基于單片機(jī)和cpld的單相交流相控調(diào)壓系統(tǒng)設(shè)計(jì)-免費(fèi)閱讀
【正文】 能夠順利的完成此次專業(yè)綜合設(shè)計(jì)，首先要感謝劉老師的悉心指導(dǎo)；以及小組成員的團(tuán)結(jié)協(xié)作。按模式選擇鍵來(lái)選擇是手動(dòng)演示還是自動(dòng)演示。 復(fù)雜可編程邏輯器件程序設(shè)計(jì)本設(shè)計(jì)中采用圖形法和VHDL語(yǔ)言編程法相結(jié)合對(duì)復(fù)雜可編程邏輯器件進(jìn)行編程。 放大器的功能 放大信號(hào)，緩沖隔離，準(zhǔn)位轉(zhuǎn)換，阻抗匹配，將電壓轉(zhuǎn)換為電流或電流轉(zhuǎn)換為電壓等。讀數(shù)據(jù)時(shí)序圖如圖25所示。編程時(shí)可認(rèn)為L(zhǎng)CM12864模塊是一個(gè)可雙向數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐庠O(shè)，當(dāng)輸出、輸入數(shù)據(jù)（含模塊命令）時(shí)，必須按時(shí)序控制其命令線和數(shù)據(jù)線。該顯示模塊不僅可以顯示數(shù)字，還可以顯示漢字和圖形。 （2）TCK ：測(cè)試時(shí)鐘，TCK是芯片編程測(cè)試和bootstrap loader啟動(dòng)的時(shí)鐘輸入端口。（5）P1IES：中斷觸發(fā)沿選擇寄存器。 MSP430F169引腳功能 1．PIO端口是并行輸入輸出端口，8位。圖18 SSR_380D03P交流電壓控制波形 相控式單相交流調(diào)壓系統(tǒng)框圖相控式單相交流調(diào)壓系統(tǒng)框圖如圖19所示。時(shí)電路各點(diǎn)波形圖如圖1115和16所示。 相控調(diào)壓基本原理及功能框圖設(shè)計(jì) 基本原理電阻負(fù)載單相交流調(diào)壓電路及波形圖如圖11所示。單相交流相控調(diào)壓源作為調(diào)壓的分支，在工程技術(shù)和測(cè)量領(lǐng)域中有著重要的實(shí)用價(jià)值，其涉及的應(yīng)用由穩(wěn)定電磁場(chǎng)、校正電流表等擴(kuò)展至激光、超導(dǎo)、現(xiàn)代通信和傳感技術(shù)等領(lǐng)域。第三周完成單相交流相控調(diào)壓系統(tǒng)調(diào)試，編寫設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)。1．進(jìn)一步鞏固和加深學(xué)生所學(xué)一門或幾門相關(guān)專業(yè)課（或?qū)I(yè)基礎(chǔ)課）理論知識(shí)，培養(yǎng)學(xué)生設(shè)計(jì)、計(jì)算、繪圖、計(jì)算機(jī)應(yīng)用、文獻(xiàn)查閱、報(bào)告撰寫等基本技能。、a =60176。時(shí)交流調(diào)壓電路各點(diǎn)波形 開(kāi)關(guān)元件的選用開(kāi)關(guān)元件選用SSR_380D03P，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖如圖17所示。MSP430系列單片機(jī)具有超低功耗、強(qiáng)大的處理能力、高性能模擬技術(shù)及豐富的片上外圍模塊、方便高效的開(kāi)發(fā)環(huán)境等優(yōu)點(diǎn)。（2）P1OUT：輸出寄存器。（3）P3DIR：方向選擇寄存器。 （7）VREF+ ：參考電壓的正輸出引腳。圖22 LCM12864液晶顯示模塊外型圖LCM12864液晶顯示模塊的引腳定義如表21所示。當(dāng)CS1輸入低電平時(shí)，為左半屏使能，在左半屏顯示數(shù)據(jù)。圖26 741型運(yùn)算放大器的封裝圖管腳1和5為調(diào)零端，管腳2為運(yùn)放反相輸入端，管腳3為同相輸入端，管腳6為輸出端，管腳7為正電源端，管腳4為負(fù)電源端，管腳8為空端。（CPLD）時(shí)鐘源，經(jīng)128分頻后，作為256延時(shí)計(jì)數(shù)器時(shí)鐘。系統(tǒng)各模塊初始化完畢后，單片機(jī)進(jìn)入低功耗模式休眠等待定時(shí)器喚醒執(zhí)行定時(shí)器子程序。結(jié) 論本系統(tǒng)達(dá)到了預(yù)想要求。參考文獻(xiàn)[1]：北京航空航天大學(xué)出版社，2001.[2]：電子工業(yè)出版社，2007.[3]: 北京航空航天大學(xué)出版社，2007. [4] 模擬部分. 北京：[5]劉剛，孫玲玲，2009（4）：4447.[6] [M].清華大學(xué)出版社，.[7] 王德銀,[M].北京:人民郵電出版社, 2005.[8] [M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社，2003。 測(cè)試數(shù)據(jù)及結(jié)果分析 測(cè)試數(shù)據(jù)相位理論值測(cè)試值（V）誤差相位理論值測(cè)試值（V）誤差10度220100度20度220110度30度218120度40度215130度50度21
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