spc緒論與控制圖原理-全文預(yù)覽
【正文】 ））（均值） 的控制限的控制限UCL = x + A2RCL = xLCL = x A2RR(極差）的控制限UCL = D4RCL = RLCL = D3 R 第二章 控制圖原理（十一）? X bar R控制圖的操作步驟? a、 確定對(duì)象、抽取數(shù)據(jù)? b、 合理分組? c、 計(jì)算 xi、 Ri? d、 計(jì)算 x、 R? e、 計(jì)算 R圖的控制線、 x圖的控制線? f、 將數(shù)據(jù)在圖中打點(diǎn)并作圖。準(zhǔn)。 ? 第二種解釋：第二種解釋： “要抱西瓜，不要抓芝麻要抱西瓜，不要抓芝麻 ” 質(zhì)量波動(dòng)的原因 = 必然因素 + 偶然因素（異常因素）– 必然因素 —— 始終存在，對(duì)質(zhì)量影響微小，難以消除，是不可避免的；– 偶然因素 —— 有時(shí)存在，對(duì)質(zhì)量影響很大，不難消除，是可以避免的。 +3?? 中心線： CL= 181。 ? 3?， 181。 與 ?取值如何，產(chǎn)品質(zhì)量特性落在 [181。 (mu) 位置參數(shù)和 平均值（ mean value) ，表示 分布的中心位置和期望值– ? (sigma) 尺度參數(shù)， 表示 分布的分散程度和標(biāo)準(zhǔn)偏差 （ standard deviation),? 兩個(gè)參數(shù)的意義– 181。 fN (x。? 控制圖的組成– UCL(Upper Control Limit) 上控制限– LCL(Lower Control Limit) 下控制限– CL (Central Line)中心線– 按時(shí)間順序抽取的樣品統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列 第二章 控制圖原理（二）統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn) 現(xiàn)代質(zhì)量管理的基本觀點(diǎn)之一? 產(chǎn)品質(zhì)量具有變異性 “人、機(jī)、料、法、環(huán) ” + “軟（件）、輔（助材料）、（水、電、汽）公（用設(shè)施） ”? 變異具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性 隨機(jī)現(xiàn)象 ?統(tǒng)計(jì)規(guī)律 隨機(jī)現(xiàn)象：在一定條件下時(shí)間可能發(fā)生也可能不發(fā)生的現(xiàn)象 。– 如電子產(chǎn)品的不合格品率由過去的百分之一、千分之一、降低到百萬分之一（ ppm, parts per million),乃至十億分之一（ ppb, parts per billion)。 SPC的作用? 預(yù)防 ： 判斷過程的異常，及時(shí)告警。? 統(tǒng)計(jì)技術(shù) 數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法 。第一章第一章 SPC 與與 SPCD工程緒論工程緒論 (三三））為 什么要學(xué)習(xí)什么要學(xué)習(xí) SPC和和 SPCD工程（一）工程（一） ?? 時(shí)代的需要 ： 21世紀(jì)是質(zhì)量的世紀(jì)，提出超嚴(yán)質(zhì)量要求，是世界發(fā)展的大方向。– 3?控制方式下的穩(wěn)態(tài)不合格品率為 X 103, – 6?控制方式下的穩(wěn)態(tài)不合格品率為 X 109– 后者比前者降低了： X 103 / X 109= X106 即一百三十五萬倍 !第一章第一章 SPC 與與 SPCD工程緒論工程緒論 (四四））為 什么要學(xué)習(xí)什么要學(xué)習(xí) SPC和和 SPCD工程（二）工程（二） ?? 3?控制方式與 6?控制方式的比較：第一章第一章 SPC 與與 SPCD工程
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