功能粉體材料制備ppt課件(存儲版)
【正文】 : ?除了可以測量粒度以外還可以進(jìn)行一般的形貌特征分析 。B為衍射線半高寬。 )進(jìn)行計算。 ?取樣量較少 ,代表性不強(qiáng) ,適合測量粒度分布范圍較窄的樣品。 ? 粉末樣品在介質(zhì)中的分散好壞，影響測量結(jié)果。 ?主要缺點(diǎn) :分辨率較低 ,不適于測量粒度分布范圍很窄的樣品。(2)測量速度慢 ,時間長 ,重現(xiàn)性差 。分別用不同廠家生產(chǎn)的不同型號的激光粒度儀進(jìn)行了測定 ,測試結(jié)果見表 2。 Xoptical electron spectrum 通過測定物質(zhì)的表層 (約 10nm)，可以獲得物質(zhì)表層的構(gòu)成元素和化學(xué)結(jié)合狀態(tài)等方面的信息。超細(xì)粉體的顆粒十分細(xì)小 ,在正常情況下通常以聚集體的形式存在 ,因此將聚集體進(jìn)行再分散是測定超細(xì)粉體粒度及粒度分布的重要條件。在粒度測試中 ,不同測試原理的儀器即使在同樣的測試條件下 ,所得到的粒度測定結(jié)果是不相同的。?s和 ?f分別表示顆粒和沉降液的密度 。測量一個樣品一般只需 1～ 2min。 ? 測試范圍廣： 1～ 3000nm。 粉末形狀內(nèi)涵 ?光學(xué)顯微鏡（ Optical microscope） ?掃描電子顯微鏡（ Scan electron microscope ， SEM) ?透射 電子顯微鏡（ Transmission electron microscope ， TEM) 粉末形狀表征方法 放大倍數(shù) ,成像特征和成像機(jī)理不同 .事實(shí)上這三種顯微鏡的每一種又可以根據(jù)其成像特征和成像機(jī)理細(xì)分為幾種甚至十幾種相關(guān)的顯微鏡 .一般分析時根據(jù)粉末大小和要表征的內(nèi)容 ,考慮到分析成本進(jìn)行選擇 . 常用粉末粒度及其分布表征方法 ?顯微鏡 +圖象分析軟件（適用范圍廣，統(tǒng)計范圍有限） ?篩分析（ Sieve Analysis） ?費(fèi)氏粒度分析儀（ FSSS Particle Size Analyzer） ?斯科特粒度分析儀（ Scott Particle Size Analyzer ，sedimentation analysis) ?激光粒度分析儀（ Lazer Particle Size Analyzer） 顆粒圖像處理儀 顆粒圖像處理儀是由光學(xué)顯微鏡、 CCD攝像機(jī)、圖像捕捉卡和計算機(jī)組成。
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