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摘要:在掃描電子顯微鏡分析中,對同一陶瓷樣品如果采用不同的制-免費閱讀

2025-07-23 01:19 上一頁面

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【正文】 目前,我國已引進了這種儀器。 簡稱NMRI,它能夠觀測孔隙或裂縫中流體分布與流動情況,因此對于流體與流體之間,流體與巖石之間的相互作用,以及潤濕性和潤濕反轉問題的研究有特殊意義,是研究油氣損害的最新手段之一。,制樣簡單,不破壞原樣; ,立體感強; 、形態(tài)、大小、連通關系進行觀測; ,產狀及分布不均勻性方面的信息 ,如面孔率、孔隙形態(tài)大小、連通性; 、結構、顯微構造; ,能給出碳酸鹽礦物含鐵量的信息。 掃描電鏡等一些先進的分析技術,目前的應用與其所能揭示的大量信息相比,技術潛力還有待充分開發(fā)。 4)入井流體懸浮固相控制 壓井液、洗井液、射孔液、修井液、注入水和壓裂液等都涉及固相顆粒的含量和粒徑大小控制問題,而控制標準則視油氣層儲滲質量、孔喉參數而定。例如相同間層比的伊利石/蒙皂石間層礦物,對細孔喉型油層的水敏損害比中、粗孔喉型油氣層嚴重。 四、壓汞法測定巖石毛管壓力曲線 由毛管壓力曲線可以獲得描述孔喉分布及大小的系列特征參數,確定各孔喉區(qū)間對滲透率的貢獻。 3)孔隙特征 薄片分析獲得孔隙成因、大小、形態(tài)、分布資料,用于計算面孔率及微孔隙率。 2)骨架顆粒的成分及成巖作用 未取心的情況除外,建議少用或不用鉆屑薄片,因為巖石總是趨于沿弱連接處破裂,膠結致密的巖塊則能保持較大的尺寸,這樣會對孔隙發(fā)育及膠結狀況得出錯誤的認識。 5)油氣層損害的監(jiān)測 利用背散射電子圖象,巖心可以不必鍍金和鍍碳就能測定,在敏感性(或工作液損害)評價實驗前后都可以進行直觀分析。 2)測定微粒的大小分布及在孔喉中的位置,能有效地估計臨界流速和速敏程度,便于有針對性地采取措施防止或解除因分散、運移造成的損害。 掃描電鏡(SEM)分析能提供孔隙內充填物的礦物類型、產狀的直觀資料,同時也是研究孔隙結構的重要手段。如大慶油田聚合物驅采油中,生產井油管中無機垢沉積,經XRD鑒定存在BaSO4。 4)間層礦物鑒定和間層比計算 油氣層中常見的間層礦物大多數是由膨脹層與非膨脹層單元相間構成。 地層微粒指粒徑小于37μm(或44μm)即能通過美國400目(或325目)篩的細粒物質,它是砂巖中重要的損害因素,砂巖中與礦物有關的地層損害都與其有密切的聯系。 全巖礦物組分和粘土礦物可用X射線衍射(XRD)迅速而準確地測定。 1.X射線衍射分析技術 由于粘土礦物的含量較低,砂巖中一般3%~15%。粒徑大于2μm或5μm的部分則研磨至粒徑40μm的粉末,用壓片法制片,上機分析。 1)地層微粒分析 ~3 綠泥石 蛭石 伊利石 母 綠泥石 高嶺石 二八面體 三八面體 二八面體 三八面體 近程有序 鈉板石 累托石 云母/蒙皂石 云母/蛭石 水黑云母 云母/蛭石 蘇托石 (羥硅鋁石) (DiCh)/S 柯綠泥石(TriCh)/Ve (TriCh)/S 應該指出,XRD分析不能給出敏感性礦物產狀,所以必須與薄片、掃描電鏡技術配套使用,才能全面揭示敏感性礦物的特征。 二、掃描電鏡 1. 掃描電鏡分析技術 2.掃描電鏡在保護油氣層中的應用 1) 油氣層孔喉的觀測 掃描電鏡立體感強,更適于觀察孔喉的形態(tài)、大小及與孔隙的連通關系。應用光學顯微鏡觀察薄片,由鑄體薄片獲得的資料比較可靠。 此外,薄片分析還用于粘土總量的校正,如泥質巖屑的存在可能引起粘土總量的升高,研究中應注意區(qū)分。使用壓汞儀測定巖樣的毛細管壓力曲線,原理是汞對大多數造巖礦物為非潤濕,對汞施加壓力后,當汞的壓力和孔喉的毛管壓
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