【正文】 、外層，外層質(zhì)量要求比內(nèi)層嚴(yán)格。一般外層比內(nèi)層大。采用液浸法進(jìn)行檢測(cè)也是解決耦合條件差的方法之一。 鑄件檢測(cè)常用圖 。 鑄件中一般允許存在的缺陷尺寸較大，數(shù)量較多，特別是工藝性的檢測(cè)，有的只要求檢出危險(xiǎn)性的缺陷，以便修補(bǔ)處理。 鑄件中主要缺陷有：孔洞類缺陷（包括縮孔、疏松、氣孔等）、裂紋冷隔類缺陷（冷裂、熱裂、白點(diǎn)、冷隔和熱處理裂紋）、夾渣類缺陷以及成分類缺陷（偏析）等。試根據(jù) JB/— 2022標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。 鍛件檢測(cè)中常見(jiàn)的缺陷有單個(gè)缺陷和密集缺陷兩大類，實(shí)際檢測(cè)中根據(jù)鍛件中單個(gè)缺陷的當(dāng)量尺寸，底波降低情況和密集缺陷面積占檢測(cè)面積的百分比不同將鍛件質(zhì)量分為 Ⅰ 、 Ⅱ 、 Ⅲ 、 Ⅳ 、 Ⅴ等五種，其中 Ⅰ 級(jí)最高， Ⅴ 級(jí)最低。 1. 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的 3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用 AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。 不同的檢測(cè)靈敏度，同一缺陷反射波的游動(dòng)情況不同。 鍛件內(nèi)不允許有白點(diǎn)缺陷存在，這種缺陷的危害性很大。如鍛件中單個(gè)的夾層、裂紋等。 在平面檢測(cè)中，超聲波檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)缺陷的尺寸大于聲束截面時(shí)采用 6dB法測(cè)定缺陷的指示面積或指示長(zhǎng)度。 當(dāng)用平底面的和實(shí)心圓柱體曲底面調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，不同距離處的大平底與平底孔回波分貝差為： （ ） 式中 — 平底孔缺陷至檢測(cè)面的距離； ≥ — 鍛件底面至檢測(cè)面的距離； — 材質(zhì)衰減系數(shù)； λ— 波長(zhǎng)； — 平底孔缺陷的當(dāng)量直徑； — 底波與平底孔缺陷的反射波分貝差。 在鍛件檢測(cè)中，對(duì)于尺寸小于聲束截面的缺陷一般采用當(dāng)量法定量。 注意： 1)采用試塊法調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度時(shí)，應(yīng)保證試塊的材質(zhì)與被檢工件的材質(zhì)相同或聲學(xué)性能相近。 例 1，用 50mm的小鍛件，采用CSⅠ 系列試塊調(diào)節(jié) 50/Φ2靈敏度，試塊與鍛件表面耦合差3dB，問(wèn)如何調(diào)節(jié)靈敏度？ 解：利用 CSⅠ 系列試塊調(diào)節(jié)靈敏度的方法如下： 將探頭對(duì)準(zhǔn) CSⅠ 1試塊 Φ2平底孔距離為 50mm，衰減 10dB，調(diào)“增益”使 Φ2回波達(dá) 50％高 (或用“衰減器”將 Φ2平底孔反射反射波調(diào)至滿顯示屏的 50%左右，再用“增益”將回波調(diào)至 50%高。 例 2，用 Φ1000mm，內(nèi)徑為Φ100mm的空心圓柱體鍛件， CL=5900m/s，問(wèn)如何利用內(nèi)孔回波調(diào)節(jié) 450/Φ2靈敏度？ 解：由題意得： ①計(jì)算： 450mm處內(nèi)孔反射波與 Φ2平底孔反射波分貝差為： 2調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)完好的內(nèi)孔表面，找出反射反射波，用“衰減器”衰減 45dB，調(diào)“增益”使底波 B1達(dá)基準(zhǔn) 50％高，然后用“衰減器”增益 35dB作為檢測(cè)靈敏度，此時(shí)，450/Φ2的檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié)就完成了。 調(diào)節(jié)鍛件檢測(cè)靈敏度的方法有兩種，一種是波高比較法來(lái)調(diào)節(jié)，另一種是曲線比較法來(lái)調(diào)節(jié)。 ⒋鍛件檢測(cè)一般情況下是采用縱波進(jìn)行檢測(cè)，因此掃描速度以縱波聲程按 1： n的比例進(jìn)行調(diào)節(jié)。注意，不能利用一次反射波與始波進(jìn)行掃描速度的調(diào)節(jié)。 表 2 CSⅡ 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm 試塊序號(hào) 孔徑 檢測(cè)距離 L 1 2 3 4 5 6 7 8 9 CSⅡ 1 Φ2 5 10 15 20 25 30 35 40 45 CSⅡ 2 Φ3 CSⅡ 3 Φ4 CSⅡ 4 Φ6 鍛件超聲波檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行，因?yàn)闊崽幚砜梢约?xì)化晶粒，減少衰減。特別是材質(zhì)衰減嚴(yán)重時(shí)，影響更加明顯。雙晶探頭的頻率采用 5 MHz。 ，可參照上述鍛件的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。其缺陷的主要取向仍與筒類的外圓表面平行，所以筒類鍛件的檢測(cè)仍以直探頭外圓面檢測(cè)為主，但對(duì)于筒壁較厚的筒類鍛件，須增加斜探頭檢測(cè)。鍛件側(cè)面檢測(cè)為輔，以檢測(cè)與端面垂直的軸向缺陷。 ⑵ 斜探頭周向及軸向檢測(cè)：鍛件中若存在片狀軸向（尺寸較小且接近圓周面）及徑向缺陷或軸上有幾個(gè)不同直徑的軸段，用直探頭徑向及軸向檢測(cè)都難以檢出的，則必須使用斜探頭在軸的外圓作周向及軸向檢測(cè)。 ? ? ，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。 ? 鑄錠原材料缺陷主要有：縮孔、疏松、夾雜、白點(diǎn)、裂紋等。鍛壓的方式大致分為鐓粗、拔長(zhǎng)和滾壓。探頭相對(duì)鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲聲束對(duì)鋼管進(jìn)行 100%掃查時(shí)，有不小于 15%的覆蓋率。探頭頻率為 ～。 偏心距的范圍由兩個(gè)條件決定，一是保證聲束軸線能夠檢測(cè)到管材內(nèi)壁，二是保證全橫波檢測(cè)。 圖 管壁內(nèi)聲束的周向傳播 圖 管壁內(nèi)聲束的軸向傳播 接觸法檢測(cè)使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭。 無(wú)縫鋼管加工方法有熱軋（擠壓無(wú)縫鋼管）和冷拔，無(wú)縫鋼管中缺陷與加工方法有關(guān)。 未結(jié)合區(qū)總面積占復(fù)合板總面積的百分比。 a) 掃查方式可采用 100%掃查或沿鋼板寬度方向，間隔為 50mm的平行線掃查； b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，采用其他掃查形式； c) 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各 50mm內(nèi)應(yīng)作 100%掃查。復(fù)合層板用來(lái)提高耐磨、耐腐蝕等性能，基板用來(lái)保證復(fù)合板的強(qiáng)度。 b）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于 100㎜ 或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其最大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。所謂疊加效應(yīng)是指在薄板中當(dāng)缺陷較小時(shí)，缺陷反射波從第一次開(kāi)始，第二次、第三次反射波逐漸增高，增高到一定程度以后的反射波又逐漸降低的現(xiàn)象。此時(shí)探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 格子劃線掃查 在鋼板周邊 50mm范圍內(nèi)做全面積掃查，其余部分畫成方格子線，一般取 100mm 100mm或 200mm 200mm，探頭沿格子線掃查，在發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)再在缺陷周圍擴(kuò)大掃查范圍。 掃查靈敏度 — 掃查時(shí)掃查靈敏度一般在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上提高 6dB，在測(cè)定缺陷當(dāng)量時(shí)應(yīng)將靈敏度調(diào)回基準(zhǔn)靈敏度。 板材檢測(cè)使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊 CBⅠ 階梯試塊，適用于板厚小于等于 20mm鋼板檢測(cè)； 板材檢測(cè)使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊 CBⅡ 平底孔試塊，適用于板厚大于 20mm的鋼板檢測(cè)?；虿捎孟輨┤コ龤馀?。 當(dāng)耦合液體 /鋼界面的界面波 S第 4…… 次反射波分別與鋼板的第 3…… 次底波一一重合時(shí)，稱為一次重合法；當(dāng)耦合液體 /鋼界面的第 4…… 次反射波分別與鋼板的第 6…… 次底波重合時(shí)，稱為二次重合法。路徑多，疊加能量多，缺陷回波高。 無(wú)缺陷 探頭通過(guò)薄層耦合劑與工件接觸進(jìn)行檢測(cè)。這樣不僅可以根據(jù)缺陷波來(lái)判定缺陷情況，而且可根據(jù)底波衰減情況來(lái)判定缺陷情況。 折疊和重皮 — 鋼板表面局部形成互相折合的雙層金 屬。 這些缺陷有的是鋼水本身產(chǎn)生，如脫氧時(shí)加脫氧劑造成，或煉鋼爐混入鋼水中的耐火材料等，這些缺陷在鋼錠中位置沒(méi)有一定規(guī)律，故出現(xiàn)在鋼板中位置也無(wú)序。 檢測(cè)方法 中厚板一般采用脈沖反射式垂直入射法檢測(cè)，耦合方式有直接接觸法和水浸法。（各次相同） ； 。 在鋼板檢測(cè)中值得注意的是：當(dāng)板厚較薄且板中缺陷較小時(shí)，各次底波之前的缺陷波開(kāi)始幾次逐漸升高，然后在逐漸降低。 疊加效應(yīng)條件 ： a 小缺陷 b 中心部位 c 一般 25mm以下（ 1025） mm。 ③ 充水探頭內(nèi)水套管內(nèi)徑必須大于最大水層厚度時(shí)聲束直徑。 表 板厚，㎜ 采用探頭 公稱頻率， MHz 探頭晶片尺寸 6～ 20 雙晶直探頭 5 晶片面積不小于 150㎜ 2 ＞ 20～ 40 單晶直探頭 5 Φ14㎜～ Φ20㎜ ＞ 40～ 250 單晶直探頭 Φ20㎜～ Φ25㎜ 探頭的結(jié)構(gòu)形式主要根據(jù)板厚來(lái)確定。 b、 CBⅡ 標(biāo)準(zhǔn)試塊法 利用平底孔試塊調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度時(shí)，探頭對(duì)準(zhǔn)表 ，調(diào)節(jié)儀器使平底孔反射波達(dá)到顯示屏滿刻度的 50%作為基準(zhǔn)靈敏度。探頭沿這些平行線進(jìn)行掃查，在發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)再在缺陷周圍擴(kuò)大掃查范圍，但在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各 50mm（當(dāng)板厚超過(guò) 100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作 100%掃查。在板材超聲波檢測(cè)中常按下述方法測(cè)定缺陷的范圍和大小。 d）按底面第一次反射波（ B1）波高低于滿刻度 50%確定的缺陷在測(cè)定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到顯示屏滿刻度的 50%。 JB/T 、指示長(zhǎng)度、指示面積來(lái)進(jìn)行缺陷的評(píng)定與質(zhì)量分級(jí)，規(guī)定如下： 1）缺陷的指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則 單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。 3）在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為 Ⅴ 級(jí)。常用單晶直探頭或雙晶直探頭進(jìn)行縱波檢測(cè) ，檢測(cè)頻率 — ，探頭直徑一般不大于 Φ25mm。 不同的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)未結(jié)合缺陷的評(píng)定與質(zhì)量分級(jí)有不同要求， JB/T ： 一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。 設(shè)界面的聲壓反射率（取決對(duì)值）為 r,按第二章第六節(jié)講述的理論，即： 2121211211ZZZZZZZZr??????鈦復(fù)合鋼板縱波垂直檢測(cè)時(shí)的超聲傳播路徑和反射波示意圖 表 壓反射率。在實(shí)際檢測(cè)時(shí)，通常希望管材中存在的波形單一，形成的 A型顯示波形清晰簡(jiǎn)單，以便于缺陷信號(hào)的正確判斷和解釋。液浸法耦合效果好、檢測(cè)速度快、靈敏度高、探頭損耗小、特別適用于對(duì)小徑管的全周長(zhǎng)自動(dòng)化檢測(cè)。 ： 液浸法檢測(cè)使用線聚焦或點(diǎn)聚焦縱波探頭。如不能達(dá)到此要求，也可在內(nèi)、外槽設(shè)立不同的報(bào)警電平。不合格品允許在公差范圍內(nèi)進(jìn)行修磨，修磨后復(fù)檢。其中鐓粗主要用于餅類鍛件，拔長(zhǎng)主要用于軸類鍛件，而筒類鍛件一般先鐓粗，后沖孔，再鐓壓。產(chǎn)品檢驗(yàn)的目的是保證產(chǎn)品質(zhì)量。 ⑴ 直探頭徑向和軸向檢測(cè)：如圖 ，直探頭作徑向檢測(cè)時(shí)將探頭置于軸的外緣，沿外緣作全面掃查，以發(fā)現(xiàn)軸類鍛件中的常見(jiàn)的縱向缺陷。如圖（ 2）位置所示。因此，缺陷的取向比軸類和餅類鍛件中的缺陷的取向復(fù)雜。 3） 斜探頭檢測(cè)：對(duì)于某些重要的筒形鍛件還要增加斜探頭從外圓進(jìn)行軸向和周向檢測(cè) ， 如圖 。對(duì)于近距離缺陷，由于直探頭的盲區(qū)和近場(chǎng)區(qū)的影響，常采用雙晶直探頭檢測(cè)。掃查覆蓋面應(yīng)為探頭晶片直徑的 15％。 表 1 CSⅠ 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm 試塊序號(hào) CSⅠ 1 CSⅠ 2 CSⅠ 3 CSⅠ 4 L 50 100 150 200 D 50 60 80 80 a) 工件檢測(cè)距離小于 45mm時(shí)，應(yīng)采用 CSⅡ 標(biāo)準(zhǔn)試塊。 ⒈鍛件檢測(cè)前，一般根據(jù)鍛件要求的檢測(cè)范圍來(lái)調(diào)節(jié)掃描速度，以便發(fā)現(xiàn)缺陷，并對(duì)缺陷定位。 ⒊掃描速度的調(diào)節(jié)方法是根據(jù)檢測(cè)范圍利用已知尺寸的試塊或工件上的兩次不同反射體反射回波 (或一個(gè)反射體的兩次反射回波 )的前沿 ,分別對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值