qc中的統(tǒng)計方法(存儲版)
【正文】 0100CumulativePercentCause of FailureCategories: 1 Contamination 2 Oxide Defect 3 Silicon Defect4 Corrosion 5 Metallization 6 Doping7 MiscellaneousPareto Analysis by ProcessN = 1620102030405060PercentProcessAN = 1061 2 3 4 5 6 70102030405060PercentProcessBFailure Causes: 1 Contamination 2 Oxide Defect 3 Corrosion4 Silicon Defect 5 Doping 6 Metallization7 MiscellaneousCleaningProcessPareto Analysis by Process and DayMarch 1N = 32010203040506070PercentMarch 2N = 35March 3N = 34March 4N = 25March 5N = 36N = 301 2 3 4 5 6 7010203040506070PercentN = 271 2 3 4 5 6 7N = 171 2 3 4 5 6 7N = 161 2 3 4 5 6 7N = 161 2 3 4 5 6 7Failure Causes: 1 Contamination 2 Oxide Defect 3 Corrosion4 Metallization 5 Doping 6 Silicon Defect7 MiscellaneousWhere Did The Problems Occur?March 10510152025CountMarch 2 March 3 March 4 March 51 2 3 4 5 6 70510152025Count1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7Failure Causes: 1 Contamination 2 Oxide Defect 3 Corrosion4 Metallization 5 Doping 6 Silicon Defect7 MiscellaneousSeverity: Highest 2Status: With Controls Without ControlsFitted Beta Distribution of Plate Gaps50 MeasurementsSpecifications and Curve: Lower=Upper=Beta(Theta=0 Scale= a= b=)Percent051015202530Plate Gap in cm （ ； 3 （ 。 計量值的控制圖有兩種基本類型：一種用來控制分布的中心趨勢 ， 最常用的是圖；另一種用來控制分布的離勢 ， 最常用的是 R圖和 s圖 。C,H2O一定處在液體狀態(tài) （ 必然事件 ） ， 而不處于氣體和固體狀態(tài) （ 不可能事件 ） 。 產(chǎn)品質(zhì)量具有變異性是眾所周知的事實 ， 但在工業(yè)革命以后 ， 人們一開始便誤認為 ， 現(xiàn)在由機器來生產(chǎn)了 ， 生產(chǎn)的產(chǎn)品應該是一樣的 。 道奇則與羅米格提出了抽樣檢驗和抽樣檢驗表 。 2 SPC(Statistical Process Control,統(tǒng)計過程控制 )理論和一些最新進展 。 統(tǒng)計的推斷 1． 4 波動的原因（因果圖，赤川圖，魚骨圖， Ishikawa Chart） 1． 5 統(tǒng)計基
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