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2025-03-08 15:10 上一頁面

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【正文】 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯(明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除) d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處(對(duì)于 25 子組,如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域)則應(yīng)對(duì)下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查: 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè) 不同平均性能的過程流的測(cè)量 8132 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時(shí),應(yīng)立即進(jìn)行分析,以便識(shí)別條件并防止 再發(fā)生,由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的, 希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 過程惡化。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。 8112 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 ( P) P=np /n n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量; np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 43 評(píng)價(jià)過程能力 當(dāng) Cpk1 說明制程能力差 , 不可接受 。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程(所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)) 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL UCL 范圍 不能符合規(guī)范的過程(有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出) LCL LCL UCL UCL 范圍 范圍 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系(對(duì)于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大) X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 41 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值, d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注: 只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài),則可用估計(jì) 的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差來評(píng)價(jià)過程能力。 注:如果存在幾個(gè)過程流,應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 341 超出控制限的點(diǎn): a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多: a1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a2 過程已更改,或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)(可能是一件獨(dú)立的 事件)或是一種趨勢(shì)的一部分。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題,例如:出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 b 一般情況,各點(diǎn)與 R 的距離:大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi),大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 311 超出控制限的點(diǎn) a 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) , 應(yīng)分析 。在這種情況下沒有下控制限,這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組, 6個(gè)“同樣的”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 ( 例如:平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ,則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ) 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接,瀏覽各點(diǎn)是否 合理,有無很高或很低的點(diǎn),并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。) 112 子組頻率 :在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù),這樣子組才能 反映潛在的變化,這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。C ) 工程更改處理時(shí)間( h) X圖 R圖 接上頁 測(cè)量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 不精密 精密 準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 使用控制圖的準(zhǔn)備 建立適合于實(shí)施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系,分析每個(gè)階段的影響 因素。只有過程變差的普通原因存在且不 改變時(shí),過程的輸出才可以預(yù)測(cè)。 變差( Variation) 過程的單個(gè)輸出之間 不可避免的差別 ;變差的原因可分為兩類:普通原因和特殊原因。 SPC常用術(shù)語解釋 名稱 解釋 平均值 ( X) 一組測(cè)量值的 均值 極 差( Range) 一個(gè)子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ( Sigma) 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值(例如:子組均值)的分布寬度的 量度 ,用希臘字母 σ或字母 s(用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差)表示。spc SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計(jì)制程管制 目錄 ? 1 SPC的產(chǎn)生 ? 2 SPC的作用 ? 3 SPC常用術(shù)語解釋 ? 4 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述 ? a 制程控制系統(tǒng) ? b 變差的普通及特殊原因 ? c 局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施 ? d 過程控制和過程能力 ? e 過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制 ? f 控制圖 ? 5 管制圖的類型 ? 6 管制圖的選擇方法 ? 7 計(jì)量型數(shù)據(jù)管制圖 ? a 與過程有關(guān)的控制圖 ? b 使用控制圖的準(zhǔn)備 ? c XR 圖 ? d X s 圖 ? e ?X R圖 ? f XMR圖 ? 8 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 ? a p 圖 b np 圖 c c 圖 d u 圖 SPC的產(chǎn)生 ? 工業(yè)革命以后, 隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)展,大規(guī)模生產(chǎn)的形成, 如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量 成為一個(gè)突出問題,單純依靠事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求,必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。 分布寬度( Spread) 一個(gè)分布中從 最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) ?x 將一組測(cè)量值從小到大排列后, 中間的值 即為中位數(shù)。 特殊原因 ( Special Cause) 一種間斷性的,不可預(yù)計(jì)的,不穩(wěn)定的變差根源。 特殊原因: (通常也叫可查明原因)是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成(整個(gè)) 過程的分布改變。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到: 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測(cè)量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測(cè)的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班 2次,或一小時(shí)一 次等。 52 確保所畫的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實(shí)線。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種: 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ) 測(cè)量系統(tǒng)變化 ( 如:不同的檢驗(yàn)員或量具 ) c 有一點(diǎn)位于控制限之下 , 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 分布的寬度變小 ( 變好 ) 測(cè)量系統(tǒng)已改變(包括數(shù)據(jù)編輯或變換) 不受控制的過程的極差(有超過控制限的點(diǎn)) UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì): ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè); ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降; a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部: a1 輸出值的分布寬度增加 , 原因可能是無規(guī)律的 ( 例如:設(shè)備工作不正常或固定松動(dòng) ) 或是由于過程中的某要素變化 ( 如使用新 的不一致的原材料 ) , 這些問題都是常見的問題 , 需要糾正 。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處(對(duì)于 25子組,如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域),則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查:
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