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第八章光刻與刻蝕工藝-全文預(yù)覽

2025-02-02 05:40 上一頁面

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【正文】 F* BCl3 RF BCl3* 、 BCl2* 、 Cl*。 HF:NH4F: H2O=3ml:6g:10ml (HF溶液濃度為 48% )n HF :腐蝕劑,216。移相掩模( PSM) 掩模版(光刻版) Mask基本概念n 刻蝕:從 Si片表面去除不需要的材料,如 Si、 SiO2, 金屬、光刻膠等n 化學(xué)、物理過程或兩者結(jié)合:濕法和干法n 各向同性與各向異性:選擇性或覆蓋刻蝕n 選擇性刻蝕轉(zhuǎn)移光刻膠上的 IC設(shè)計(jì)圖形到晶圓表面n 其它應(yīng)用 : 制造掩膜 , 印制電路板 , 藝術(shù)品 , 等等 刻蝕工藝 Etch1)柵掩膜對(duì)準(zhǔn) Gate Mask Alignment2)柵掩膜曝光 Gate Mask Exposure3)顯影 /堅(jiān)膜 /檢查 Development/HardBake/Inspection4)刻蝕多晶硅 Etch Polysilicon刻蝕工藝舉例5)刻蝕多晶 Etch Polysilicon6)光刻膠剝離 Strip Photoresist7)離子注入 Ion Implantation8)快速退火 RTA刻蝕工藝舉例 濕法刻蝕n 特點(diǎn): 各相同性腐蝕 。 要求:透光度高,熱膨脹系數(shù)與掩膜材料匹配。 曝光方式分步重復(fù)投影光刻機(jī) Steppern 采用折射式光學(xué)系統(tǒng)和 4X~5X的縮小透鏡。 接近式曝光 曝光方式n 利用光學(xué)系統(tǒng),將光刻版的圖形 投影在硅片上。n 缺點(diǎn):對(duì)準(zhǔn)困難, 掩膜圖形易損傷, 成品率低。秒); n比例系數(shù);n 光敏度 S是光刻膠對(duì)光的敏感程度的表征;n 正膠的 S大于負(fù)膠光刻膠光敏度 S 光刻膠 Photoresist(PR)光刻膠抗蝕能力n 表征光刻膠耐酸堿(或等離子體)腐蝕的程度。 光學(xué)凸鏡能夠收集衍射光并增強(qiáng)圖像 分辨率1)數(shù)值孔徑 NA ( Numerical Aperture)n NA:表示凸鏡收集衍射光的能力n NA = 2 r0 / D – r0 : 凸鏡的半徑 – D : 目標(biāo)(掩膜)與凸鏡的距離 NA越大,凸鏡收集更多的衍射光,產(chǎn)生更尖銳的圖形n 可產(chǎn)生、可重復(fù)的最小特征尺寸n 由曝光系統(tǒng)的光波長(zhǎng)和數(shù)值孔徑?jīng)Q定n 分辨率表達(dá)式: R=K1λ/ NAn K1 為系統(tǒng)常數(shù) , λ 光波長(zhǎng) , NA 數(shù)值孔徑。表 1 影響光刻工藝效果的一些參數(shù) 分辨率 R的限制n 設(shè)一任意粒子(光子、電子),根據(jù)不確定關(guān)系,有 ΔLΔp ≥hn 粒子束動(dòng)量的最大變化為 Δp =2p,相應(yīng)地n 若 ΔL 為線寬,即為最細(xì)線寬,則n 最高分辨率 分辨率 ① 對(duì)光子: p=h/λ ,故 。 光刻工藝流程 分辨率n 分辨率 R- 表征光刻精度,光刻時(shí)所能得到的光刻圖形的最小尺寸。n 過堅(jiān)膜:光刻膠流動(dòng)造成分辨率變差,易翹曲和剝落n 若 T300℃ :光刻膠分解,失去抗蝕能力。 例, KPR(負(fù)膠)的顯影液:丁酮-最理想; 甲苯-圖形清晰度稍差; 三氯乙烯-毒性大。;n 優(yōu)點(diǎn):分辨率高;不需光刻版(直寫式);n 缺點(diǎn):產(chǎn)量低(適于制備光刻版);X射線曝光: λ = 240197。n 烘焙溫度過高-感光劑反應(yīng)(膠膜硬化),不易溶于顯影液,導(dǎo)致顯影不干凈。n RCA標(biāo)準(zhǔn)清洗 光刻工藝流程光刻 3-涂膠 Spin Coatingn 圓片放置在涂膠機(jī)的真空卡盤上n 高速旋轉(zhuǎn)n 液態(tài)光刻膠滴在圓片中心n 光刻膠以離心力向外擴(kuò)展n 均勻涂覆在圓片表面EBR: Edge bead removal邊緣修復(fù)① 要求:粘附良好,均勻,薄厚適當(dāng)n 膠膜太?。樋锥?,抗蝕性差;n 膠膜太厚-分辨率低(分辨率是膜厚的 5- 8倍)② 涂膠方法:浸涂,噴涂, 旋涂 √旋轉(zhuǎn)涂膠 Spin Coating 光刻工藝流程光刻膠厚度與旋轉(zhuǎn)速率和粘性的關(guān)系n 與涂膠旋轉(zhuǎn)速率成反比n 與光刻膠粘性成正比光刻 4-前烘 Soft BakeBaking Systems① 作用:促進(jìn)膠膜內(nèi)溶劑充分揮發(fā),使膠膜干燥;增加膠膜與 SiO2 ( Al膜等)的粘附性及耐磨性。曝光252。? 曝光 Exposure216。集成電路制造技術(shù)第八章 光刻與刻蝕工藝西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院戴顯英2023年 9月主要內(nèi)容n 光刻
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