ebsd電子背散射衍射-預(yù)覽頁(yè)
【正文】 代 ，優(yōu)化算法＋攝像技術(shù)＋ 計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展 才催化出 EBSD技 術(shù)走向?qū)嵱没?pattern of calcite (Kikuchi, Japanese Journal of Physics, V, 2, 1928.) 39。P39。 1967年， Coates第一次報(bào)道 SEM下 觀察到的菊池花樣。 目 錄 Contents 晶體學(xué)基礎(chǔ) 極圖 極圖是表示某一取向晶粒的某一選定晶面｛ hkl｝在包含 樣品坐標(biāo)系方向 的極射赤面投影圖上的位置的圖形。 (CCD) 錄像相機(jī) 。而截取菊池帶的數(shù)量和寬度，與 熒光屏大小 和 熒光屏距樣品 (衍射源 )的 遠(yuǎn)近有關(guān) ? 熒光屏獲取的電子信號(hào)被后面的高靈敏度 CCD相機(jī) 采集轉(zhuǎn)換并顯示出來(lái)。 帶入典型的電子波長(zhǎng)算出 2θ很小 ， 兩個(gè)圓錐可以看為兩個(gè)圓盤 ， 屏幕與兩個(gè)圓盤交截時(shí)形成一對(duì)平行線 ， 稱 kikuchi line(菊池帶 )。因此菊池帶的位置可以用來(lái)計(jì)算 樣品上各點(diǎn)的晶體學(xué)取向。 電解拋光是靠 電化學(xué)的作用 使試樣的磨面平整、光潔，具有 操作簡(jiǎn)單 、 快速 、 低成本 等優(yōu)點(diǎn)。 目 錄 Contents EBSD的樣品制備 EBSD的樣品制備設(shè)備： 振動(dòng)拋光機(jī)（機(jī)械拋光） 電解拋光 離子刻蝕、拋光 目 錄 Contents EBSD實(shí)例分析 這些 EBSP花樣包含了那些信息？ 晶體結(jié)構(gòu)信息 —— 與能譜配合進(jìn)行 未知物相的鑒別 晶體取向及取向差 —— 晶體相對(duì)宏 觀樣品或臨近晶粒的取向 菊池花樣質(zhì)量 —— 反映了晶體應(yīng)變 的相對(duì)差異 目 錄 Contents EBSD實(shí)例分析 樣品傾轉(zhuǎn)角 對(duì) EBSP的影響 目 錄 Contents EBSD實(shí)例分析 由取向信息（歐拉角）衍生出來(lái)可以進(jìn)行的具體分析： ? 微觀組織結(jié)構(gòu) (取向成像 ) ? 取向差分析 ? 晶界特性分析 ? 晶粒尺寸分析 ? 織構(gòu)分析 ? … 目 錄 Contents EBSD實(shí)例分析 焊接區(qū)域的 EBSD相分析 目 錄 Contents EBSD實(shí)例分析 IF鋼的冷軋過(guò)程中織構(gòu)的控制 相鄰取向差分布基本接近完全再結(jié)晶的理想隨機(jī)取向差分布曲線，表明試樣完全
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1