超聲波探傷指導(dǎo)書(存儲(chǔ)版)
【正文】 02—2008標(biāo)準(zhǔn)）a以直徑3mm的橫孔為基礎(chǔ)畫DAC曲線。如圖3 圖32以DAC曲線法確定檢測(cè)靈敏度時(shí)將缺陷波高通過靈敏度調(diào)節(jié)降至評(píng)定線，若提高（降低xdB）.則缺陷記錄為φ2177。二儀器調(diào)節(jié)1探測(cè)范圍，~2倍。表面補(bǔ)償及曲率補(bǔ)償，用試塊與工件底波比較法確定，該靈敏度即為檢測(cè)靈敏度。500＜D≤1000mm 四條掃查線，間隔45176。用RB3試塊。進(jìn)行100%掃查，相鄰探頭移動(dòng)覆蓋區(qū)至少為有效探頭直徑的10%四 缺陷當(dāng)量的計(jì)算1利用工件底波調(diào)靈敏度發(fā)現(xiàn)缺陷波后，將缺陷波調(diào)至基準(zhǔn)高50%，記錄下降的dB值△dB則缺陷當(dāng)量φf缺陷指示長(zhǎng)度用6dB法半徑為R的實(shí)心軸，缺陷指
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