外部晶振。ADuC848具有串行下載和調(diào)度模式，可通過EA引腳提供引腳競爭模式，同時(shí)支持Quick分壓器為兩個(gè)電壓比較器CC2提供參考電壓。時(shí)，C1輸出為低電平，C2輸出為高電平，即=0，=1，基本RS觸發(fā)器被置0，晶體管T導(dǎo)通，輸出端u0為低電平。555定時(shí)器成本低，性能可靠，只需要外接幾個(gè)電阻、電容，就可以實(shí)現(xiàn)多諧振蕩器、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器及施密特觸發(fā)器等脈沖產(chǎn)生與變換電路。是在桌面環(huán)境下第一個(gè)以獨(dú)特的設(shè)計(jì)管理和團(tuán)隊(duì)合作技術(shù)為核心的全方位的印制板設(shè)計(jì)系統(tǒng)。并聯(lián)連接形式：即將多個(gè)LED的正極與正極、負(fù)極與負(fù)極并聯(lián)連接，其特點(diǎn)是每個(gè)LED的工作電壓一樣，總電流為ΣIFn，為了實(shí)現(xiàn)每個(gè)LED的工作電流If一致，要求每個(gè)LED的正向電壓也要一致。在硬件調(diào)試方面，以使之運(yùn)行于32kHz外部晶振。ADuC848具有串行下載和調(diào)度模式，可通過EA引腳提供引腳競爭模式，同時(shí)支持Quick試驗(yàn)中應(yīng)測量的主要參數(shù)為光通量（或光功率）、色溫（色坐標(biāo)），其它參數(shù)為熱阻、正向電壓、色容差等。對于以光通量衰減作為單一失效判據(jù)，通過光通量衰減系數(shù)計(jì)算某一產(chǎn)品的試驗(yàn)截止時(shí)間和某一結(jié)溫下的工作壽命（簡稱退化系數(shù)外推解析法），按不同應(yīng)用要求，取光通量衰減到初始值的50％或70％作為失效判據(jù)。試驗(yàn)過程中由于非產(chǎn)品本身原