數(shù)控步進直流穩(wěn)壓電源的設(shè)計與制作_論文-預(yù)覽頁
【正文】 數(shù)控步進直流穩(wěn)壓電源系統(tǒng)組成框圖2. 單元電路設(shè)計 恒定電壓源電路設(shè)計 控制器電路設(shè)計 單片機最小系統(tǒng)設(shè)計通過鍵盤模塊輸入給定的電流值或是步進調(diào)整信號傳送給單片機，單片機在接受到信號后進行處理運算，并顯示其給定的電流值，然后經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換以輸出電壓，驅(qū)動恒流源電路實現(xiàn)電流輸出，并將采樣電阻上的電壓經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換輸入單片機系統(tǒng)，通過補償算法進行數(shù)值補償處理，調(diào)整電流輸出，并驅(qū)動顯示器顯示當(dāng)前的電流值。當(dāng)ILE為高電平、CS為低電平、WR1為輸入負脈沖時，在LE1產(chǎn)生正脈沖；LE1為高電平時，輸入鎖存器的狀態(tài)隨數(shù)據(jù)輸入線的狀態(tài)變化，LE1的負跳變將數(shù)據(jù)線上的信息鎖入輸入寄存器。當(dāng)XFER為低電平，WR2輸入負脈沖，則在LE2產(chǎn)生正脈沖；LE2為高電平時，DAC寄存器的輸出和輸入寄存器的狀態(tài)一致，LE2負跳變，輸入寄存器的內(nèi)容打入DAC寄存器。電流IOu T1與IOuT2的和為常數(shù)，IOuTIOuT1隨DAC寄存器的內(nèi)容線性變化。（2）A/D轉(zhuǎn)換器 在電路中，～，通過編程模擬ADC0832的通信時序?qū)崿F(xiàn)對ADC0832的操作，然后通過程序查詢該管腳是否為低電平，從而實現(xiàn)對ADC0832中寄存器數(shù)據(jù)的讀取。 RT19264D接口 穩(wěn)壓電源電路 在本設(shè)計中,運放需177。b 穩(wěn)壓電路：由于得到的輸出電壓U4受負載、輸入電 壓 和 溫度的影響不穩(wěn)定，為了得到更為穩(wěn)定電壓添加了穩(wěn)壓電路，從而得到穩(wěn)定的電壓U0。以下給出部分源程序：//本程序功能：用ADC0832測量電壓并顯示，并通過DAC0832輸出相同的電壓//include include include include define SEG_DP P0define SEG_WP P2define DA_DP P3sbit ADCS = P1^0。sbit ADF1 = P1^3。//按鍵減 sbit DAILE = P2^4。unsigned char code Tab[]={0xC0,0xF9,0xA4,0xB0,0x99,0x92,0x82,0xF8,0x80,0x90,0xC1}。i0。 qian = dat/1000%10。 SEG_WP = SEG_WPamp。 SEG_WP = SEG_WPamp。//千位加小數(shù)點 Delay1mS(10)。 Delay1mS(10)。 Delay1mS(10)。//拉低CS端 _nop_()。//拉高CLK端 _nop_()。 _nop_()。//拉高CLK端 _nop_()。 _nop_()。 _nop_()。 //下面開始讀取轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)，從最高位開始依次輸出（D7~D0） for(i = 0。//拉高時鐘端 _nop_()。 _nop_()。 //下面開始繼續(xù)讀取反序的數(shù)據(jù)（從D1到D7） for(i = 0。//拉高時鐘端 _nop_()。 _nop_()。//拉低CLK端 ADDI = 1。 DAWR1 = 0。}main(){ unsigned int adc。 } if (adc15000) { adc1=adc1+200。 } } } adc = ADC0832(1,0)。 } }4. 系統(tǒng)測試 測試使用的儀器 測試使用的儀器設(shè)備序號名稱數(shù)量備注1直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源12數(shù)字萬用表131/2位3數(shù)字萬用表141/2位4數(shù)字萬用表15位 指標(biāo)測試和測試結(jié)果測試條件：空載按“＋”鍵電壓應(yīng)可調(diào)至+12V，按“－”。 電流顯示準(zhǔn)確性測試測試條件：輸出電壓為10V調(diào)節(jié)負載大小，、1A時，測量電流顯示值與實際值的差異。 紋波電壓測試測試條件：輸出電壓為10V，輸出電流為500mA用示波器測試負載兩端交流信號的最大幅度。由于時間關(guān)系，該系統(tǒng)還有許多值得改進的地方
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