spc訓(xùn)練教材-全文預(yù)覽
【正文】 __X(USL+LSL)/2 Cpk=Cp (1Ca) 2/2/)(2/)(2/)(TLSLUSLXLSLUSLLSLUSLXCa ???????ss 66TLSLUSLCp ???掌控圖 現(xiàn)代 SPC十分重視製程能力的提升以及維持，惟有上述的管制圖 不易實(shí)現(xiàn)此目的，而且管制的運(yùn)用也很複雜。若製程在管制內(nèi)，則幾乎所有樣本點(diǎn)將落於管制上下界限內(nèi)。 若製程穩(wěn)定，可透過(guò)製程能力分析、改善措施與標(biāo)準(zhǔn)化，以不斷提升製程能力。 若製程異常，可經(jīng)由問(wèn)題分析以找出異常原因，並立即採(cǎi)取改善措施與標(biāo)準(zhǔn)化，使製程恢復(fù)正常。此圖同時(shí)包合兩條水平線，稱為管制上限 (Upper Control Limit, UCL)及管制下限 (Lower Control Limit, LCL)。 管制圖的功用 ? 設(shè) 計(jì) ? 製 造 ? 檢 驗(yàn) 管制圖的原理 機(jī)遇原因 非機(jī)遇原因 原因分類 出現(xiàn)次數(shù) 影響 結(jié)論機(jī)遇 大量之微小原因所引起 , 次數(shù)少 , 微小 不值得調(diào)查較為代表性之機(jī)遇原因1. 原料之微小變異2. 機(jī)械之微小震動(dòng)3. 儀器測(cè)量之微小變異非機(jī)遇 一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起 , 顯著 需徹底調(diào)查次數(shù)甚少 , 較為代表性之機(jī)遇原因1. 原料不良2. 機(jī)械調(diào)整不當(dāng)3. 新手操作管制圖的分析與研判 “ 在控 ”意義 * 長(zhǎng)時(shí)一致 * 對(duì)均值一致 * 對(duì)散度一致 * 對(duì)劣率一致 * 對(duì)疵數(shù)一致 * 變異都在預(yù)期界限內(nèi) “ 脫控 ”意義 * 界外落點(diǎn) * 點(diǎn)型非隨機(jī) Shewhart管制圖 : 最近之一點(diǎn)是否落在管制界限內(nèi) 區(qū)間測(cè)試 (Zone test) : Western Electric 1958 1. 一點(diǎn)落在 A區(qū)以外 2. 連續(xù)三點(diǎn)有二點(diǎn)落在 A區(qū) 3. 連續(xù)五點(diǎn)有四點(diǎn)落在 B區(qū) 4. 連續(xù)八點(diǎn)在管制中心線之同一側(cè) 連串測(cè)試 (Run test) : Grant Leavenworth 1988 1. 連續(xù)七點(diǎn)在管制中心線之同一側(cè) 2. 連續(xù)十一點(diǎn)有十點(diǎn)在管制中心線之同一側(cè) 3. 連續(xù)十四點(diǎn)有十二點(diǎn)在管制中心線之同一側(cè) 連串測(cè)
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