近紅外光譜nir分析技術(shù)的應(yīng)用(存儲(chǔ)版)
【正文】 驗(yàn)數(shù)據(jù)建立具有數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系的光譜文件，再使用該文件對(duì)舊方程進(jìn)行擴(kuò)展，形成新方程，并對(duì)新方程進(jìn)行驗(yàn)證。以最高交互驗(yàn)證決定系數(shù)(1VR)和最低SECV值確定最佳校正模型。 分析必須要依賴模型，對(duì)模型的建立要求較高，投入較大。今后，近紅外光譜檢測(cè)分析技術(shù)會(huì)擁有更廣闊的應(yīng)用前景。所以對(duì)組分的分析而言，%才適合采用近紅外光譜分析技術(shù)。異常值判斷與剔除是影響模型預(yù)測(cè)效果的關(guān)鍵因素。數(shù)據(jù)庫(kù)小，模型的適用范圍就必然受到限制。 建立數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系，使光譜圖和其參考數(shù)據(jù)之間形成一一對(duì)應(yīng)映射的關(guān)系，從而建立一個(gè)帶參考數(shù)據(jù)的光譜文件。二、近紅外光譜儀的應(yīng)用NIR分析技術(shù)的測(cè)量過(guò)程分為校正和預(yù)測(cè)兩部分（如圖一所示），(1)校正：①選擇校正樣品集，②對(duì)校正樣品集分別測(cè)得其光譜數(shù)據(jù)和理化基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，③將光譜數(shù)據(jù)和基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，用適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)計(jì)量方法建立校正模型；(2)預(yù)測(cè)：采集未知樣品的光譜數(shù)據(jù)，與校正模型相對(duì)應(yīng)，計(jì)算出樣品的組分。因此，NIR能反映物質(zhì)的組成和結(jié)構(gòu)信息，從而可以作為獲取信息的一種有效載體。這些值測(cè)定的精確度是近紅外光譜運(yùn)用數(shù)學(xué)模型進(jìn)行定量分析精確度的理論極限。 模型維護(hù)與擴(kuò)展 為什么要維護(hù)與擴(kuò)展校正模型建立一個(gè)校正模型通常是從一個(gè)小的光譜數(shù)據(jù)
醫(yī)療健康相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1