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【正文】 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差圖 子組樣本 9 中位數(shù) 全距圖 子組樣本不能方便計算 單值 全距移動圖 子組樣本 =1 分析數(shù)據(jù)分佈狀態(tài) 直方圖 直方圖 與公差界限比較分析 比較過程與規(guī)格間關(guān)係 標(biāo)準(zhǔn)差分析圖 分佈圖 規(guī)格分析、過程分析 過程能力指數(shù)分析 Cpk推移圖 管制圖 時間爲(wèi)序 Cpk走勢 Cpk一覽表 報表 多産品多特性 Cpk分析 Cpk綜合建議 分佈圖 提供合理的品質(zhì)指標(biāo) 分析兩特性之間關(guān)係 散佈圖 散佈圖 正相關(guān) /負(fù)相關(guān) /不相關(guān) 多産品多特性同步分析 多品質(zhì)通用圖 管制圖 平均值分析、單值分析 Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without permission 41 管制界限的靈活計算 ? 通過 [貨品資料 ]之管制界限增加 ? 通過 [圖形分析 ]之管制界限設(shè)定 如此，就可以使用 [制程用管制圖 ]分析異常。 ? 樣本觀測值解答 : (請計算至小數(shù)第 3位并附上計算過程 )算出 ca,cp,cpk,ppk并畫出 ? 平均值管制圖和極差管制圖 Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without permission 44 組數(shù) 測量值 1 20 23 20 23 22 2 19 17 21 21 21 3 25 20 20 17 20 4 20 21 22 21 21 5 19 24 23 20 20 6 22 20 18 18 19 7 18 20 19 18 20 8 20 18 23 20 21 9 21 20 24 23 22 10 21 19 20 20 20 11 20 20 23 22 20 12 22 21 20 22 23 13 19 22 19 18 19 14 20 21 22 21 22 15 20 24 24 23 23 16 21 20 24 20 21 17 20 18 18 20 20 18 20 24 22 23 23 19 20 19 23 20 19 20 22 21 21 24 22 21 23 22 22 20 22 22 21 18 18 17 19 23 21 24 24 23 23 24 20 22 21 21 20 25 19 20 21 21 22 Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without permission 45 THE END THANK YOU Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without permission 46 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without permission 42 品質(zhì)改善 1. 資料明細(xì)：追蹤數(shù)據(jù)，了解情況 2. 過程記錄：在檢驗作業(yè)時發(fā)現(xiàn)異常之記錄 3. 異常報告：做異常記錄，列印異常報告 4. 因果圖分析：異常原因分析 5. 行動計劃： 6. 異常描述 7. 異常分析 8. 改善部門 9. 改善反饋 10. 效果評估 Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without permission 43 XbarR管制圖之例題 【例】：生產(chǎn)線圈之製程是以 XbarR管制圖監(jiān)視 型號為 APLUST168的線圈之電阻值，樣本大小採用 n=5， ? 25組樣本資料如下表所示。中位數(shù)管制圖的管制界限 會較平均數(shù)管制圖的管制界限爲(wèi)寬，此也意味 著 其檢出力較差。 單位缺點數(shù)管制圖：其適用的制程及管制對象與缺點數(shù)管制圖相同， 但用於檢查單位（樣本大?。┎煌玳L度、面 積、寬度等不同時，須計算每單位平均缺點數(shù)時。缺點數(shù)管制之對象是該制 品雖有缺點，但缺點數(shù)之多少只會影響到品質(zhì)的高低， 而不致使制品成爲(wèi)廢品。 因爲(wèi)組內(nèi)變異太大使得組間變異不顯著，而組內(nèi)變異 較小使得組間變異很顯著。 σ6LSLUSLC P??(雙邊規(guī)格 ) a Cp製造潛力 (Cp Process potential) 等級 Cp值 A B C D E ≦ Cp ≦ Cp ≦ Cp ≦ Cp Cp Aplus puter consulting corp. Prepared by John copy without
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