【正文】 圖控制限 UCL =X+E MR X 2 常數(shù) 單值圖控制 上限 單值圖控制下限 LCL =XE MR X 2 S P C . 計算極差圖控制限 移動極差圖控制上限 移動極差圖控制下限 常數(shù) 常數(shù) UCL = D MR 4 MR UCL = D MR 3 MR S P C . XMR圖常數(shù)表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 E2 備注：樣本容量 小于 7時，沒有極差的控制下限。 S P C . 現(xiàn)有過程發(fā)生失控，經(jīng)過改善過程重新受控后： 現(xiàn)有過程失控，再改善完成后過程均值及分布均與改善前出現(xiàn)差別，舊有規(guī)格已不再適用，需重新計算控制規(guī)格。 S P C . 計數(shù)值控制圖種類 控制圖種類 用途 P圖 用以監(jiān)視過程不良品的比率 P 圖 用以監(jiān)視過程不良品的數(shù)目 U圖 用以監(jiān)視每個單位產(chǎn)品的平均缺陷數(shù) C圖 用以監(jiān)視過程缺陷的數(shù)目 n S P C . PChart 不合格率圖 (計數(shù)型 ) S P C . P np n 不合格品率 不合格品數(shù) 被檢項目的數(shù)量 S P C . 計算過程平均不合格品率 P np1+ np2 +np3+…… + np K n1+ n2+ …… + nK 多個子組不合格品率總和 多個子組數(shù)總和 S P C . UCL P+3 P (1P) n P3 P (1P) n LCL 樣本均值 控制上限 控制下限 S P C . S P C . 課 后 練 習(xí) 根據(jù)下列數(shù)據(jù) ,作出 P圖 S P C . 分析 P 控制圖 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制上限 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制下限 S P C . 數(shù)據(jù)點超出 P 控制圖上下限的可能原因 : 控制界限計算錯誤 描點錯誤 測量系統(tǒng)變化 過程不合格率上升 上述原因中，只有最后原因是與過程能力相關(guān)的變化特殊原因 ,其余均為人為錯誤造成 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 連續(xù)七點上升 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 連續(xù)七點下降 S P C . 數(shù)據(jù)點連續(xù)上升或下降的原因可能有 : 測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化 過程性能已發(fā)生變化 S P C . 控制界限的更換篇 P Chart S P C . 控制界限建立以后并非一成不變，而根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時，需重新計算控制界限。 S P C . 當(dāng)子組容量發(fā)生變化時： 抽樣頻率與過程特殊原因出現(xiàn)的頻率有關(guān)，特殊原因出現(xiàn)的頻率越高，抽樣頻率需相應(yīng)增加，此時，應(yīng)重新調(diào)整控制界限。 S P C . 過程流程發(fā)生變化時： 如增加或減少某個工序，改變了某個工序的作業(yè)方法或作業(yè)步驟，這可能導(dǎo)致過程位置和分布發(fā)生變化，這種變化可能使有控制規(guī)格不再適用。 ，變差越有機(jī)會出現(xiàn)。 注：一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。大約 %的值將落在平均值處正負(fù)三個標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi) . S P C . LSL USL 合格品 缺陷品 缺陷品 我們將正態(tài)曲線和橫軸之間的面積看作 1,可以計算出上下規(guī)格界限之外的面積 ,該面積就是出現(xiàn)缺陷的概率 ,如下圖 : S P C . 0 . 1 3 5 % 2 . 1 4 5 % 1 3 . 5 9 0 % 3 4 . 1 3 0 % 3 4 . 1 3 0 % 1 3 . 5 9 0 % 2 . 1 4 5 % 0 . 1 3 5 %4 3 2 1 0 1 2 3 46 8 . 2 6 %9 5 . 4 4 %9 9 . 7 3 %標(biāo)準(zhǔn)的正態(tài)分布 S P C . 規(guī)格范圍 合格概率 缺陷概率 +/1 % % +/2 % % +/3 % % +/4 % % +/5 % % +/6 % % σ σ σ σ σ σ 下表為不同的標(biāo)準(zhǔn)差值對應(yīng)的合格概率和缺陷概率 : S P C . 如何計算正態(tài)分布和“ 工序西格瑪 Z” ? S P C . USL μ σ USL Z 規(guī)格上限的工序西格瑪值 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差 過程能力的計算 S P C . LSL μ σ LSL Z 規(guī)格下限的工序西格瑪值 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差 過程能力的計算 S P C . 從上述公式可看出 ,工序西格瑪值是平均值與規(guī)格上下限之間包括的標(biāo)準(zhǔn)差的數(shù)量 ,表示如下圖 : LSL USL 1σ 1σ 1σ μ S P C . 通過計算出的 Z值 ,查正態(tài)分布表 ,即得到對應(yīng)的缺陷概率 . 練 習(xí) 某公司加工了一批零件 ,其規(guī)格為 50+/ mm,某小組測量了 50 個部品，計算出該尺寸的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差 X= ， S= ，分別計算 ZUSL ， ZLSL ，并求出相應(yīng)的缺陷概率。 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 上、下控制線 控制圖上的一條線，代表按照所給 數(shù)據(jù)所計算出的制程管制區(qū)間 ，用 UCL、 LCL來表示。樣本平均值 ,是用 x 表示 極差（ Range） 一個子組、樣本或