電子元器件失效性分析報(bào)告-免費(fèi)閱讀
【正文】 是狼就要練好牙，是羊就要練好腿。待機(jī)(stand by)電流顯著減小說明有開路失效部位。如金屬電遷移、腐蝕、熱疲勞應(yīng)力－強(qiáng)度模型的應(yīng)用l 器件抗靜電放電（ESD）能力的測試溫度應(yīng)力－時(shí)間模型EdMdt=Ae?kTT高，反應(yīng)速率大，壽命短E大，反應(yīng)速率小，壽命長溫度應(yīng)力的時(shí)間累積效應(yīng)Mt?M0=Ae?EkT(t?t0)失效原因：溫度應(yīng)力的時(shí)間累積效應(yīng)，特性變化超差與力學(xué)公式類比dMdt=Ae?EkTdvdt=FmMt?M0=Ae?EkT(t?t0)mvt?mv0=F (t?t0)失效物理模型小結(jié)l 應(yīng)力－強(qiáng)度模型與斷裂力學(xué)模型相似，不考慮激活能和時(shí)間效應(yīng)，適用于偶然失效和致命性失效，失效過程短，特性變化快，屬劇烈變化，失效現(xiàn)象明顯l 應(yīng)力－時(shí)間模型（反應(yīng)論模型）與牛頓力學(xué)模型相似，考慮激活能和時(shí)間效應(yīng)，適用于緩慢退化，失效現(xiàn)象不明顯應(yīng)力－時(shí)間模型的應(yīng)用：預(yù)計(jì)元器件平均壽命l 1求激活能 ELn L2Llnln=LL1A==exp(B +B +EkTEkTEkT)1Ln L1BlnL2=B+EkT21/T11/T2預(yù)計(jì)平均壽命的方法l 2 求加速系數(shù)FE==exp(LAEexp( )L2A2kT=)kT2EL A exp( )1EkT1L=A exp(L)1F= 2 = exp(E(1?1))kTL11kTT21F=L2L1=exp(Ek(1T2?1))T1設(shè)定高溫為T1,低溫為T2,可求出F預(yù)計(jì)平均壽命的方法l 由高溫壽命L1推算常溫壽命L2l F=L2/L1l 對(duì)指數(shù)分布l L1=MTTF=1/λl λ失效率失效率＝試驗(yàn)時(shí)間內(nèi)失效的元件 數(shù)初始時(shí)間未失效元件數(shù) 試驗(yàn)時(shí)間溫度應(yīng)力－時(shí)間模型的簡化：十度法則l 內(nèi)容：從室溫算起，溫度每升高10度，壽命減半。電阻顯著增大或減小說明有金屬化開路或漏電部位。l 反向擊穿電壓下降，pn結(jié)受EOS損傷或ESD損傷。能干的人，不在情緒上計(jì)較，只在做事上認(rèn)真；無能的人！不在做事上認(rèn)真，只在情緒上計(jì)較。PDF created with pdfFactory Pro trial version 由反向反 I－V特性確定失效機(jī)理4. 50 E 0 24. 00 E 0 23. 50 E 0 2燒斷電源端1對(duì)地?zé)龜嚯娫炊?對(duì)地?zé)龜嚯娫炊?對(duì)地未燒斷電源端對(duì)地3. 00 E 0 22. 50 E 0 22. 00 E 0 21. 50 E 0 21. 00 E 0 25. 00 E 0 30. 00 E+ 0 0 5. 00 E 0302468反向電壓（V）1 01214PDF created with pdfFactory Pro trial version 電 流 （ A ）由反向反 I－V特性確定失效機(jī)理l 直線為電阻特性，pn結(jié)穿釘，屬嚴(yán)重EOS損傷。PDF created with pdfFactory Pro trial version 電解電容的陽極修復(fù)功能Al＋OH－PDF created with pdfFactory Pro trial version 改進(jìn)措施降溫使用，不做短路放電，電源不反接，經(jīng)常通電
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