局部放電試驗(yàn)????(文件)
【正文】 ④ 試品 、 測(cè)試設(shè)備可靠接地 ， 最好一點(diǎn)接地 ， 接地線盡量短 。 ② 識(shí)別： ， 不升壓儀器指示主要是電源干擾 。 ③ 抑制： ， 讀取放電脈沖 。 。 。 c. 測(cè)試回路不通電 ， 儀器指示主要是空間干擾信號(hào) 。 1. 干擾的來(lái)源 、 識(shí)別和抑制： ① 來(lái)源： ； b. 接地系統(tǒng)的干擾； 。 ② 校驗(yàn)測(cè)試回路的靈敏度 ， 應(yīng)不低于試品允許放電量的50%。 試驗(yàn)方法：測(cè)量 A相 ， B、 C分別接地 ， 其他兩相同理 。 采用直接加壓法 ， 如勵(lì)磁電流過(guò)大 ，應(yīng)采用 3倍頻電源 。 試驗(yàn)時(shí)一次 、 二次不應(yīng)短路 ， 試驗(yàn)應(yīng)作兩次 ， AX對(duì)調(diào) ， 放電量取大的為最后結(jié)果 。 試品冊(cè)得的視在放電量 q= （ L/ L0） 若放大器變檔則： q= （ L/ L0） 10(N1N2) 示波器讀數(shù) L:測(cè)量信號(hào)高度 ； L0： 校正信號(hào)高度 N1:測(cè)量檔位 N2:校正檔位 放電表讀數(shù)： q= （ x/x0） 10(N1N2 ） X: 測(cè)量信號(hào)讀數(shù)； x0： 校正信號(hào)讀數(shù) 一般放大器總增益 100dB， 分為 5個(gè)檔位 ， 每個(gè)檔位為 20dB, 放大器頻率范圍： 20200kHz 例：校正信號(hào)為 X= 100pC UN=10V Cq=10PF 調(diào)節(jié)放大器使讀數(shù)為 X0=100格 放大器檔位為 N2=3（ 此時(shí)放大器微調(diào)不能再動(dòng) ） 測(cè)量信號(hào)讀數(shù) X=50格 N1=3 則 q= 10 10（ 50/100） 10(33)=50 Pc 若 X=50格 N1=4 則 q= 10 10（ 50/100） 10(43)=500 pC 一 、 方波發(fā)生器及校正電容 Cq的選擇 方波的要求：上升時(shí)間不大于 校正電容 Cq的選擇 : Cq≤ 一般為 10 pC或 100 pC 第四節(jié) 互感器局部放電測(cè)量 ： Ck： 耦合電容器可選用 500 6000pF高壓電容 ， 本身局放 小于試品允許值的 50% 35Kv CT電容很小可采用串聯(lián) 法 ， 利用 T對(duì)地雜散電容作為 Ck， 不用 Z。 一 、 等效回路的校正：在試品兩端主入已知電荷量 ， 得到需要的視在放電量 ， 測(cè)量比較試品放電量之間的換算系數(shù) 。連接測(cè)量阻抗和測(cè)量?jī)x器中的放大單元的連線，通常為單屏蔽同軸電纜 。 儀器測(cè)得的信號(hào) Uf=UaUb
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