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圖形刻蝕技術(shù)-免費(fèi)閱讀

2025-01-22 15:08 上一頁面

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【正文】 二月 21二月 2112:04:0812:04:08February 02, 20231意志堅(jiān)強(qiáng)的人能把世界放在手中像泥塊一樣任意揉捏。 二月 2112:04 下午 二月 2112:04February 02, 20231少年十五二十時(shí),步行奪得胡馬騎。 12:04:08 下午 12:04 下午 12:04:08二月 21沒有失敗,只有暫時(shí)停止成功!。 12:04:0812:04:0812:042/2/2023 12:04:08 PM1以我獨(dú)沈久,愧君相見頻。上層淀積 1um厚的 InP,摻雜為21018( P+ )。第 7章:圖形刻蝕技術(shù)(Chapter 11)ImplantDiffusionTest/SortEtchPolishPhotoCompleted waferUnpatterned waferWafer startThin FilmsWafer fabrication (frontend) ? 問題:– 常見的刻蝕對象: SiO Si3N PolySi、磷硅玻璃、鋁或鋁合金、襯底材料等– 即:金屬刻蝕、介質(zhì)刻蝕、硅(半導(dǎo)體)刻蝕Photoresist mask Film to be etched(a) Photoresistpatterned substrate (b) Substrate after etchPhotoresist mask Protected filmEtch Bias、 Undercut 、 Slope and Overetch(a)BiasResistFilmSubstrateWbWaUndercutSubstrateResistFilmOveretchS = EfErEf NitrideOxideEr選擇比: SEf=被刻蝕材料的刻蝕速率Er=掩蔽層材料的刻蝕速率? 對刻蝕的基本要求:– 圖形的高保真:橫向腐蝕和各向異性腐蝕– 刻蝕剖面:– 選擇比:光刻膠和不同材料的腐蝕速度– 關(guān)鍵尺寸( CD)控制– 均勻性:小線條和大硅片– 清潔:殘?jiān)次郇C 損傷:? :即,化學(xué)腐蝕 ()– 腐蝕液:– SiO2: HF:NH4F:H2O=3毫升: 6克: 10毫升( 36176。刻蝕阻擋層采用 Si3N4,厚度 1um。 二月 2112:04:0812:04Feb2102Feb211故人江海別,幾度隔山川。 二月 21二月 21Tuesday, February 02, 2023很多事情努力了未必有結(jié)果,但是不努力卻什么改變也沒有。 2023/2/2 12:04:0812:04:0802 February 20231空山新雨后,天氣晚來秋。 02 二月 202312:04:08 下午 12:04:08二月 211最具挑戰(zhàn)性的挑戰(zhàn)莫過于提升自我。勝人者有力,自勝
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