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qc七大手法管制圖-免費(fèi)閱讀

2025-03-03 08:21 上一頁面

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【正文】 11. 制程管制做得不好 , 管制圖形同虛設(shè) , 要使管制圖發(fā)揮效 用 , 應(yīng)使產(chǎn)品制程能力中之 Cp值 (制程精密度 )大於 1以上。 5. 抽樣方法以能取得合理樣組為原則。 A B C C B A UCL LCL 184 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) 第九章 管制圖 檢定規(guī)則 5: (9 單側(cè) ) 連續(xù) 9點(diǎn)在 C區(qū)或 C區(qū)以外者。 這些超限之點(diǎn)子必定有異常原因 , 故應(yīng)追究調(diào)查原因並予以削除之。 (4) 雙管制圖 ,二個(gè)管制圖之繪製間隔限最少距 20mm 以上 ,可 行的話最好距 30mm左右。 (b) 計(jì)算平均單位缺點(diǎn)數(shù) U: (c) 計(jì)算管制界限 : 中心線 (CL)=U 管制上限 (UCL)=U + 3 管制下限 (LCL)=U ﹣ 3 (d) 同 C管制圖 (d)步驟。 (b) 計(jì)算平均不良數(shù) P n (n P)。2,3…,n。 第九章 管制圖 K i= 1 K i= 1 176 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) (i ) 繪製中心線及管制界限 ,並將各點(diǎn)點(diǎn)入圖中。 常見的有: (a) 不良率管制圖 (P chart) (b) 不良數(shù)管制圖 (Pn chart,又稱 np chart 或 d chart) (c) 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (C chart) (d) 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (U chart) 第九章 管制圖 174 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) 2. 依管制圖之用途分類 : (1) 解析用管制圖 : 此種管制圖先有數(shù)據(jù) ,後有管制界限。 % % μ 177。 3σ 之外 。 管制狀態(tài) : 第九章 管制圖 上管制界限 (UCL) 中心線 (CL) 下管制界限 (LCL) 170 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) 三、管制圖的原理 : 一般在製造的過程中 ,無論是多麼精密的設(shè)備、環(huán)境 , 其品質(zhì)特性一定都會有變動 ,絕無法做完全一樣的製品 。 那麼到底高到何種程度或低至何種善才算吾人所謂異常 ? 故設(shè)定一合理之高低界限 , 作為吾人探測現(xiàn)場制程狀況是否在“管理”狀態(tài) , 即為管制圖之基本根源。 在管制圖上有三條筆直的橫線 , 中間的一條為中心線(Central line, CL) , 一般以藍(lán)色之實(shí)線繪製。 第九章 管制圖 ( 偶然原因之變動 ) ……….………....…… (異常原因之變動 ) . ..….. … … ……… …… …………… …….…. 分類 變異之情況 影響程度 追查性 制程之改進(jìn) 偶然原因 系統(tǒng)的一部份 ,很多一定有且無法避免 每一個(gè)都很 小 , 不明顯 不值得、成本高、不經(jīng)濟(jì) 修改-經(jīng)常且 穩(wěn)定之製造 異常原因 本質(zhì)上是局部的 ,很少或沒有 ,可避免的 有明顯之影 響而且巨大 值得且可找到 , 否則造成大損失 創(chuàng)造-經(jīng)常且 穩(wěn)定之制程 171 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) 三、管制圖的原理 : 2. 管制圖界限之構(gòu)成 : 管制圖是以常態(tài)分配中之三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差為理論依據(jù) , 中心線 為平均值 , 上、下管制界限以平均數(shù)加減三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 ( 177。Κσ 在內(nèi)之或然率 在外之或然率 μ 177。 第九章 管制圖 % % % 3σ 2σ 1σ +1σ +2σ 3σ μ 3σ 3σ μ 3σ 3σ μ UCL CL LCL 三、管制圖的原理 : 2. 管制圖界限之構(gòu)成 : 173 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) 四、管制圖之種類 : : (1) 計(jì)量值管制圖 : 所謂計(jì)量值係指管制圖之?dāng)?shù)據(jù)均屬於 由量具實(shí)際量測而得 。 (取至測定值最小單位下一位數(shù) ) e) 計(jì)算各組之全距 R。 第九章 管制圖 ~ ~ K i= 1 ~ K i= 1 ~ ~ ~ ~ ~ ~ ~ ~ 177 品管七大手法 XX企管顧問集團(tuán) (3)XRm管制圖 : (a) 收集數(shù)據(jù) 20~25個(gè) ,並依先後順序排列記入數(shù)據(jù)欄內(nèi)。 (c) 計(jì)算平均不良率 P。 C = (c) 計(jì)算管制界限 : 中心線 (CL)=C 管制上限 (UCL)=C+√C 管制下限 (LCL)=C﹣ √C (d) 同 p n 管制圖之步驟 (d),(e)。各線上須依 線別分別記入 CL,UCL,LCL等符號。 第九章 管制圖 182
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