【正文】 o switching transients Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. Phase error / Frequency error測試方法 ? 測試方法： 給手機裝上測試卡并接通電源，將手機的 RF switch與基站模擬器用 Cable相連，建立通話連接，分別在 GSM、 DCS和 PCS頻段測試Frequency Error ， Phase Error(PEAK) ， Phase Error(RMS)。該定時是 以訓練序列的 13比 特到 14比特轉換點為基準。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. Output power and burst timing 標準要求 GSM DCS/PCS PCL N Power limit(dbm) Tolerance (dbm) PCL N Power limit (dbm) Tolerance (dbm) 5 33 +/2 0 30 +/2 6 31 +/3 1 28 +/3 7 29 +/3 2 26 +/3 8 27 +/3 3 24 +/3 9 25 +/3 4 22 +/3 10 23 +/3 5 20 +/3 11 21 +/3 6 18 +/3 12 19 +/3 7 16 +/3 13 17 +/3 8 14 +/3 14 15 +/3 9 12 +/4 15 13 +/3 10 10 +/4 16 11 +/5 11 8 +/4 17 9 +/5 12 6 +/4 18 7 +/5 13 4 +/4 19 5 +/5 14 2 +/5 N/A N/A N/A 15 0 +/5 Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. Output RF spectrum 輸出 RF頻譜 ? Output RF spectrum 輸出 RF頻譜 – 定義 ? 輸出 RF頻譜是在一定的帶寬和周期內測量的由 MS的調制和功率噪聲產生的相對于中心頻率的頻偏與功率之間的關系 標準要求： Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. Reference sensitivity 參考靈敏度 ? Reference sensitivity 參考靈敏度 – 定義 ? 參考靈敏度是指達到規(guī)定的 BER或 FER 條件下 MS接收機的輸入電平。 Copyright 169。 3)℃ 低溫試驗 2小時后，射頻性能應符合相關標準的要求。 高溫工作 移動通信手持機在開機狀態(tài)下經 (55 177。 3)℃ /(25 177。 Copyright 169。 2)℃ ，相對濕度 933+2 %的環(huán)境試驗后，射頻性能應符合相關標準的要求。 1)％的氯化鈉溶液；儲存條件為 (40 177。對折疊、滑動及旋轉結構的手持機，應在其合蓋狀態(tài)下進行試驗。對折疊、滑動及旋轉結構的手持機，應在其合蓋狀態(tài)下暴露的顯示屏上選取撞擊部位。 Copyright 169。 )m處跌落在表面后，除允許表面有擦傷、小凹坑外，功能、外觀及裝配應符合相關標準的要求。 Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. EMC電磁兼容性 ? 電磁敏感度測試 ? 射頻電磁場輻射抗擾度測試（ RS） ? 傳導騷擾抗擾度測試（ CS） ? 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（ EFT/B） ? 靜電放電抗擾度測試（ ESD） ? 電壓跌落、短時中斷抗擾度測試（ DIP/interruption） ? 工頻磁場抗擾度測試（ PMS） ? 浪涌抗擾度測試（ SURGE） Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. ESD 試驗方法： ? 開機狀態(tài)，空氣放電將靜電發(fā)生裝置放于參考接地板中央，靜電槍接地線與參考接地板夾緊，將靜電類型開關調到 AIR，分別調節(jié)電壓177。 10KV，沿被測機縫隙放電；每點放電 10次，每次間隔 1秒。 6KV，沿被測機縫隙（包括數(shù)據(jù)金屬口）放電；每點放電 10次，每次間隔 1秒。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 音頻 測試 音頻 測試 1. 發(fā)送響度評定值（ SLR） 2. 接收響度評定值（ RLR） 3. 空閑信道噪聲 4. 發(fā)送靈敏度 /頻率特性 5. 接收靈敏度 /頻率特性 6. 側音掩蔽評定值（ STMR） 7. 收聽者側音評定值（ LSTR） 8. 穩(wěn)定度損耗 9. 聲學回聲控制 10. 發(fā)送失真 11. 接收失真 12. 帶外信號 13. 環(huán)境噪聲抑制 Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 音頻 測試 測試項目 單位 標準值 備注 接收靈敏度 /頻率特性 在上下包絡線內 側音掩蔽評定值（ STMR） 18177。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. OTA ? 目的： 驗證無線設備和網(wǎng)絡的連接能力以及終端使用者對輻射和接收性能的影響 . 指標衡量了與基站之間的實際連接情況。分別在自由空間和人頭模型兩種狀態(tài)下測試。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. OTA 頻段 TRP TIS 900 ≥26dBm ≤102dBm 1800 ≥25dBm ≤100dBm CDMA ≥20dBm ≤98dBm Copyright 169。 ? ──機械危險 。 ? 在確定采用何種設計方案時 ,應遵守以下的優(yōu)先次序： – 如果可能的話 ,規(guī)定能消除、減小危險或對危險進行防護的設計原則 。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 移動電話的安全檢測 序號 檢驗項目 標準與要求 屬性類別 1 元器件 參見 GB4943的 A 2 電源接口 參見 GB4943的 A 3 標記和說明 參見 GB4943的 A 4 電擊和能量危險的防護（ *） 參見 GB4943的 A 5 SELV電路 參見 GB4943的 A 6 限流電路（ *） 參見 GB4943的 A 7 電氣絕緣 參見 GB4943的 A 8 布線、連接和供電的一般要求 參見 GB4943的 A 9 機械強度 參見 GB4943的 A 10 結構設計 參見 GB4943的 A 11 發(fā)熱要求 參見 GB4943的 A 12 防火 參見 GB4943的 A 13 抗電強度（ *） 參見 GB4943的 A 14 異常工作和故障條件 參見 GB4943的 A 15 外殼材料可燃性試驗 參見 GB4943的 ,附錄 A A 16 PCB板可燃性試驗 參見 GB4943的 ,附錄 A A 注：含 *號的項目為非必測項目，詳見相關注解。 ? 通信技術標準具有全程、全網(wǎng)通用的特點。 （ 1）國際標準（或建議）由國際標準化組織制定。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 硬件測試參考的通信技術標準 ? 通信技術標準分類（續(xù)） （ 4）由于國家標準和行業(yè)標準在某些方面規(guī)定的不可能非常具體，因此，我國有些大城市如：北京市、上海市、天津市等在符合國家標準和行業(yè)標準的前提下，為了使通信行業(yè)中某些方面規(guī)定的更具體更適用于本地區(qū)，可制定地方標準。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 通信技術標準對測試的指導意義 ? 通信技術標準對測試的指導意義 測試是為了保證產品符合標準的，是高質量的。 Copyright 169。功能測試依舊是產品質量的前提，但是圍繞產品安全、維護、可靠性等方面是產品競爭力的體現(xiàn)，需要進行重點的測試。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 測試規(guī)范制定 ? 人員的規(guī)范 要有一個職業(yè)化的觀念，要有意識地把自己培養(yǎng)為職業(yè)工程師。但當產品推向市場后，這些偶然出現(xiàn)的問題會大面積暴露出來，將會嚴重影響產品的聲譽。各個階段的輸入、輸出文檔均必須有相應的模板。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 測試人員的培養(yǎng) ? 產品質量的主體責任人 – 測試工程師需要在全流程中構建產品的品質，是產品質量工作的直接參與者。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 測試人員的目標和職責 Copyright 169。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved. 測試人員的培養(yǎng) ? 測試人員需要的通用技能（ 1） – 專業(yè)的產品背景知識 – 豐富的測試技能 – 熟練掌握各種測試儀器 Copyright 169。 ? 尊重開發(fā)人員的觀點（包括設計），但不要迷信。 2023 MStar Semiconductor, Inc. All rights reserved.