【正文】 ⑴、 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。b 2/3 B 級： f ≥ 15 d 1曝光曲線 59 ⑴ 、對每臺在用的射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時 ,像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。 ②環(huán)形焊接接頭源置于中心周向曝光，至少在圓周上等間隔地放置 3個像質(zhì)計 。 ①識別標記一般包括：產(chǎn)品編號、焊接接頭編號、部位編號和透照日期。 ⑵、評片時，底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定： 當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 D≤ 時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于 30cd/m2； 66 當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 D＞ ,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于 10cd/m2。 ⑶、底片的像質(zhì)計靈敏度符合規(guī)定 ⑷、 底片評定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。 ⑸、圓形缺陷的分級評定 ① 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質(zhì)量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形。 ⑹、條形缺陷的分級評定 ①條形缺陷按單個條形缺陷最大長度和條形缺陷累計最大長度進行評定。 ② Ⅱ 級和 Ⅲ 級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和夾銅缺陷。超過上述規(guī)定時接頭質(zhì)量應(yīng)降低一級。 測定時，對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面、靠近被測未焊透缺陷附近部位。 ② Ⅱ 級和 Ⅲ 級焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透、夾銅。當交點在兩區(qū)域的分界線上時 ,應(yīng)取較大數(shù)值作為所需的最少透照次數(shù)。 從圖中確定透照次數(shù)的步驟是 :計算出 T/Do、Do/f， 在橫坐標上找到 T/Do值對應(yīng)的點 ,過此點畫一垂直于橫坐標的直線 。對各類缺陷分別評定級別，取質(zhì)量級別最低的級別作為綜合評級的級別；當各類缺陷的級別相同時，則降低一級作為綜合評級的級別。 ⑷、 圓形缺陷的分級評定 對小徑管缺陷評定區(qū)取 10mm 10mm。 75 母材公稱厚度 T＞ 5mm的 Ⅱ 級接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于 20個。 73 2鋁制熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級 ⑴、范圍 厚度為 2～ 80mm，材質(zhì)為鋁及鋁合金 ⑵、缺陷類型 裂紋、未熔合、未焊透、夾銅、條形缺陷和圓形缺陷六類。 ⑤ 缺陷長徑大于 T/2焊接接頭質(zhì)量評為 Ⅳ級。 ③焊接接頭中缺陷超過 III級者為 Ⅳ 級。雙片疊加觀察僅限于 A級，疊加觀察時，單片的黑度應(yīng)不低于 。 2評片要求 ⑴、 評片人員在評片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時間。專用像質(zhì)計應(yīng)能識別不少于二根金屬絲。 62 ⑵ 、象質(zhì)計數(shù)量 ①原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計的影像。 若底片上不出現(xiàn) “ B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的 “ B”字影像，則說明背散射防護符合要求。 當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量進行換算。 1射線源至工件表面的最小距離 57 ⑴ 、所選用的射線源至工件表面的距離 f應(yīng)滿足下式的要求： A 級： f ≥ d 54 ⑷ :平移距離計算 : Ⅰ 例題：用 2022X射線機透照 φ51 焊縫，已知焦距 F=600mm, 焊縫寬度 b=10mm。 透照 2次。 Ⅰ 透照方式選擇原則 在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式 ,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。 射線檢測技術(shù)等級選擇 ⑴、射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。黑度片每 2年檢定一次。 射線檢測技術(shù) 分為三級： A級 —— 低靈敏度技術(shù)； AB級 —— 中靈敏度技術(shù)； B級 —— 高靈敏度技術(shù)。 ⑷ 、 小徑管 外直徑 Do小于或等于 100mm的管子 。 （ 2）、距離防護 — 射線強度與距離的平方成反比，平大人與射源之間的距離?，F(xiàn)將管電流改為 10mA 、焦距改為 800mm、其它條件不變，要得到黑度相同的射線照片，曝光時間應(yīng)變?yōu)槎嗌伲? tiEFFII ??? ....212221? 2221221121FFtitiEE ???22222111222211FtiFtiFEFE ???? 或33 解： )分鐘由已知(6008001055.800. . .10600..5. . .5：22212221122222211122111?????????????FFiittFtiFtiFiFti34 ③ 、利用膠片特性曲線修正曝光量： 公式： 例題：透照某工件，曝光量度 10mAm時得到的底片黑度為 ，為使底片黑度達到 ,問曝光量應(yīng)變?yōu)槎嗌伲浚ㄒ阎z片特性曲線上=,=） 解： 121012 L g EL g EEE ??m i 10101012 12 ?????? ?????m A mEE L gEL gE35 ④ 、綜合計算： 例題 1：焦距離 500mm、管電壓力 200KV、管電流通渠道 5mA、曝光 4分鐘得到的底片黑度為 。 解：已知 d=3mm,b=30mm,F=600mm 代入公式 ： Ug＝０ .15(mm) 12g LLdUbFdbUg ??? 或bFdbUg ??28 射線曝光條件包括的內(nèi)容： X射線機（型號、規(guī)格）； 射線膠片（型號）； 增感屏（類型、厚度）； 焦距（或源到工件表面距離）； 管電壓； 管電流；曝光時間。 特別是對裂紋之類方向性很強的缺陷 ,由于 其取向和密閉程度的不同 ， 即使底片上顯 示的象質(zhì)計靈敏度很高 ， 有時也有難于檢 出甚至完全不能檢出的情況 25 三、射線檢測工藝 射線照相對比度 ，它取決于： ①、主因?qū)Ρ榷?由于不同區(qū)域射線強度差異所產(chǎn)生的對比度叫主因?qū)Ρ榷取闈M足底片觀察要求，觀片燈亮度至少應(yīng)為多少？ 解： 00/10103010 mcdLLLLLgDDtt???????由22 1射線膠片的襯度（梯度、對比度、反差）（ P61）： 膠片特性曲線上某一點切線的斜率稱為膠片的梯度（襯度或反差）。 X射線機訓(xùn)機的目的： （ 習(xí)題 P38390） 主要目的是為了提高 X射線管的真空度。 ⑶、玻殼 — 支撐電極和保持射線管的真空度。 當試件中存在缺陷時 ， 由于缺陷使試件厚度發(fā)生變化 ， 且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)與試件不同 ， 因此透過缺陷部位和完好部位的射線強度就產(chǎn)生了差異 。 寬束射線 — 是指透過物體的射線中既包含一次透射線 ， 也包含散射線 。（已知：鎢靶 Z=74，比例系數(shù)η 0= 106). 解： )()( 0m in AKVV??ZV0?? ?% 60 ?????? ?ZV??5 X射線和 γ 射線的相同和不同之處： （ 習(xí)題 P20—371） a、 相同之處： X射線和 γ 射線都是電磁波 ，它們具有相同的性質(zhì) ， 如不可見 、 依直線傳播 、不帶電 、 能穿透物質(zhì) 、 能使物質(zhì)電離 、 使膠片感光 、 能發(fā)生生物效應(yīng)等 。 射線探傷用的射線： X射線、 γ 射線 — 電磁波；中子射線 — 粒子輻射(容易被氫等輕物質(zhì)俘獲 ,而易穿透鉛等重金屬 )。 Ⅰ 連續(xù) X射線和標識 X射線的不同之處： （ 習(xí)題 P20— 374） a、 連續(xù) X射線是由高速電子與原子核的庫侖場作用而產(chǎn)生的；標識 X射線是由高速電子與原子核外殼層電子作用而產(chǎn)生的 。 6 γ 射線的衰變律和半衰期： （ P8） ⑴ 、 衰變律： ⑵ 、 半衰期： 利用半衰期計算任一時刻的源活度： Ⅰ 例題：已知 Ir192源的半衰期為 75天。 9 1 單色窄束射線的衰減律和半價層： （ P1921） 衰減律 ： 半價層 ： 利用半價層計算射線強度： 例題：已知某射線源，鉛的半價層為 3mm。 缺點：①、可檢出的最小缺陷（絕對靈敏度）與工件厚度有關(guān)，厚度越大，絕對靈敏度越低；②、缺陷檢出率與缺陷方向有關(guān)，對于面狀 缺陷和細微裂紋之類的缺陷容易漏檢； ③、檢驗速度慢，檢測成本高；④、對人體有害，需要進行安全防護。 b、 有效焦點 — 實際焦點