局部放電試驗????-預覽頁
【正文】 ① 放電能量很小 ， 短時間內(nèi)存在不影響電氣設備的絕緣強度； ② 對絕緣的危害是逐漸加大的 ， 它的發(fā)展需要一定時間 累計效應 缺陷擴大 絕緣擊穿 。 不會造成絕緣損傷 。 ② 局部放電試驗電壓： 按相關規(guī)定施加的局部放電試驗電壓 ， 在此電壓下局部放電量不應超過規(guī)定的局部放電量值 。 （ 理論上比起始電 壓低一半 ， 但實際上要低很多 5%20%甚至更低 ） 二 、 局部放電機理： 內(nèi)部放電：絕緣材料中含有氣隙、油隙、雜質(zhì)等，在電場的作用下會出現(xiàn)介質(zhì)內(nèi)部或介質(zhì)與電極之間的放電。 ： 由于在套管法蘭 、 電纜終端及導體與介質(zhì)彎角處產(chǎn)生一平行表面的場強分量 ， 當場強較高時會產(chǎn)生表面放電 。 三 、 放電量與各參數(shù)間的關系 一個脈沖真實放電量 qr， Ug、 Ur等參數(shù)在實際試品中是不可知的 ， 同時絕緣缺陷各不相同 ， 故真實放電量是不可以直接測量的 。 超聲波局部放電測量特點： 1. 可以較準確的測定局部放電的位置 。 4. 測試靈敏度低 ， 不能直接定量 。 一 、 脈沖電流測量法儀器及接線 測量儀器主要有脈沖顯示儀和數(shù)字分析儀 。 靈敏度略低于直測法 。測量阻抗應具有阻止試驗電源頻率進入儀器的頻率響應。 RCL型應用普遍 。 如采用示波器觀察脈沖 ， 應先調(diào)節(jié)寬帶放大器的增益 ，得到一個高度為 L0mm的脈沖 ， 然后計算單位刻度的放電量q0/ L 0， 此時 L0= q0。 相對相：在電壓 Um放電量：在交接時不大于 20Pc。 試驗時一次 、 二次不應短路 ， 試驗應作兩次 ， AX對調(diào) ， 放電量取大的為最后結(jié)果 。 低壓施加 3相倍頻電源 。 第六節(jié) 局部放電波形圖譜識別 ： 單氣隙 多氣隙 ： ： ： 接觸不良 可控硅元件動作 磁飽和產(chǎn)生的諧振波形 調(diào)制或非調(diào)制的干擾波形 熒光燈產(chǎn)生的干擾 第七節(jié) 局部放電試驗應注意的事項： 1. 試驗程序： ① 試前準備：試品表面應清潔干燥 ， 其溫度和環(huán)境溫度一致 ， 試驗前試品不應受機械 、 熱和電的作用 。 ⑤ 試驗回路要緊湊 ， 試品遠離其他物體 。 ， 升壓到額定 ， 此時干擾主要來自升壓器及與高壓連接的各設備 。 。
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