【正文】 MuWFA5ux^Gjqv^$UE9wEwZQcUE% amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK!zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。qYpEh5pDx2zVkumamp。qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 gTXRm6X4NGpP$vSTTamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3tnGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK!zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE% amp。 ksv*3t nGK8! z89Am v^$UE9wEwZQcUE% amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYp Eh5pDx2zVkumamp。qYpEh5pDx2zVkumamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3tnGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8!z89Am YWv*3tnGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am UE9aQGn8xp$Ramp。ksv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 UE9aQGn8xp$Ramp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm6X4NGpP$vSTTamp。 UE9aQGn8xp$Ramp。 gTXRm6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。tjA shfP39。VBE,amp。 } //BEC else {Pin=0。 if (TestBJT(1,PinX,PinY,PinZ,amp。 GetADC(DIODEVOLTAGETABLE[i])。 SetPort(PZ2,vHamp。 vH=ADC_DATA。0x3)。 //該狀態(tài)下需要讀取的 AD 通道 state=0。數據采集介紹了如何在單片機與硬件電路的連接，闡述了如何利用 ADC 模塊 來進行數據 采集 ，保證通信過程不出現邏輯紊亂。但習慣上常將兩者混用而不加區(qū)別。最 9 后由 LCD1602 顯示出晶體管的參數。第 6 腳 是 E 端為使能端。 其他元件說明 在本設計中采用 L7805 三端穩(wěn)壓 IC 來組成穩(wěn)壓電源 ， 所需的外圍元件極少，電路內部還有過流、過熱及保護電路，使用起來可靠、方便，而且價格便宜。持續(xù)時間超過最小門 7 限時間的低電平將引起系統(tǒng)復位。在復位過程中，即使系統(tǒng)時鐘還未起振，端口 B 處于高阻狀態(tài)。 ATmega 8 單片機的引腳配置 圖 23 ATmega 8 引腳圖 ATmega 8 單片機引腳說明：端口 C(PC7—— PC0)作為 A/D 轉換器的模擬輸入端。采樣電阻 R1~R7 對結果影響很大，所以需要每個電阻的阻值盡量接近 680Ω 和 470KΩ。 4 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設計 與軟件設計 第 1 節(jié) 電子元件測試 系統(tǒng)功能說明與組成 電子元件測試 儀的主要功能如下： 1．電阻器和電容器的測量 2． 自動檢測 NPN 和 PNP 三 晶體管， N 溝道和 P 溝道 MOSFET，二極管（包括雙二極管） ，晶閘管 3． 自動檢測和測試元件的引腳 4．測量 MOSFET 的柵極閾值電壓和柵電容 5． 使用液晶 LCD1602 顯示數據 6． 一鍵操作， 自動測量 電子元件測試 儀 的系統(tǒng)組成 該智能晶體管測量儀主要由主控制器模塊、晶體管測試模塊、顯示模塊、測試按鍵模塊、電源模塊組成。 方案選擇論證：在方案一中，通過串口實現在電腦上顯示元件參數使設計對電腦的依賴性很大，違背了簡單方便的原則。并且 采用 DDS 芯片 AD9852 形成單片機控制的 數控頻率源 。振蕩器的震蕩頻率 f=(R1+2R2)C1， 圖示參數的震蕩頻率約為 850Hz。 第 3 節(jié) 技術路線 單片機在實現電子產品智能化方面扮演著重要的角色。 但 是 這些儀器一般采用模擬電路 制作 ， 制作復雜 ， 而且價格昂貴 。 論文 詳細說明該系統(tǒng)的基本原理、硬件框架、主要電路以及軟件框架。 在系統(tǒng)的硬件設計中，以 ATmega 8單片機 為核心的電子元件測試儀 ， 使用對應的震蕩電流對被測元件 進行充放電 計算 實現各個參數的測量。 LCD1602 目 錄 摘 要 ....................................................................................................................................... I Abstract....................................................................................................................................II 目 錄 ....................................................................................................................................... I 第 1 章 電子元件測試系 統(tǒng)的背景、意義及技術路線 ........................................................ 1 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的背景 ..................................................................................... 1 第 2 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的意義 ..................................................................................... 1 第 3 節(jié) 技術路線 ................................................................................................................. 1 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設計與軟件設計 ................................................................................ 4 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)功能說明與組成 ..................................................................... 4 第 2 節(jié) 系統(tǒng)硬件配置及說明 ............................................................................................. 4 第 3 節(jié) 電子元件 的測量原理 ............................................................................................. 8 第 4 節(jié) 主程序軟件流程圖 ................................................................................................. 8 第 3 章 測試結果 .................................................................................................................. 10 第 1 節(jié) 參數測試結果 ....................................................................................................... 10 第 2 節(jié) 誤差分析 ............................................................................................................... 11 結 論 .................................................................................................................................... 12 參考文獻 ................................................................................................................................ 13 附 錄 .................................................................................................................................... 14 致 謝 ...................................................................................................... 錯誤 !未定義書簽。 本次設計采用 ATmega 8 單片機 為核心，測量 電子元器件的 參數，自動識別 電子元器件 的引腳并顯示在液晶上 ，當電子元器件取下后被測參數 鎖定在液晶上 ， 更 能 直觀的了解 電子元器件 的參數及好壞情況 ， 只需按一下測試按鈕， 即可進行下一次測量，完全實現了一鍵操作的功能。 方案一： 測試儀由 NE555 和 R R C1 組成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器及待測晶體管組成的驅動級構成。 TRIG2Q3R4CVolt5THR6DIS7VCC8GND1U1NE555R151KR2100KC1Q1PNPRP100KLSBBTL1 圖 11 NE555 晶體管測量儀 方案二： 采用 8 位單片機 AT89S52 作為系統(tǒng)核心 。 顯示模塊方案 顯示部分是測量系統(tǒng)中實現人機交互的重要模塊，準確實時的顯示元件參數。 方案二：使用內部電池供電。使用LCD1602 作為顯示輸出， S1 為測試按鍵。 ATmega8 單片機的特點如下：高性能、低功耗的 8 位 AVR 微控制器，先進的 RISC精簡指令集結構先進的 RISC 結構 ， 130 條功能強大的指令，大多數為單時鐘周期指令 ，32 個 8 位通用工作寄存器工作在 16MHz 時，具有 16MIPS 的性能片內集成硬件乘法器片內集成了較大容量的非易失性程序和數據存儲器以及工作存儲器。端口 B(PB7—— PB0)為 8 位雙向 I/O 口，具有可編程的內部上拉電阻。在復位過程中，即使系統(tǒng)時鐘還未起振，端口 D 處于高阻狀態(tài)。不使用 ADC 模塊 時，該引腳應直接與 Vcc 連接。第 3 腳 是 V0 為液晶顯示器對比度調整端， 當 接正電源時對比度最弱，接地電源時對比度最高。程序的關鍵就是各種元件的真值表 ， 元件 真值表與 元件判斷程序見附錄。 而對半導體元件參數的測量可以準確的測量出元件的型號與引腳排布。 12 結 論 本文論述了 基于 AT mega 8 單片機 的 電子元件 測試儀 的原理，實現了晶體管的數據、信息的顯示。 通過對本課題的研究，讓我看到了自己的水平和差距，使我受益匪淺。i6。 SetPort(PX1,vHamp。 SetPortZ(P