【正文】 。 ? 比蝕法：測量光線通過膠體溶液或懸浮液后的散射光強度來進行定量分析，主要適用于膠體溶液的測度。 ?電子衍射原理是透射電子顯微技術(shù)的基礎。銳線光源要求發(fā)射待測原子的共振發(fā)射光線，因而限制了多元素同時測定的可能。 ? ? 氣態(tài)自由原子吸收特征波長的輻射后，從低能態(tài)躍遷到高能態(tài)，經(jīng) 108s后又躍遷回低能態(tài)，同時發(fā)射出與原激發(fā)波長相同或不同的輻射，稱為原子熒光。 ? 通常用于物質(zhì)的高靈敏定量分析 ? 應用范圍較紫外 可見吸收光譜窄 ? ?通過化學反應提供激發(fā)能，使該化學反應的一種反應產(chǎn)物的分子被激發(fā)，形成激發(fā)態(tài)分子，激發(fā)態(tài)分子躍遷回到基態(tài)時，通過發(fā)光的形式釋放能量。 ?紅外吸收光譜，只存在振動能級和轉(zhuǎn)動能級之間的躍遷，吸收頻率或波長直接反映了分子的振動和轉(zhuǎn)動能級狀況。 ? 基于原子核能級躍遷的光譜法 ? 核磁共振波譜法：在強磁場作用下，核自旋磁矩與外磁場相互作用分裂為能量不同的核磁能級，核磁能級之間的躍遷吸收或發(fā)射射頻區(qū)的電磁波。 光譜的形狀 ? 將檢測信號對相應的波長或頻率作圖，就得到光譜圖。 ? 帶光譜 ： ? 分子外層除電子能級外，還存在振動能級和轉(zhuǎn)動能級，存在一系列能量非常接近的躍遷。 ? 連續(xù)光譜 ： ? 實際上是無數(shù)譜線緊密排列在一起所形成的。 方法 輻射能 作用物質(zhì) 檢測信號 Mossbauer譜法 γ 射線 原子核 吸收后的 γ 射線 X射線吸收光譜法 X射線 放射性同位素 Z10的重元素 原子的內(nèi)層電子 吸收后的 X射線 原子吸收光譜法 紫外、可見光 氣態(tài)原子外層的電子 吸收后的紫外、可見光 紫外 可見分光光度法 紫外、可見光 分子外層的電子 吸收后的紫外、可見光 紅外吸收光譜法 熾熱硅碳棒 ~15μ m紅外光 分子振動 吸收后的紅外線 核磁共振波譜法 ～ 800MHz射頻 原子核磁量子有機化合物分子的質(zhì)子 吸收 電子自旋共振波譜法 1000～ 800000MHz微波 未成對電子 吸收 激光吸收光譜法 激光 分子 (溶液 ) 吸收 激光光聲光譜法 激光 氣、固、液體分子 聲壓 激光熱透鏡光譜法 激光 分子 (溶液 ) 吸收 吸收光譜法 發(fā)射光譜法 方法名稱 輻射能 作用物質(zhì) 檢測信號 原子發(fā)射光譜法 電能、火焰 氣態(tài)原子外層電子 紫外、可見光 X射線熒光光譜法 X射線 (~25197。 常見的光源：連續(xù)光源、線光源和脈沖光源 ?一、連續(xù)光源 廣泛應用吸收和熒光光譜中。 空心陰極燈和無極放電燈是原子吸收和原子熒光光譜中重要的線光源。 3. 波長選擇系統(tǒng) ?光譜分析中通常需要較窄的帶寬：增加測定的靈敏度；獲得光譜信號與濃度之間線性關(guān)系的必要條件 。 ? 狹縫越小，光譜點分辨率越高，越接近真實光譜 ? 但狹縫太小可能導致通過的光通量太小，光信號太弱 ? 定性測量時，采用較小寬度的狹縫，定量測量時，采用較大寬度的狹縫 ? 波長選擇系統(tǒng)分為兩種方式：濾光片和幾何色散元件 ? 濾光片 —— 將不需要的光濾掉 ? 色散元件 —— 將光色散后，用狹縫采集狹窄波段的光 ? 單色器：采用色散元件的波長選擇系統(tǒng)通常又稱為單色器或單色儀。 構(gòu)成：有色玻璃分散在明膠中，染料夾在玻璃板中組成 干涉濾光片：用于紫外、可見和紅外輻射，借光的干涉作用獲得窄的輻射帶。 以此為 母板 ， 可用液態(tài)樹脂在其上復制出光柵 。 光柵公式： P0（ 0級 ） P1 P1 P2 P2 距離 相對強度 ? d P0 P1 光柵光譜的產(chǎn)生是多狹縫干涉和單狹縫衍射聯(lián)合作用的結(jié)果 。 sin?)= n? ? φ入射光和光柵平面法線的夾角； ?為衍射光和光柵平面法線的夾角。 n=0時， φ = ?，零級光譜不起色散作用。 凹面光柵線色散率可用下式表示： ?? c osdnrddl ?光柵分類 （ 定向光柵 ） ： 將光柵刻制成溝槽面與光柵面成一定的角度，使衍射的輻射強度集中在所需要的波長范圍內(nèi)。 α β P0 距離 相對強度 P’1 光束對槽平面的入射角和衍射角分別為 α和 β。在中階梯光柵前方或后方安設一個輔助色散元件，譜線的色散方向和譜級散開方向正交，可以形成二維色散圖像。 ?制作：在光學玻璃上涂上光敏物質(zhì)，放入單色激光雙光束干涉場內(nèi)曝光，顯影，在基坯上形成槽線。 在小波長范圍內(nèi) ， 光柵的色散是線性的 。 兩片金屬處于相同平面上且相互平行 。 ?定性分析：選擇較窄的狹縫寬度 —提高分辨率 ， 減少其它譜線的干擾 ， 提高選擇性； ?定量分析：選擇較寬的狹縫寬度 —增加照亮狹縫的亮度 ， 提高分析的靈敏度； ?應根據(jù)樣品性質(zhì)和分析要求確定狹縫寬度 。 ? 石英或熔融石英：紫外光區(qū) —可見光區(qū) —3?m； ? 玻璃：可見光區(qū) （ 3502022nm） ； ? 透明塑料：可見光區(qū) （ 3502022nm） ； ? 鹽窗 （ NaCl, KBr晶體 ） ， 液膜：紅外光區(qū) 。 ? k和 I都是波長的函數(shù) ， 因此 S也是波長的函數(shù) 。 硒光電池 + Se Fe(Cu) h? 玻璃 Ag(Au)透明膜 收集極 塑 料 (當外電阻 400?， i =10100?A) 優(yōu)點： 光電流直接正比于輻射能； 使用方便 、 便于攜帶 （ 耐用 、 成本低 ） ； 缺點： 電阻小 ， 電流不易放大；響應較慢 。 優(yōu)點： 阻抗大 ， 電流易放大；響應快；應用廣 。 硅二極管 p 區(qū) n 區(qū) pn 結(jié) p 區(qū) n 區(qū) (反向偏置 ) 耗盡層 空穴 電子 ? 反向偏置電壓 —耗盡層 —pn結(jié)電導趨于 0 (i=0)； ? 光照 —耗盡層中形成空穴和電子 —空穴移向 p區(qū)并湮滅 —外 加電壓對 pn“電容器 ” 充電 —產(chǎn)生充電電流信號 (i?0) 。 光陰極靈敏度與入射波長之間的關(guān)系叫做光譜響應特性 。 對外加電壓極其敏感 ， 必須嚴格控制外加電源的電壓 硅二極管陣列 SiO2窗 p 型硅 n 型硅基 p n p n p n p n p n p n 側(cè)視 (cross section) 頂視 (top view) 光束 說明： i. 在一個硅片上 ， 許多 pn 結(jié)以 一維線性排列 ， 構(gòu)成 “ 陣列 ” ； ii. 每個 pn 結(jié)相當于一個硅二極管檢測器； iii. 每個光二極管都被絕緣二氧化硅包圍 ， 即每個 pn 結(jié)相當于一個獨立的光電轉(zhuǎn)換器； iv. 硅片上置于單色器焦面上 ， 經(jīng)色散的不同波長的光分別被轉(zhuǎn)換形成電信號； v. 實現(xiàn)多波長或多目標同時檢測 。 熱檢測器 ?熱檢測器基于黑體吸收輻射并根據(jù)吸收引起的熱效應測定輻射強度的一類檢測器 ?熱檢測器廣泛應用于紅外光區(qū)的檢測 真空熱電偶 ：真空熱電偶是目前紅外光譜儀中最常用的一種檢測器 。 ?為了增加靈敏度 ， 常常將幾個熱電偶串聯(lián)起來 ， 形成熱電堆 。 ?熱釋電檢測器 ：將熱電材料的厚單晶薄片放在兩電極之間，然后連接到放大器上，產(chǎn)生了隨溫度變化的電容器。