功能粉體材料制備ppt課件(存儲版)
【正文】 : ?除了可以測量粒度以外還可以進行一般的形貌特征分析 。B為衍射線半高寬。 )進行計算。 ?取樣量較少 ,代表性不強 ,適合測量粒度分布范圍較窄的樣品。 ? 粉末樣品在介質中的分散好壞，影響測量結果。 ?主要缺點 :分辨率較低 ,不適于測量粒度分布范圍很窄的樣品。(2)測量速度慢 ,時間長 ,重現(xiàn)性差 。分別用不同廠家生產的不同型號的激光粒度儀進行了測定 ,測試結果見表 2。 Xoptical electron spectrum 通過測定物質的表層 (約 10nm)，可以獲得物質表層的構成元素和化學結合狀態(tài)等方面的信息。超細粉體的顆粒十分細小 ,在正常情況下通常以聚集體的形式存在 ,因此將聚集體進行再分散是測定超細粉體粒度及粒度分布的重要條件。在粒度測試中 ,不同測試原理的儀器即使在同樣的測試條件下 ,所得到的粒度測定結果是不相同的。?s和 ?f分別表示顆粒和沉降液的密度 。測量一個樣品一般只需 1～ 2min。 ? 測試范圍廣： 1～ 3000nm。 粉末形狀內涵 ?光學顯微鏡（ Optical microscope） ?掃描電子顯微鏡（ Scan electron microscope ， SEM) ?透射 電子顯微鏡（ Transmission electron microscope ， TEM) 粉末形狀表征方法 放大倍數(shù) ,成像特征和成像機理不同 .事實上這三種顯微鏡的每一種又可以根據(jù)其成像特征和成像機理細分為幾種甚至十幾種相關的顯微鏡 .一般分析時根據(jù)粉末大小和要表征的內容 ,考慮到分析成本進行選擇 . 常用粉末粒度及其分布表征方法 ?顯微鏡 +圖象分析軟件（適用范圍廣，統(tǒng)計范圍有限） ?篩分析（ Sieve Analysis） ?費氏粒度分析儀（ FSSS Particle Size Analyzer） ?斯科特粒度分析儀（ Scott Particle Size Analyzer ，sedimentation analysis) ?激光粒度分析儀（ Lazer Particle Size Analyzer） 顆粒圖像處理儀 顆粒圖像處理儀是由光學顯微鏡、 CCD攝像機、圖像捕捉卡和計算機組成。
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